一种多智能卡测试系统和方法技术方案

本发明专利技术涉及一种多智能卡测试系统和方法，系统包括计算机、测试单元和级联单元，每一个级联单元的下游连接测试单元或连接另一级联单元；级联单元通过多级连接组成级联单元网络，级联单元网络连接在测试单元和计算机之间。级联单元包括集线器、上行接口A、多个下行接口A，集线器连接在上行接口A和下行接口A之间。集线器进一步包括上行接口B、多个下行接口B；上行接口B连接级联单元的上行接口A，进而连接到计算机或者上一级级联单元；集线器的下行接口B连接级联单元的下行接口A，通过下行接口A连接测试单元，或者下一级级联单元。通过级联单元级联的方式，使得多智能卡测试系统增强了可扩展性，提高了测试效率。

Multi smart card testing system and method

The invention relates to a smart card test system and method. The system includes a computer, a test unit and cascade unit, each unit of the cascade downstream connection test unit or other units connected cascade; cascade unit connected cascade unit network through multilevel, cascaded single element network is connected between the test unit and the computer. The cascaded unit includes a hub, an upstream interface, a A, and a plurality of downlink interfaces A, wherein the hub is connected between the upstream interface A and the downlink interface A. The hub further comprises a plurality of downlink and uplink interface B interface B interface A interface B; uplink uplink connection unit and connected to the cascade, cascade unit of a computer or a higher level; A downlink downlink interface interface B hub connected cascade unit, connected to the test unit through the downstream interface A, or under a cascade unit. By cascading the cascaded units, the scalability of the multi card test system is enhanced and the testing efficiency is improved.

【技术实现步骤摘要】
一种多智能卡测试系统和方法
本专利技术涉及智能卡测试的
，尤其涉及一种多智能卡测试系统和方法。
技术介绍
随着智能卡的兴起，小型化的智能卡广泛应用在身份识别、信息加解密、注钥、电子设备内部存储等领域。智能卡的测试随着智能卡的广泛应用，也逐渐成为智能卡企业的重要一环。目前，智能卡的测试方法大致有两种，一种是一台计算机一次对一个智能卡进行操作，这种方法的测试效率低且对计算机性能产生了极大的浪费；另一种是用一台计算机直接连接多个读卡器进行测试，这种方法不利于计算机系统的稳定，两种方法都会极大地增加企业的测试成本，智能卡的测试效率普遍较低。因此，有必要提供一种可以单次测量多个智能卡设备的测试平台方案，同时测量的智能卡数量可以灵活扩展，且平台对计算机的性能要求低，以解决现有方法测试成本高的问题。
技术实现思路
鉴于上述的分析，本专利技术旨在提供一种多智能卡测试系统和方法，用以解决现有技术中一台计算机一次只能对一个智能卡进行操作，导致测试效率低、测试成本高的问题。本专利技术的目的主要是通过以下技术方案实现的：一种多智能卡测试系统，包括计算机、测试单元和级联单元。其中，计算机用于显示和存储测试信息，测试单元用于智能卡的测试。每一个级联单元的下游连接测试单元或连接另一级联单元；级联单元通过多级连接组成级联单元网络，级联单元网络连接在测试单元和计算机之间。级联单元包括集线器、上行接口A、多个下行接口A，集线器连接在上行接口A和下行接口A之间；集线器包括上行接口B、多个下行接口B。集线器的上行接口B连接级联单元的上行接口A，进而连接到计算机或者上一级级联单元；集线器的下行接口B连接级联单元的下行接口A，通过下行接口A连接测试单元，或者下一级级联单元。进一步的，测试系统通过控制级联单元网络中级联单元的层级和数量，来控制连接的测试单元的数量。进一步的，计算机包括显示模块和存储模块；显示模块用于实时显示智能卡的测试信息；存储模块将实时测试信息记录、存储起来。优选的，级联单元采用USB-HUB的形式，包括USB-Hub、上行USB接口和多个下行USB接口；USB-Hub进一步包括上行接口和多个下行接口。进一步的，测试单元包括测试单元底板和测试单元子板；测试单元底板连接测试单元子板，并为测试单元子板提供通信通道；测试单元底板包括USB接口和USB-Hub模块，USB-Hub模块的下行接口通过测试单元子板的USB接口连接测试单元子板；USB-Hub模块的上行接口通过测试单元底板的USB接口连接级联单元；测试单元子板包括USB接口、主控制器、片选模块、多个智能卡接口和多个指示器；其中，主控制器用于进行智能卡选择、测试和通信的控制，主控制器连接USB接口和片选模块；片选模块，连接在主控制器和智能卡接口之间，用于选通进行测试的智能卡，并将选择结果传输给主控制器；智能卡接口，用于连接智能卡；指示器，设置在智能卡接口上，用于指示智能卡的测试状态。上述主控制器包括控制模块、测试模块和通信模块；其中，控制模块，用于读取智能卡状态，控制多智能卡测试顺序和进程；测试模块，用于测试智能卡的各个功能模块，判断测试结果；通信模块，用于控制模块和显示模块、存储模块之间的通信。主控制器通过其控制模块来控制片选模块选择和切换进行测试的智能卡，并根据测试模块的测试情况和结果来判断智能卡的测试是否通过，进而控制指示器的显示；同时控制模块控制通信模块将每个智能卡的测试信息上传到计算机。优选的，上述指示器采用三色LED灯进行智能卡的测试状态的显示。本专利技术还提供一种使用上述多智能卡测试系统进行多智能卡测试的方法，包括以下步骤：测试单元上主控制器的控制模块向片选模块发出控制指令，指示片选模块对需要测试的智能卡进行选择；片选模块接收到控制模块的指令后，对连接到智能卡接口的智能卡进行测试选择，并将选择结果传输给测试模块；测试模块接收到片选模块的选择结果后，对选择的智能卡进行测试；测试完成后，测试结果传输给控制模块，由控制模块根据测试情况来判断智能卡的测试是否通过，进而发出控制指令控制指示器的变化；控制模块还控制通信模块，将智能卡的测试信息通过USB接口，经过级联单元网络上传到计算机；计算机对每个智能卡的测试结果进行显示，并将测试信息存储在计算机中。上述智能卡可以是TF智能卡、或SM卡、或SD卡、或CF卡、或MMC卡、或MS卡、或XD卡。本专利技术有益效果如下：本专利技术提供了一种多智能卡测试系统和方法，通过采用级联单元级联的方法，使得测试系统的可扩展性强；测试单元的测试单元子板采用相互独立的设置，既可以均分整个测试平台的系统运行压力，也能提高系统运行效率；多个测试单元子板运行时，可以同时测试多个智能卡，有效地提高单位时间的测试效率。通过采用本专利技术提出的系统和方法，可以通过级联模块和测试单元的组合、扩展，让企业更灵活的组织智能卡的测试。本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分的从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。附图说明附图仅用于示出具体实施例的目的，而并不认为是对本专利技术的限制，在整个附图中，相同的参考符号表示相同的部件。图1为多智能卡测试系统的结构示意图；图2为级联单元的结构示意图；图3为USB-HUB形式的级联单元的结构示意图；图4为测试单元底板的结构示意图；图5为测试单元子板的结构示意图。具体实施方式下面结合附图来具体描述本专利技术的优选实施例，其中，附图构成本申请一部分，并与本专利技术的实施例一起用于阐释本专利技术的原理。本专利技术的一个具体实施例，公开了一种多智能卡测试系统，具体以TF智能卡(TransFlashCard，或MicroSDCard，微型安全数字卡)的测试为例进行说明，如图1所示，包括：计算机1、测试单元2、级联单元3。其中，通过级联单元3通过多级连接组成级联单元网络4，级联单元网络将测试单元2和计算机1连接在一起。每一个级联单元的下游可以直接连接测试单元，也可以连接另一级联单元。级联单元通过多级连接组成级联单元网络，级联单元网络连接在测试单元和计算机之间。通过控制级联单元网络4中级联单元3的层级和数量，来控制连接的测试单元2的数量，从而实现多智能卡测试系统的灵活配置，进而提高了测试系统的可扩展性。计算机用于显示和存储测试信息，包括显示模块5和存储模块6；显示模块5用于实时显示当前测试的各个TF卡的实时测试信息，实时测试信息通过级联单元网络4传输到计算机；存储模块6将实时测试信息记录、存储起来。具体地，在本实施方案中，以文本文档的形式将测试信息存储于计算机硬盘中。级联单元10，用于增加平台的可扩展性，是实现平台可扩展性的主要组件，如图2。级联单元包括集线器、上行接口A、多个下行接口A，集线器连接在上行接口A和下行接口A之间。集线器进一步包括上行接口B、多个下行接口B；集线器的上行接口B连接级联单元的上行接口A，进而连接到计算机或者上一级级联单元；集线器的下行接口B连接级联单元的下行接口A，通过下行接口A连接测试单元，或者下一级级联单元。如图3所示，本实施方案中的级联单元采用USB-HUB的形式，具体包含有USB-Hub(UniversalSerialB本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多智能卡测试系统，包括计算机和测试单元，计算机用于显示和存储测试信息，测试单元用于智能卡的测试，其特征在于，多智能卡测试系统还包括级联单元，每一个级联单元的下游连接测试单元或连接另一级联单元；级联单元通过多级连接组成级联单元网络，级联单元网络连接在测试单元和计算机之间；级联单元包括集线器、上行接口A、多个下行接口A，集线器连接在上行接口A和下行接口A之间；集线器包括上行接口B、多个下行接口B；集线器的上行接口B连接级联单元的上行接口A，进而连接到计算机或者上一级级联单元；集线器的下行接口B连接级联单元的下行接口A，通过下行接口A连接测试单元，或者下一级级联单元。

【技术特征摘要】
1.一种多智能卡测试系统，包括计算机和测试单元，计算机用于显示和存储测试信息，测试单元用于智能卡的测试，其特征在于，多智能卡测试系统还包括级联单元，每一个级联单元的下游连接测试单元或连接另一级联单元；级联单元通过多级连接组成级联单元网络，级联单元网络连接在测试单元和计算机之间；级联单元包括集线器、上行接口A、多个下行接口A，集线器连接在上行接口A和下行接口A之间；集线器包括上行接口B、多个下行接口B；集线器的上行接口B连接级联单元的上行接口A，进而连接到计算机或者上一级级联单元；集线器的下行接口B连接级联单元的下行接口A，通过下行接口A连接测试单元，或者下一级级联单元。2.根据权利要求1所述的多智能卡测试系统，其特征在于，通过控制级联单元网络中级联单元的层级和数量，来控制连接的测试单元的数量。3.根据权利要求1所述的多智能卡测试系统，其特征在于，所述计算机包括显示模块和存储模块；显示模块用于实时显示智能卡的测试信息；存储模块将实时测试信息记录、存储起来。4.根据权利要求1或2所述的多智能卡测试系统，其特征在于，所述级联单元采用USB-HUB的形式，包括USB-Hub、上行USB接口和多个下行USB接口；USB-Hub进一步包括上行接口和多个下行接口。5.根据权利要求4所述的多智能卡测试系统，其特征在于，所述测试单元包括测试单元底板和测试单元子板；测试单元底板连接测试单元子板，并为测试单元子板提供通信通道；测试单元底板包括USB接口和USB-Hub模块，USB-Hub模块的下行接口通过测试单元子板的USB接口连接测试单元子板；USB-Hub模块的上行接口通过测试单元底板的USB接口连接级联单元；测试单元子板包括USB接口、主控制器、片选模块、多个智能卡接口和多个指示器；其中，主控制器用于进行智能卡选择、测试和通信的控制，主控制器连接USB接口和片选模...

【专利技术属性】
技术研发人员：李维，
申请(专利权)人：数据通信科学技术研究所，兴唐通信科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11