半导体结构制造技术

技术编号:9991973 阅读:124 留言:0更新日期:2014-05-02 07:24
本发明专利技术提供一种半导体结构,包括承载盘、芯片、第一接地焊线及第二接地焊线。承载盘具有第一表面及第二表面,第一表面与第二表面具有高度差。芯片设于承载盘的第一表面且具有一有源面。第一接地焊线连接有源面与第二表面。第二接地焊线连接第一表面与第二表面。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供一种半导体结构,包括承载盘、芯片、第一接地焊线及第二接地焊线。承载盘具有第一表面及第二表面,第一表面与第二表面具有高度差。芯片设于承载盘的第一表面且具有一有源面。第一接地焊线连接有源面与第二表面。第二接地焊线连接第一表面与第二表面。【专利说明】半导体结构
本专利技术是有关于一种半导体结构,且特别是有关于一种具有接地焊线的半导体结构。
技术介绍
受到提升工艺速度及尺寸缩小化的需求,半导体元件变得甚复杂。当工艺速度的提升及小尺寸的效益明显增加时,半导体元件的特性也出现问题。特别是指,较高的工作时脉(clock speed)在信号电位(signal level)之间导致更频繁的转态(transition),因而导致在高频下或短波下的较高强度的电磁放射(electromagnetic emission)。电磁放射可以从半导体元件及邻近的半导体元件开始辐射。假如邻近的半导体元件的电磁放射的强度较高,此电磁放射是负面地影响半导体元件的运作。因此,如何降低电磁放射对半导体元件的影响是本
业者努力方向之一。
技术实现思路
本专利技术是有关于一种半导体封装件本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张何伟
申请(专利权)人:扬智科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1