扫描测试系统技术方案

扫描测试以及扫描压缩是实现成本降低以及运送品质的关键。在更加复杂的设计中，新的瑕疵类型需要增加的压缩。然而，增加的未知(X)值密度减低了有效率的压缩。一扫描压缩方法可达到对于任何未知值的任何密度的非常高压缩以及完全涵盖率。所描述的技术可完全地并入所述的测试用设计(DFT)以及自动化测试型样产生(ATPG)流程中。比起其他方法，在工业设计上来自使用这些技术的结果展现了一致且可预测的优势。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术关于集成电路的扫描测试，特别是关于可用于此扫描测试期间的压缩技术及结构。
技术介绍
集成电路(IC)中更大及更多的复杂逻辑设计导致需要更多的精密测试，以确保那些IC的无故障(fault-free)性能。此测试可代表集成电路(IC)的设计、制造以及服务成本的一重要部分。在一简单的模型中，一 IC的测试可包含对一电路的输入应用多重测试型样，以及监控其输出以侦测故障的发生。故障涵盖率(fault coverage)指的是所述的测试型样在侦测一范围潜在故障的每个故障的效率。因此，如果一组测试型样能够实质上地侦测每个潜在故障，则故障涵盖率已达到近乎100%。为了帮助达到更好的故障涵盖率以及最小化测试成本，可使用DFT〔测试用设计(design-for-test)〕。在一 DFT技术中,可使用逻辑设计中的结果。具体而言,在IC中实施的一逻辑设计一般包含多个状态元件，例如连续储存元件，如正反器。这些状态元件可连接至计算过长度的扫描链中，所述的长度基于所述的设计而不同。在一具体实施例中，在一设计中的所有状态元件是可扫描的，即，每个状态元件是在一扫描链中。在所述的扫描链中的所述的状态兀件典本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用以将关注位元映射至一关注伪随机型样产生器(PRPG)的方法，其中，所述的方法包含：决定位移的一最大窗口，所述的最大窗口的所有关注位元可映射成一单一种子。

【技术特征摘要】
1.一种用以将关注位元映射至一关注伪随机型样产生器(PRPG)的方法，其中，所述的方法包含 决定位移的一最大窗口，所述的最大窗口的所有关注位兀可映射成一单一种子。2.如权利要求1所述的方法，其中，决定所述的最大窗口包含 以位移周期分类所述的关注位元，以及对于每个位移周期进行分类； 计算一最大窗口，使得在一窗口中的一关注位元总数不超过一预先计算的限制；以及当所述的窗口中所有的关注位元可映射成一单一种子时，将所述的单一种子载入至所述的关注PRPG中。3.如权利要求2所述的方法，其中，所述方法还包含 当非所有的关注位元可映射成所述的单一种子时，则线性地减少所述的窗口。4.一种用以将X-耐性(XTOL)控制位元映射成一 XTOL伪随机型样产生器(PRPG)的方法，其中，所述的方法包含 决定位移的一最大窗口，所述的最大窗口的所有XTOL位兀可映射成一单一种子；以及 决定所述的最大窗口的一最佳开始。5.如权利要求4所...

【专利技术属性】
技术研发人员：彼得·沃尔，约翰·A·威库考斯基，弗瑞德里克·J·纽费克斯，
申请(专利权)人：新诺普系统公司，
类型：发明
国别省市：