用于诊断集成电路的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了用于诊断集成电路中的故障的系统和方法。在一个实施例中，该装置包括与缓冲器链串联连接的诊断单元。诊断单元包括多个逻辑运算器，当被激活时，使从缓冲器链接收的信号反相。使来自缓冲器链的信号的反相允许诊断单元通过用于测试方法的扫描链设计预先确定包含故障来确定集成电路中的故障的位置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术整体涉及一种用于集成电路故障分析的系统和方法，尤其涉及一种用于定位已经通过扫描链测试识别的集成电路中的故障的系统和方法。
技术介绍
现代电路设计在生产完成时结合能够测试集成电路(IC)的方法和硬件。电路设计者称之为面向测试的设计(DFT)或者可测试性设计。当完成IC产品时，IC测试者利用DFT设计处理中包括的方法和硬件应用制造测试。如此，IC测试者验证IC硬件不包括可以防止IC发挥应有作用的缺陷。一种DFT技术利用扫描链。扫描链提供了设置和观察IC中每个触发器的简单方法。为了利用扫描链，设计者增加了被称为扫描使能的特殊信号到IC设计中。当测试处理使扫描使能信号起作用时，设计中的每个触发器都连接至长移位寄存器或者扫描链。一个输入管脚提供到该扫描链的数据，并且一个输出管脚连接至扫描链的输出。使用芯片的时钟信号，预定图案进入触发器链，并且当完成测试时，测试模块读出每个触发器的状态。进入扫描链的图案被称为测试图案。测试完成时的每个触发器的状态通常被称为测试的结果或所得图案。测试系统将从输出管脚移出的结果与理想的“好机器”结果进行比较。好机器结果为当IC正确执行时预期的比特图案(b本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于诊断集成电路的方法，包括：使用扫描链测试图案测试所述集成电路；如果所述测试表明所述集成电路不像设计的那样执行，则激活所述集成电路内的一个或多个位置处的一个或多个诊断单元；使用所述扫描链测试图案重新测试所述集成电路，所述一个或多个诊断单元使所述集成电路中的操作信号选择性地反相；以及基于所述集成电路的重新测试识别所述一个或多个位置中的第一位置处的操作状态。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：唐健霖，张简维平，刘钦洲，
申请(专利权)人：台湾积体电路制造股份有限公司，
类型：发明
国别省市：