【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及微小卫星领域，特别地，涉及ー种微小卫星用芯片的筛选方法。
技术介绍
由于空间辐射环境的辐射影响，传统的大卫星星上电子系统多采用特殊エ艺处理的宇航级芯片。而微小卫星由于体积小、重量轻、成本低，这些特点决定了微小卫星不能像大卫星一祥大量采用宇航级别的芯片，而是需要采用成本低的芯片，如民用的COTS元器件(Commercial Off-The-Shelf)和组件,采取筛选、加固和冗余备份等方式来增强微小卫星系统的可靠性，保证微小卫星的长期可靠运行。将芯片进行筛选试验是指为选择具有一定特性的产品或剔除早期失效的产品而进行的试验。它是ー种对芯片进行全数检验的非破坏性试验，通过按照一定的程序施加环境应力，激发出产品潜在的设计和制造缺陷，以便剔除早期失效产品，降低失效率。而可靠性筛选，是除保证芯片质量等级外，还应满足使用质量等级的要求，并对元器件的设计エ艺，选用材料和控制手段等方面进行验证与考核。目前电子元器件的筛选方法体现在筛选技术条件之中，筛选技术条件设计是否合理直接影响筛选效果，影响电子产品的质量和可靠性，影响费用和代价。筛选技术条件包括筛选项目、筛选方法...
【技术保护点】
一种微小卫星用芯片的筛选方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）抽选同一批次的芯片进行破坏性试验，所述破坏性试验用于评估芯片工艺和材料性能，以得到检测结果合格的芯片；（2）将所述经破坏性试验的检测结果为合格的芯片进行可靠性筛选，所述可靠性筛选用于评估芯片使用寿命，以得到可应用于微小卫星的芯片。
【技术特征摘要】
1.一种微小卫星用芯片的筛选方法，其特征在于，包括以下步骤: (1)抽选同一批次的芯片进行破坏性试验，所述破坏性试验用于评估芯片エ艺和材料性能，以得到检测结果合格的芯片； (2)将所述经破坏性试验的检测结果为合格的芯片进行可靠性筛选，所述可靠性筛选用于评估芯片使用寿命，以得到可应用于微小卫星的芯片。2.根据权利要求1所述的筛选方法，其特征在于，所述破坏性试验包括以下步骤: (1)将所述芯片进行辐照检测； (2)将进行所述辐照检测合格的芯片进行超声波扫描，以得到所述超声波扫描检测结果合格的芯片； (3)将所述超声波扫描检测合格的芯片进行DPA分析，以得到所述经破坏性实验检测结果合格的芯片。3.根据权利要求2所述的筛选方法，其特征在于，所述辐照检测为将芯片筛选板加电状态下，放置在剂量率为2rad/s的辐射中放置1.5小时，若芯片运行正常，则辐照检测合格。4.根据权利要求2所述的筛选方法，其特征在于，所述超声波扫描为将所述辐照检测合格的芯片在I IOMHz频率的超声波下扫描。5.根据权利要求2所述的筛选方法，其特征在于，所述DPA分析包括外观检查、X射线扫描、开帽后内部目检、键合強度检查、SEM检查。6.根据权利要求1所述的筛选方法，其特征在于，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：张育林，宋新，陈利虎，绳涛，赵勇，程云，
申请(专利权)人：中国人民解放军国防科学技术大学，
类型：发明
国别省市：
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