一种安全芯片进入测试模式的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种安全芯片进入测试模式的方法和装置。涉及集成电路的信息安全技术领域，解决现有技术中安全芯片进入测试模式的方案安全性较低，可行性较差，因在划片槽内放置信号或部件所导致的安全芯片无法满足先进低节点工艺要求，安全芯片的性能下降的技术问题。其中，该方法包括：获取所述安全芯片的测试标志字；根据所述测试标志字和第一关键码确定进入测试模式进入阶段；在所述测试模式进入阶段中，将EFUSE存储阵列熔断为第二关键字码；根据所述EFUSE存储阵列的熔断值和所述第二关键字码确定是否进入所述安全芯片的测试模式。

Method and device for entering test mode of safety chip

The embodiment of the invention discloses a method and a device for entering a test mode of a security chip. The field of information security technology to solve the security chip integrated circuit, the existing technology into test mode scheme with low safety, poor feasibility, because of security chip components in the signal or placed in scribing groove caused by the low node can not meet the requirements of advanced technology, technical performance of security chip. Among them, the method comprises: acquiring the security chip test mark word; according to the test word mark and the first key determined to enter the test mode to enter the stage; in the test mode to enter the stage, the EFUSE memory array fuse as the second key code; according to the EFUSE memory array and the value of the fuse the second key code to determine whether the test mode into the security chip.

【技术实现步骤摘要】
一种安全芯片进入测试模式的方法和装置
本专利技术涉及集成电路的信息安全
，特别涉及一种安全芯片进入测试模式的方法和装置。
技术介绍
在芯片生产过程中会存在一些制造缺陷，需要进行芯片测试来反映芯片真实情况，筛选出问题芯片。安全芯片也通常都会有测试电路，以确保交给用户的芯片产品都能正确可靠地工作，因此测试电路是安全芯片必不可少的组成部分。为提高测试效率、减少测试电路的设计复杂度，测试电路一般可以访问芯片内部所有资源，测试模式的安全级别非常高。为了有效抵抗攻击者利用测试模式，盗取安全芯片内部用户关键数据、篡改芯片程序等，在芯片完成测试后须将测试电路可靠地、不可逆地予以废止。现有技术通常是将某个控制信号放置到划片槽，在安全芯片测试完成后通过划片方式将其划断，此后芯片不能再进入测试模式。但随着侵入式攻击技术的迅速发展，使得攻击者利用各种手段(如FIB等)重新连接划片槽内已划断的信号，并使信号的能力大大增强，从而恢复测试模式电路的功能，获取安全芯片内敏感信息。为了防止这种攻击方式导致的安全芯片的测试隐患，现有技术又提出采用将测试电路部分逻辑电路和部分控制信号放置到划片槽内的方案，以便增大FIB技术重新恢复测试电路的难度，使得芯片无法重回测试状态。但是，随着先进工艺不断发展，工艺尺寸节点不断降低，先进低节点工艺为确保芯片成品的良率，提出不允许在划片槽内放置器件，避免工艺测试参数的准确性受到影响，导致流片芯片的性能出现问题。
技术实现思路
本专利技术提供一种安全芯片进入测试模式的方法和装置，解决现有技术中安全芯片进入测试模式的方案安全性较低，可行性较差，因在划片槽内放置信号或部件所导致的安全芯片无法满足先进低节点工艺要求，安全芯片的性能下降的技术问题。本专利技术实施例提供一种安全芯片进入测试模式的方法，在安全芯片上电启动后，包括：获取所述安全芯片的测试标志字；根据所述测试标志字和第一关键码确定进入测试模式进入阶段；在所述测试模式进入阶段中，将EFUSE存储阵列熔断为第二关键字码；根据所述EFUSE存储阵列的熔断值和所述第二关键字码确定是否进入所述安全芯片的测试模式。本专利技术实施例提供的方法中，采用在进入安全芯片的测试模式前，先获取所述安全芯片的测试标志字；根据所述测试标志字和第一关键码确定进入测试模式进入阶段；在所述测试模式进入阶段中，将EFUSE存储阵列熔断为第二关键字码；根据所述EFUSE存储阵列的熔断值和所述第二关键字码确定是否进入所述安全芯片的测试模式的技术手段，解决了现有技术中必须通过在划片槽内放置部件或信号导致的无法满足先进低节点工艺要求的技术问题，进而实现了在提高进入安全芯片测试模式的安全性的同时，无需再划片槽内放置部件或信号，可以满足先进低节点工艺要求，提高了安全芯片的性能，可行性较强的技术效果。可选的，在进入所述安全芯片的测试模式完成测试后，该方法还包括：将所述测试标志字置为所述第一关键码。可选的，该方法还包括：将所述EFUSE存储阵列熔断为全1。可选的，所述根据所述EFUSE存储阵列的熔断值和所述第二关键字码确定是否进入所述安全芯片的测试模式，包括：判断所述EFUSE存储阵列的熔断值是否与所述第二关键码相同；若判定是，则进入所述安全芯片的测试模式；若判定否，则所述安全芯片无响应。可选的，所述第一关键码为所述安全芯片制造厂商设置的一组固定的第一随机序列码；所述第二关键码为所述安全芯片制造厂商设置的一组固定的第二随机序列码。基于同样的专利技术构思，本专利技术实施例继续提供一种安全芯片进入测试模式的装置，包括：获取模块，用于获取所述安全芯片的测试标志字；确定模块，用于根据所述测试标志字和第一关键码确定进入测试模式进入阶段；熔断模块，用于在所述测试模式进入阶段中，将EFUSE存储阵列熔断为第二关键字码；安全判定模块，用于根据所述EFUSE存储阵列的熔断值和所述第二关键字码确定是否进入所述安全芯片的测试模式。本专利技术实施例提供的装置中，具有在进入安全芯片的测试模式前，先获取所述安全芯片的测试标志字；根据所述测试标志字和第一关键码确定进入测试模式进入阶段；在所述测试模式进入阶段中，将EFUSE存储阵列熔断为第二关键字码；根据所述EFUSE存储阵列的熔断值和所述第二关键字码确定是否进入所述安全芯片的测试模式的技术手段，解决了现有技术中必须通过在划片槽内放置部件或信号导致的无法满足先进低节点工艺要求的功能，进而实现了在提高进入安全芯片测试模式的安全性的同时，无需再划片槽内放置部件或信号，可以满足先进低节点工艺要求，提高了安全芯片的性能，可行性较强的技术效果。可选的，该装置还包括：置位模块，用于在进入所述安全芯片的测试模式完成测试后，将所述测试标志字置为所述第一关键码。可选的，所述熔断模块，还用于将所述EFUSE存储阵列熔断为全1。可选的，所述安全判定模块，具体用于判断所述EFUSE存储阵列的熔断值是否与所述第二关键码相同；若判定是，则进入所述安全芯片的测试模式；若判定否，则使所述安全芯片无响应。可选的，所述第一关键码为所述安全芯片制造厂商设置的一组固定的第一随机序列码；所述第二关键码为所述安全芯片制造厂商设置的一组固定的第二随机序列码。本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。下面通过附图和实施例，对本专利技术的技术方案做进一步的详细描述。附图说明附图用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本专利技术的实施例一起用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的限制。在附图中：图1为本专利技术实施例一中提供的一种安全芯片进入测试模式的方法的流程图；图2为本专利技术实施例二中提供的一种安全芯片进入测试模式的方法的流程图；图3为本专利技术实施例三中提供的一种安全芯片进入测试模式的结构示意图。具体实施方式以下结合附图对本专利技术的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。实施例一本专利技术实施例提供一种安全芯片进入测试模式的方法。该方法适合部署在对安全芯片有测试功能的装置或设备上。如图1所示，在安全芯片上电启动后，该方法包括：101，获取所述安全芯片的测试标志字；其中，可从非易失存储器中读取到测试标志字。102，根据所述测试标志字和第一关键码确定进入测试模式进入阶段；可选的，所述第一关键码为所述安全芯片制造厂商设置的一组固定的第一随机序列码；本专利技术实施例中，在对安全芯片进行测试模式前，需要进行两个阶段的安全检测。先是需要检测进入测试前的过程是否符合进入测试阶段的安全要求，然后再确定是否符合进入测试模式进入阶段的安全要求；在确定进入安全芯片的测试模式进入阶段后，还需要检测操作是否符合进入测试模式的安全要求，执行如下步骤：103，在所述测试模式进入阶段中，将电子可编程熔丝(EFUSE)存储阵列熔断为第二关键字码；可选的，所述第二关键码为所述安全芯片制造厂商设置的一组固定的第二随机序列码。104，根据所述EFUSE存储阵列的熔断值和所述第二关键字码确定是否进入所述安全芯片的测试模式。可选的，上述104可通过如下方式实现，包括：判断所述EFUSE存储本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种安全芯片进入测试模式的方法，其特征在于，在安全芯片上电启动后，包括：获取所述安全芯片的测试标志字；根据所述测试标志字和第一关键码确定进入测试模式进入阶段；在所述测试模式进入阶段中，将电子可编程熔丝EFUSE存储阵列熔断为第二关键字码；根据所述EFUSE存储阵列的熔断值和所述第二关键字码确定是否进入所述安全芯片的测试模式。

【技术特征摘要】
1.一种安全芯片进入测试模式的方法，其特征在于，在安全芯片上电启动后，包括：获取所述安全芯片的测试标志字；根据所述测试标志字和第一关键码确定进入测试模式进入阶段；在所述测试模式进入阶段中，将电子可编程熔丝EFUSE存储阵列熔断为第二关键字码；根据所述EFUSE存储阵列的熔断值和所述第二关键字码确定是否进入所述安全芯片的测试模式。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在进入所述安全芯片的测试模式完成测试后，该方法还包括：将所述测试标志字置为所述第一关键码。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，该方法还包括：将所述EFUSE存储阵列熔断为全1。4.根据权利要求1-3中任意一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述EFUSE存储阵列的熔断值和所述第二关键字码确定是否进入所述安全芯片的测试模式，包括：判断所述EFUSE存储阵列的熔断值是否与所述第二关键码相同；若判定是，则进入所述安全芯片的测试模式；若判定否，则所述安全芯片无响应。5.根据权利要求1-3中任意一项所述的方法，其特征在于，所述第一关键码为所述安全芯片制造厂商设置的一组固定的第一随机序列码；所述第二关键码为所述安全芯片制造厂商设置的一组固定的第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：王敏，裴万里，胡晓波，涂因子，邵瑾，赵东艳，张海峰，
申请(专利权)人：北京智芯微电子科技有限公司，国网信息通信产业集团有限公司，国家电网公司，
类型：发明
国别省市：北京,11