JTAG测试链路及其超声诊断仪制造技术

本发明专利技术公开一种JTAG测试链路，包括局部板卡测试接口和整机测试接口，其特征在于，还包括多路输入选择开关和多路输出选择开关；所述局部板卡测试接口中信号输入接口连接至多路输入选择开关中的高电位端；所述局部板卡测试接口中的信号输出接口连接至多路输出选择开关中的高电位端；所述整机测试接口中信号输入接口连接至多路输入选择开关中的低电位端；所述整机测试接口中的信号输出接口连接至多路输出选择开关中的低电位端。所述多路输入选择开关和多路输出选择开关同时选择高电位端或同时选择低电位端。上述JTAG测试链路能够避免同时接入局部板卡测试信号和整机测试信号。

【技术实现步骤摘要】
JTAG测试链路及其超声诊断仪
本专利技术涉及JTAG(Joint Test Action Group,联合测试行为组织)测试,尤其是涉及一种JTAG测试链路及其超声诊断仪。
技术介绍
在产品开发的各个阶段，如果都能便利的通过JTAG端口，对器件进行测试和功能调试，会极大的提高开发效率和开发质量。因此，超声诊断仪中，在板卡上除了连接JTAG线缆的连接器，也会通过背板连接器，将整机系统的JTAG链路，也连接到板卡上，这样无论是局部板卡调试阶段，还是板卡装入超声诊断仪的整机机箱后(整机JTAG链路的接口会弓I出机箱)，都可以方便的使用JTAG工具。传统的板卡上的局部板卡JTAG链路和整机系统JTAG链路，是将信号直接连接在一起，如图1所示。将局部板卡JTAG和整机系统JTAG信号直接连接在一起，这种情况下，只能存在一个驱动源，如果在使用整机系统的JTAG链路时，不慎也连接了局部板卡JTAG的线缆，那器件和JTAG接口电路都存在损坏的风险。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种能够避免同时接入局部板卡测试信号和整机测试信号的JTAG测试链路。一种JTAG测试链路，包括局部板卡测试接口和整机测试接口，其特征在于，还包括多路输入选择开关和多路输出选择开关；所述局部板卡测试接口中的局部板卡测试数据输入线接口、局部板卡测试时钟输入接口以及局部板卡测试模式选择输入接口连接至多路输入选择开关中的高电位端； 所述局部板卡测试接口中的局部板卡测试数据输出线接口连接至多路输出选择开关中的高电位端；所述整机测试接口中的整机测试数据输入线接口、整机测试时钟输入接口以及整机测试模式选择输入接口连接至多路输入选择开关中的低电位端；所述整机测试接口中的整机测试数据输出线接口连接至多路输出选择开关中的低电位端；所述多路输入选择开关和多路输出选择开关包括电位控制端，当所述多路输入选择开关和多路输出选择开关的电位控制端为高电位时，所述局部板卡测试接口通过多路输入选择开关和多路输出选择开关分别输入和输出；当所述多路输入选择开关和多路输出选择开关的电位控制端为低电位时，所述整机测试接口通过多路输入选择开关和多路输出选择开关分别输入和输出。优选地，所述局部板卡测试接口还包括电位选择接口，所述电位选择接口连接至所述多路输入选择开关和多路输出选择开关的电位控制端；所述JTAG测试链路还包括JTAG测试插头，所述JTAG测试插头具有与所述局部板卡测试接口对应的测试端子，其中与所述电位选择接口对应的测试端子连接到高电位。优选地，所述局部板卡测试接口还包括高电位接口，所述高电位接口连接到供电电源，所述电位选择接口连接至所述多路输入选择开关和多路输出选择开关的电位控制端，并且通过电阻接地；所述JTAG测试链路还包括JTAG测试插头，所述JTAG测试插头具有与所述局部板卡测试接口对应的测试端子，其中与所述高电位接口对应的测试端子和与所述电位选择接口对应的测试端子短接。优选地，所述局部板卡测试接口还包括接地接口，所述接地接口连接到地，所述电位选择接口通过反相器连接到所述多路输入选择开关和多路输出选择开关的电位控制端，并且在所述反相器和所述电位选择接口之间通过电阻连接到供电电源；所述JTAG测试插头具有与所述局部板卡测试接口对应的测试端子，其中与所述接地接口对应的测试端子和与所述电位选择接口对应的测试端子短接。一种JTAG测试链路，包括局部板卡测试接口和整机测试接口，还包括多路输入选择开关和多路输出选择开关；所述局部板卡测试接口中的局部板卡测试数据输入线接口、局部板卡测试时钟输入接口以及局部板卡测试模式选择输入接口连接至多路输入选择开关中的低电位端；所述局部板卡测试接口中的局部板卡测试数据输出线接口连接至多路输出选择开关中的低电位端；所述整机测试接口中的整机测试数据输入线接口、整机测试时钟输入接口以及整机测试模式选择输入接口连接至多路输入选择开关中的高电位端；所述整机测试接口中的整机测试数据输出线接口连接至多路输出选择开关中的高电位端；所述多路输入选择开关和多路输出选择开关包括电位控制端，当所述多路输入选择开关和多路输出选择开关的电位控制端为低电位时，所述局部板卡测试接口通过多路输入选择开关和多路输出选择开关分别输入和输出；当所述多路输入选择开关和多路输出选择开关的电位控制端为高电位时，所述整机测试接口通过多路输入选择开关和多路输出选择开关分别输入和输出。优选地，所述局部板卡测试接口还包括电位选择接口，所述电位选择接口连接至所述多路输入选择开关和多路输出选择开关的电位控制端；所述JTAG测试链路还包括JTAG测试插头，所述JTAG测试插头具有与所述局部板卡测试接口对应的测试端子，其中与所述电位选择接口对应的测试端子连接到低电位。 优选地，所述局部板卡测试接口还包括高电位接口，所述高电位接口连接到供电电源，所述电位选择接口通过反相器连接至所述多路输入选择开关和多路输出选择开关的电位控制端，并且在所述反相器与所述电位选择接口之间通过电阻接地；所述JTAG测试链路还包括JTAG测试插头，所述JTAG测试插头具有与所述局部板卡测试接口对应的测试端子，其中与所述高电位接口对应的测试端子和与所述电位选择接口对应的测试端子短接。优选地，所述局部板卡测试接口还包括局部板卡测试复位输入线接口，所述整机测试接口还包括整机测试复位输入线接口，所述局部板卡测试复位输入线接口和整机测试复位输入线接口分别连接至所述多路输入选择开关的低电位端和高电位端。优选地，所述局部板卡测试接口还包括接地接口，所述接地接口连接到地，所述电位选择接口连接至所述多路输入选择开关和多路输出选择开关的电位控制端，并且通过电阻连接到供电电源；所述JTAG测试插头具有与所述局部板卡测试接口对应的测试端子，其中与所述接地接口对应的测试端子和与所述电位选择接口对应的测试端子短接。一种超声诊断仪，包括上述的JTAG测试链路。由于多路输入选择开关和多路输出选择开关每次只能处于一种状态，因此每次只能引入一种测试信号，要么是局部板卡测试信号，要么是整机测试信号，能够避免同时接入局部板卡测试信号和整机测试信号。进一步地，在局部板卡测试接口上面设有连接到多路输入选择开关和多路输出选择开关的电位控制端的电位选择接口，且在JTAG测试插头上设有与该电位选择接口对应的测试端子，该与电位选择接口对应的测试端子连接到高电位或低电位，因此当JTAG测试插头插入局部板卡测试接口时，该JTAG测试插头的与电位选择接口对应的测试端子与该电位选择接口电接触，从而将该电位选择接口连接到高电位或低电位，这样，使多路输入选择开关和多路输出选择开关的电位控制端自动连接到高电位或低电位，从而自动选通局部板卡测试接口，避免了人工开关选择电位选择接口的高电位或低电位的步骤，方便操作。附图说明图1为传统JTAG测试链路示意图；图2为第一实施例的JTAG测试链路示意图；图3为第一实施例的JTAG测试链路的电位控制方式示意·图4为另一实施例的JTAG测试链路的电位控制方式示意图。具体实施方式如图2所示，为第一实施例的JTAG测试链路。该测试链路100用于向待测器件200提供测试信号以及接收反馈的输出信号，提供的测试信号可以是局部板卡测试信号，也可以是整机测试信号。待测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种JTAG测试链路，包括局部板卡测试接口和整机测试接口，其特征在于，还包括多路输入选择开关和多路输出选择开关；所述局部板卡测试接口中的局部板卡测试数据输入线接口、局部板卡测试时钟输入接口以及局部板卡测试模式选择输入接口连接至多路输入选择开关中的高电位端；所述局部板卡测试接口中的局部板卡测试数据输出线接口连接至多路输出选择开关中的高电位端；所述整机测试接口中的整机测试数据输入线接口、整机测试时钟输入接口以及整机测试模式选择输入接口连接至多路输入选择开关中的低电位端；所述整机测试接口中的整机测试数据输出线接口连接至多路输出选择开关中的低电位端；所述多路输入选择开关和多路输出选择开关包括电位控制端，当所述多路输入选择开关和多路输出选择开关的电位控制端为高电位时，所述局部板卡测试接口通过多路输入选择开关和多路输出选择开关分别输入和输出；当所述多路输入选择开关和多路输出选择开关的电位控制端为低电位时，所述整机测试接口通过多路输入选择开关和多路输出选择开关分别输入和输出。

【技术特征摘要】
1.一种JTAG测试链路，包括局部板卡测试接口和整机测试接口，其特征在于，还包括多路输入选择开关和多路输出选择开关； 所述局部板卡测试接口中的局部板卡测试数据输入线接口、局部板卡测试时钟输入接口以及局部板卡测试模式选择输入接口连接至多路输入选择开关中的高电位端；所述局部板卡测试接口中的局部板卡测试数据输出线接口连接至多路输出选择开关中的高电位端; 所述整机测试接口中的整机测试数据输入线接口、整机测试时钟输入接口以及整机测试模式选择输入接口连接至多路输入选择开关中的低电位端；所述整机测试接口中的整机测试数据输出线接口连接至多路输出选择开关中的低电位端； 所述多路输入选择开关和多路输出选择开关包括电位控制端，当所述多路输入选择开关和多路输出选择开关的电位控制端为高电位时，所述局部板卡测试接口通过多路输入选择开关和多路输出选择开关分别输入和输出；当所述多路输入选择开关和多路输出选择开关的电位控制端为低电位时，所述整机测试接口通过多路输入选择开关和多路输出选择开关分别输入和输出。2.按权利要求1所述的JTAG测试链路，其特征在于，所述局部板卡测试接口还包括电位选择接口，所述电位选择接口连接至所述多路输入选择开关和多路输出选择开关的电位控制端； 所述JTAG测试链路还包括JTAG测试插头，所述JTAG测试插头具有与所述局部板卡测试接口对应的测试端子，其中与所述电位选择接口对应的测试端子连接到高电位。3.按权利要求2所述的JTAG测试链路，其特征在于，所述局部板卡测试接口还包括高电位接口，所述高电位接口连接到 供电电源，所述电位选择接口连接至所述多路输入选择开关和多路输出选择开关的电位控制端，并且通过电阻接地； 所述JTAG测试插头具有与所述局部板卡测试接口对应的测试端子，其中与所述高电位接口对应的测试端子和与所述电位选择接口对应的测试端子短接。4.按权利要求2所述的JTAG测试链路，其特征在于，所述局部板卡测试接口还包括接地接口，所述接地接口连接到地，所述电位选择接口通过反相器连接到所述多路输入选择开关和多路输出选择开关的电位控制端，并且在所述反相器和所述电位选择接口之间通过电阻连接到供电电源； 所述JTAG测试插头具有与所述局部板卡测试接口对应的测试端子，其中与所述接地接口对应的测试端子和与所述电位选择接口对应的测试端子短接。5.一种JTAG测试链路，包括局部板卡测试接口和整机测试接口，其特征在于，还包括多路输入选择开关和多路输出选择开关； 所述局部板卡测试接口中的局部板卡测试数据输入线接...

【专利技术属性】
技术研发人员：程东彪，陈筱勇，李鑫，
申请(专利权)人：深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：