晶片封装模具制造技术

技术编号:6817747 阅读:272 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种晶片封装模具,它包括上模板、凹设于上模板一表面的上模穴;下模板、凹设于下模板一表面且与上模穴的形状相匹配的下模穴;以及设于上模穴一角缘处且与上模穴相导通的上注塑流道,设于下模穴一角缘处且与下模穴相导通的下注塑流道,上、下注塑流道相互对应,上模穴与下模穴至少一模穴的至少一个角缘处凹设有一除泡元件。本实用新型专利技术晶片封装模具通过除泡元件中的导气槽的设置可将残留于模穴中的空气在导入热塑料后完全的被挤入导气槽所形成的气槽道中,解决了传统封装模具在模造成型中容易形成气洞或包封的产品硬质保护层易脆化,降低了产品的寿命问题。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种封装模具、尤其是涉及一种晶片封装模具
技术介绍
现阶段的封装技术多数以模造成型的方式完成晶片、记忆卡的前端封装作业,所使用的模具包括有上模板、下模板,上模板的一表面以及下模板的一表面均凹设有一相对应的模穴,在每个模穴的一角缘处设有一个与模穴相导通的注塑流道,可供塑料流入,至于剩余的每个角缘处都设有一个短小的与所述模穴相导通的气槽,当上、下模穴中间部位放置有晶片后,合上上、下模板,模穴相对应的形成一个容置腔,则将塑料从注塑流道中导入容置腔内,将晶片包覆于中央并在塑料固化后,形成在晶片外围的硬质保护层,但是在生产的过程中容易产生以下两个问题第一,在容置腔内的空气未被挤送到三个小气槽内时就完成了模造成型,塑料固化后的包覆于晶片外围的硬质保护层中会含有气洞;第二,由于在制造模具中,会有误差导致两个模穴的容积不同,则容积小的模穴较容积大的模穴先注入满塑料,由于容积大的模穴还未填满则会导致将空气包覆于其中,以上两种情况均会产生气洞或包封的产品硬质保护层易脆化,降低了产品的寿命。
技术实现思路
为克服上述缺点,本技术的目的在于提供一种在模造成型的过程中可避免气洞产生从而提高了产品寿本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种晶片封装模具,它包括:上模板(10)、凹设于所述上模板(10)一表面的上模穴(11);下模板(20)、凹设于所述下模板(20)一表面且与所述上模穴(11)的形状相匹配的下模穴(21);以及设于所述上模穴(11)一角缘处且与所述上模穴(11)相导通的上注塑流道(12),设于所述下模穴(21)一角缘处且与所述下模穴(21)相导通的下注塑流道(22),所述上、下注塑流道(12、22)相互对应,其特征在于:所述上模穴(11)与下模穴(21)至少一模穴的至少一个角缘处凹设有一除泡元件(30)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:钟旭光
申请(专利权)人:单井精密工业昆山有限公司
类型:实用新型
国别省市:32

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