一种双口RAM测试设备的处理板结构制造技术

本发明专利技术属于电子控制领域，具体涉及一种双口RAM测试设备的处理板结构，包括壳体、显示屏、与所述显示屏连接的主板、处理板、与处理板连接的SCSI‑68接口；所述主板与处理板通过PCI‑E接口相连接；所述处理板包括PCI‑E桥接芯片、FPGA、驱动电路、电源模块；所述PCI‑E接口通过PCI‑E桥接芯片与FPGA相连；所述FPGA与驱动电路电联接；本发明专利技术通过将所有测试设备高度集成化，采用10寸平板电脑结构，节省了空间且便于携带，环境适应性增强，适合爬高入低进行作业；另外，处理板的结构采用RAM信号‑FPGA‑千兆以太网‑PCIE架构，使得读写速度大大高，省掉大量人力，提高了测试效率。

Processing board structure of double port RAM test equipment

The invention belongs to the field of electronic control and processing board structure and particularly relates to a dual port RAM test equipment, including SCSI, shell screen, connected with the display board, processing board, and processing board connected to the 68 interface; the motherboard and the processing board is connected through the PCI interface of the E; treatment PCI board includes E bridge chip, FPGA, drive circuit, power supply module; PCI E bridge chip is connected with FPGA through the PCI E interface; the drive circuit is electrically connected with the FPGA; according to this invention, all test equipment is highly integrated, with a 10 inch tablet computer structure, space saving and convenient carrying, environment adaptability, suitable for climbing into low operation; in addition, the structure of the RAM signal processing board using FPGA Gigabit Ethernet PCIE architecture, the read and write speed is high, save a lot of manpower The test efficiency is improved.

【技术实现步骤摘要】
一种双口RAM测试设备的处理板结构
本专利技术属于电子控制领域，具体涉及一种双口RAM测试设备的处理板结构。
技术介绍
在现有的实际工程应用中，双口RAM测试设备并不是一个整体，其测试模块相对分立，全部采用分立设备，设备体积大，而现有的改进设备大多是便携式工控机结构，比笔记本电脑厚2-3倍，重量在10kg以上，测试过程中的人力工作量大，特别是在进行爬高入低的环境中进行作业，效率低，适用性差，特别是，现有双口RAM测试设备中的处理板结构中采用的是PCIE专用芯片架构，其读写速度慢，使得测试效率低，满足不了测试需求。基于以上存在的诸多问题及缺陷，需要对相关的测试系统进行改进和改造。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有技术的上述缺点，提供一种双口RAM测试设备的处理板结构。为了实现上述目的，本专利技术所采用的技术方案是：一种双口RAM测试设备的处理板结构，包括壳体、显示屏、与所述显示屏连接的主板、处理板、与处理板连接的SCSI-68接口；所述主板与处理板通过PCI-E接口相连接；所述显示屏、主板、PCI-E接口、处理板、SCSI-68接口均设置于壳体内部；所述处理板包括PCI-E桥接芯片、FPGA、驱动电路、电源模块；所述PCI-E接口通过PCI-E桥接芯片与FPGA相连；所述电源模块分别与PCI-E桥接芯片、FPGA、驱动电路连接；所述FPGA通过驱动电路与SCSI-68接口电联接。上述一种双口RAM测试设备的处理板结构，所述PCI-E桥接芯片为RTL8111E。上述一种双口RAM测试设备的处理板结构，所述电源模块采用开关电源模块。一种处理板结构，包括PCI-E桥接芯片、与PCI-E桥接芯片相连的驱动电路、电源模块；所述电源模块分别与PCI-E桥接芯片、驱动电路相连接。上述一种处理板结构，所述PCI-E桥接芯片为CH368。上述一种处理板结构，所述驱动电路中采用双电源总线驱动芯片SN74LVC4245A。本专利技术的有益效果：本专利技术通过将所有测试设备高度集成化，采用10寸平板电脑结构，节省了空间且便于携带，环境适应性增强，适合爬高入低进行作业；另外，处理板的结构采用RAM信号-FPGA-千兆以太网-PCIE架构，使得读写速度大大高，省掉大量人力，提高了测试效率。附图说明下面通过附图并结合实施例具体描述本专利技术，本专利技术的优点和实现方式将会更加明显，其中附图所示内容仅用于对本专利技术的解释说明，而不构成对本专利技术的任何意义上的限制。图1是本专利技术一种双口RAM测试设备的处理板结构的结构示意图；图2是本专利技术一种双口RAM测试设备的处理板结构实施例2的处理板结构示意图；图3是本专利技术一种双口RAM测试设备的处理板结构实施例3的处理板结构示意图；附图标记说明：1、壳体；2、显示屏；3、主板；4、PCI-E接口；5、处理板；6、SCSI-68接口；7、PCI-E桥接芯片；8、FPGA；9、驱动电路；10、电源模块。具体实施方式下面对本专利技术的实施例作详细说明：本实施例在以本专利技术技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程。应当指出的是，对本领域的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术构思的前提下，还可以做出若干变型和改进，这些都属于本专利技术保护范围。实施例1：如图1所示，一种双口RAM测试设备，包括壳体1、显示屏2、与所述显示屏2连接的主板3、处理板5、与处理板5连接的SCSI-68接口6；所述主板3与处理板5通过PCI-E接口4相连接；所述显示屏2、主板3、PCI-E接口4、处理板5、SCSI-68接口6均设置于壳体1内部。其中，双口RAM数据处理板5（以下简称处理板5）主要完成双口RAM读写时序转换、与PCI桥接芯片对接、中断暂存、存储转发等功能。所述SCSI-68接口6通过SCSI线缆与被测设备连接，线缆一端采用SCSI-68的公头，方便与测试设备对接；一端采用CHCX36T55KP和CHCX33T41KP的航插以便与被测设备对接。实施例2：在实施例1的基础上，如图2所示，所述处理板5包括PCI-E桥接芯片7、FPGA8、驱动电路9、电源模块10；所述PCI-E接口4通过PCI-E桥接芯片7与FPGA8相连；所述电源模块10分别与PCI-E桥接芯片7、FPGA8、驱动电路9连接；所述FPGA8通过驱动电路9与SCSI-68接口6电联接。其中，PCI-E桥接芯片7为RTL8111E，该方案的读写速度高，软硬件设计较为复杂。RTL8111E将PCI-E转换为千兆以太网接口，千兆以太网接口通过88E1111转换为RGMII接口，FPGA完成RGMII与双口RAM之间的转换；该实施例2中的所述方案中共有四种电源需求分别为：1)5V电源：给驱动芯片线缆侧提供电源，与IDT7024电平保持一致；2)3.3V电源：给FPGA部分Bank供电使用；3)2.5V电源：需要2.5V供电的模块较多，分别是FPGA的PLL、FPGA的部分Bank、88E1111的VDDO、VDDOX、VDDOH、AVDD；4)1.2V电源：FPGA的核电压和88E1111的数字电源。选用开关电源模块是比较好的方式，理由是模块成熟度高稳定性好且开关电源效率高十分适合电池供电设备使用。如何实现开机上电关机断电也是需要在方案中重点考虑的，为了减少开发工作量，方案中利用主板的电源管理对处理板进行管理。主板上的5V电源只有在开机的时候才会提供，利用这个特点，方案中使用一个小型的5V继电器来控制处理板的12V(电池组电压)电源供电。开机时主板上5V电源开始供电控制继电器导通开始为处理板供电，关机时主板上5V电源被切断继电器也随之断开处理板电源被切断。实施例3：在实施例1的基础上，如图3所示，所述处理板5包括PCI-E桥接芯片7、与PCI-E桥接芯片7相连的驱动电路9、电源模块10；所述电源模块10分别与PCI-E桥接芯片7、驱动电路9相连接；所述驱动电路9中采用双电源总线驱动芯片SN74LVC4245A。其中，PCI-E桥接芯片7为CH368，该方案的读写速度有点低，但是由于CH368的特点使得电路设计与开发较为简单，风险也相对低一点。CH368是一个连接PCI-Express总线的通用接口芯片，支持I/O端口映射、存储器映射、扩展ROM以及中断。CH368将高速PCIE总线转换为简便易用的类似于ISA总线的32位或者8位主动并行接口，用于制作低成本的基于PCIE总线的计算机板卡，以及将原先基于ISA总线或者PCI总线的板卡升级到PCIE总线上。PCIE总线与其它主流总线相比，速度更快，实时性更好，可控性更佳，所以CH368适用于高速实时的I/O控制卡、通讯接口卡、数据采集卡等。该实施例3中的所述方案中共有四种电源需求分别为：1)数字5V电源：给驱动芯片线缆侧提供电源，与IDT7024电平保持一致；2)数字3.3V电源：给CH368、EEPROM、驱动芯片的芯片侧提供电源；3)数字1.8V电源：CH368的内核电压供电；4)模拟1.8V电源：CH368PCI-E差分驱动电压。由于5V和3.3V的功耗较小，既可以使用板载的LDO供电，也可以外接电源模块供电。根据经验和试验，选用开关电源模块是比较好的方式，理由是模块成熟度高稳定性好且开关电源效率高十分适合电池供电设备使本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种双口RAM测试设备的处理板结构，包括壳体（1）、显示屏（2）、与所述显示屏（2）连接的主板（3）、处理板（5）、与处理板（5）连接的SCSI‑68接口（6）；所述主板（3）与处理板（5）通过PCI‑E接口（4）相连接；所述显示屏（2）、主板（3）、PCI‑E接口（4）、处理板（5）、SCSI‑68接口（6）均设置于壳体（1）内部；其特征在于：所述处理板（5）包括PCI‑E桥接芯片（7）、FPGA（8）、驱动电路（9）、电源模块（10）；所述PCI‑E接口（4）通过PCI‑E桥接芯片（7）与FPGA（8）相连；所述电源模块（10）分别与PCI‑E桥接芯片（7）、FPGA（8）、驱动电路（9）连接；所述FPGA（8）通过驱动电路（9）与SCSI‑68接口（6）电联接。

【技术特征摘要】
1.一种双口RAM测试设备的处理板结构，包括壳体（1）、显示屏（2）、与所述显示屏（2）连接的主板（3）、处理板（5）、与处理板（5）连接的SCSI-68接口（6）；所述主板（3）与处理板（5）通过PCI-E接口（4）相连接；所述显示屏（2）、主板（3）、PCI-E接口（4）、处理板（5）、SCSI-68接口（6）均设置于壳体（1）内部；其特征在于：所述处理板（5）包括PCI-E桥接芯片（7）、FPGA（8）、驱动电路（9）、电源模块（10）；所述PCI-E接口（4）通过PCI-E桥接芯片（7）与FPGA（8）相连；所述电源模块（10）分别与PCI-E桥接芯片（7）、FPGA（8）、驱动电路（9）连接；所述FPGA（8）通过驱动电路（9）与SCSI-68...

【专利技术属性】
技术研发人员：龚成，牛志刚，
申请(专利权)人：西安富成防务科技有限公司，
类型：发明
国别省市：陕西,61