电子测试系统与相关方法技术方案

一种电子测试系统与相关方法，设有第一与第二连接端、一讯源端、第一与第二测量端、一切换电路、第五与第七开关；第一与第二连接端分别用以耦接一受测芯片的两脚位；讯源端用以耦接一信号产生器；第一与第二测量端用以耦接一测量机台；切换电路于第一前侧端与第四前侧端耦接讯源端，于第一与第四后侧端分别耦接第一与第二连接端，控制第一前侧端与第一后侧端间的导通，并控制第四前侧端与第四后侧端间的导通；第五开关耦接于第四后侧端与第一测量端间，第七开关耦接于第一连接端与第二测量端间。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术有关于一种，且特别是有关于一种测试过度电性应力(Electrical Over-Stress, EOS)的。
技术介绍
芯片(集成电路)是现代信息社会最重要的硬件基础之一。芯片上会设置导电的脚位，如电源脚位、接地脚位与信号脚位。芯片经由电源脚位与接地脚位分别耦接工作电压与地端电压，以汲取运作所需的电力。芯片也会经由信号脚位与其它外界电路(如电路板或另一芯片)交换信号。不过，由于芯片的电源脚位、接地脚位与信号脚位都是导电的，也会将外界电气环境的扰动传导至芯片内部。过度电性应力就是电气扰动中的一种，其会表现为一段延续相当时间的高电压波形，由芯片的一脚位传输至另一脚位，具有损害芯片的潜力。为因应过度电性应力，需对芯片进行过度电性应力的测试。过度电性应力的测试是利用一信号产生器产生出仿真过度电性应力的波形，并将信号产生器的两端分别耦接至芯片的两脚位，以测试芯片在这两个脚位间对过度电性应力的反应。由于过度电性应力可能会发生在芯片的信号脚位至接地脚位、电源脚位至信号脚位、接地脚位至信号脚位，以及信号脚位至电源脚位，故过度电性应力的测试也要涵盖这四种可能的态样。然而，芯片会有多个需要个别测试的信号脚位，现行的已知技术需以人力一一将信号产生器的两端各自耦接至对应的信号脚位、电源脚位与接地脚位，十分耗时，也容易出错。
技术实现思路
为克服已知技术的缺点，本专利技术是有关于一种可自动化进行过度电性应力测试的。本专利技术的目的之一是提供一种测试一芯片的电子测试系统，设有多个第一连接端、多个第二连接端、一讯源端与一第二讯源端、一第一测量端与一第二测量端、一切换电路、一第五开关、多个第六开关与第七开关、一讯源开关与一第二讯源开关、多个第八开关，以及一开关控制电路。各第一连接端用以耦接电源脚位与接地脚位的其中之一，各第二连接端用以耦接芯片的一个信号脚位。讯源端与第二讯源端分别用以耦接信号产生器的两端。第一测量端与第二测量端分别用以耦接一测量机台的两端。切换电路具有一第一前侧端、一第二前侧端、一第三前侧端与一第四前侧端，以及一第一后侧端、一第二后侧端、一第三后侧端与一第四后侧端。讯源开关即耦接于讯源端与第一前侧端间，选择性地导通于讯源端与第一前侧端间；第一前侧端亦耦接于第四前侧端，使第一前侧端与第四前侧端均经由讯源开关耦接讯源端。类似地，第二讯源开关耦接于第二讯源端与第二前侧端间，选择性地导通于第二讯源端与第二前侧端间；第二前侧端亦耦接于第三前侧端，使第二前侧端与第三前侧端皆经由第二讯源开关耦接第二讯源端。切换电路中可以设有第一至第四开关，第一开关耦接于第一前侧端与第一后侧端间，第二开关耦接于第二前侧端与第二后侧端间，第三开关耦接于第三前侧端与第三后侧端间，第四开关耦接于第四前侧端与第四后侧端间。第五开关耦接于第四后侧端与第一测量端间，选择性地导通于第四后侧端与第一测量端间。第三后侧端亦耦接于第四后侧端。多个第六开关与第七开关分别对应于多个第一连接端。各第七开关耦接于第二测量端与对应的第一连接端间，选择性地导通于第二测量端与该对应的第一连接端间。各第六开关耦接于第一后侧端与对应的第一连接端间，选择性地导通于第一后侧端与该对应的第一连接端间。多个第八开关分别对应于多个第二连接端，各第八开关耦接于第三后侧端与对应的第二连接端间，选择性地导通于第三后侧端与该对应的第二连接端间。开关控制电路耦接并控制各第五至八开关、讯源开关与第二讯源开关的导通，亦耦接切换电路以控制其导通。电子测试系统可运作于一检查模式(如一切换电路检查模式)、一第二检查模式(如一开关检查模式)、一第三检查模式(如一连续性检查模式)与一过度电性应力的测试模式。运作于检查模式(如切换电路检查模式)时，第五开关、(一或多个)第六开关与(一或多个)第七开关皆导通，讯源开关与第二讯源开关不导通，各第八开关可以不导通，切换电路则运作于一第一切换模式与一第二切换模式。当切换电路运作于第一切换模式，会在第二前侧端与第二后侧端间不导通，并在第三前侧端与第三后侧端间不导通，以检查第一前侧端与第一后侧端、第四前侧端与第四后侧端间的导通是否能正常地受控，也就是检查第一开关与第四开关是否能正常运工作。当运作于第二切换模式时，切换电路会在第一前侧端与第一后侧端间不导通，并在第四前侧端与第四后侧端间不导通，以检查第二前侧端与第二后侧端、第三前侧端与第三后侧端间的导通是否能正常地受控，也就是检查第二开关与第三开关。当电子测试系统运作于第二检查模式(如开关检查模式)时，第五开关导通，讯源开关与第二讯源开关不导通，各第八开关不导通；切换电路则于第一前侧端与第一后侧端间导通，亦于该第四前侧端与该第四后侧端间导通，并于第三前侧端与第三后侧端间不导通，亦在第二前侧端与第二后侧端间不导通。如此，便可逐一检查每一第一连接端所对应的第六开关与第七开关。当电子测试系统运作于第三检查模式(如连续性检查模式)时，可以经由各个第二连接端逐一检查各信号脚位至电源脚位与接地脚位的连续性(continuity)。在第三检查模式下经由某一第二连接端检查其对应的信号脚位时，第五开关导通，(一或多个)第七开关导通，各第六开关不导通，该第二连接端对应的第八开关导通，讯源开关与第二讯源开关则不导通，切换电路在第一、二、三、四前侧端与第一、二、三、四后侧端间皆不导通，并于第一测量端馈送负电流，如此便可检查该对应信号脚位与接地脚位间的连续性。再者，若于第一测量端馈送正电流，便可检查该对应信号脚位与电源脚位间的连续性。当电子系统运作于过度电性应力的测试模式时，可以经由各个第二连接端测试对应的信号脚位。当要在测试模式下测试某一第二连接端对应的信号脚位时，第五开关与各个第七开关不导通，讯源开关与第二讯源开关导通，对应该第二连接端的第八开关导通，对应接地脚位的第六开关导通，切换电路于第三前侧端与第三后侧端间、第一前侧端与第一后侧端间导通，并于第二前侧端与第二后侧端间不导通，亦于第四前侧端与第四后侧端间不导通，如此便可测试该信号脚位至接地脚位间的过度电性应力。若使切换电路导通于第二前侧端与第二后侧端间、导通于第四前侧端与第四后侧端间，并于第三前侧端与第三后侧端间不导通，于第一前侧端与第一后侧端间不导通，则可测试接地脚位至该信号脚位间的过度电性应力。在测试模式下，若接地脚位对应的第六开关不导通，改使电源脚位对应的第六开关导通，则可测试该信号脚位与该电源脚位间的过度电性应力。当切换电路于第三前侧端与第三后侧端间、于第一前侧端与第一后侧端间导通，并于第二前侧端与第二后侧端间、第四前侧端与第四后侧端间不导通，即可测试该信号脚位至该电源脚位间的过度电性应力。若使切换电路导通于第二前侧端与第二后侧端间、导通于第四前侧端与第四后侧端间，并于第三前侧端与第三后侧端间不导通，于第一前侧端与第一后侧端间不导通，则可测试该电源脚位至该信号脚位间的过度电性应力。本专利技术的又一目的是提供一种应用于前述电子测试系统的方法，包括:以第五开关将第一测量端导通至第四后侧端，以第七开关与(一或多个)第六开关将第二测量端导通至(一或多个)第一连接端与第一后侧端，利用讯源开关使讯源端与第一前侧端间不导通，并利用第二讯源开关使第二讯源端与第三前侧端间不导通，以检查切换电路的功能。再者，以本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子测试系统，测试一芯片；该电子测试系统包含：一第一连接端与一第二连接端，分别用以耦接该芯片的两脚位；一讯源端，用以耦接一信号产生器；一第一测量端与一第二测量端，用以耦接一测量机台；一切换电路，具有一第一前侧端、一第四前侧端、一第一后侧端与一第四后侧端，该第一前侧端与该第四前侧端耦接该讯源端，该第一后侧端与该第四后侧端分别耦接该第一连接端与该第二连接端；该切换电路控制该第一前侧端与该第一后侧端间的导通，并控制该第四前侧端与该第四后侧端间的导通；一第五开关，耦接于该第四后侧端与该第一测量端间，选择性地导通于该第四后侧端与该第一测量端间；以及一第七开关，耦接于该第一连接端与该第二测量端间，选择性地导通于该第一连接端与该第二测量端间；其中，该电子测试系统运作于一检查模式与一测试模式；当该电子测试系统运作于该检查模式时，该第五开关导通；当该电子测试系统运作于该测试模式时，该第五开关与该第七开关皆不导通。

【技术特征摘要】
1.一种电子测试系统,测试一芯片；该电子测试系统包含: 一第一连接端与一第二连接端，分别用以耦接该芯片的两脚位； 一讯源端，用以耦接一信号产生器； 一第一测量端与一第二测量端，用以耦接一测量机台； 一切换电路，具有一第一前侧端、一第四前侧端、一第一后侧端与一第四后侧端，该第一前侧端与该第四前侧端耦接该讯源端，该第一后侧端与该第四后侧端分别耦接该第一连接端与该第二连接端；该切换电路控制该第一前侧端与该第一后侧端间的导通，并控制该第四前侧端与该第四后侧端间的导通； 一第五开关，耦接于该第四后侧端与该第一测量端间，选择性地导通于该第四后侧端与该第一测量端间；以及 一第七开关，耦接于该第一连接端与该第二测量端间，选择性地导通于该第一连接端与该第二测量端间； 其中，该电子测试系统运作于一检查模式与一测试模式；当该电子测试系统运作于该检查模式时，该第五开关导通；当该电子测试系统运作于该测试模式时，该第五开关与该第七开关皆不导通。2.根据权利要求1所述的电子测试系统，还运作于一第二检查模式；当该电子测试系统运作于该检查模式时，该第七开关导通；当该电子测试系统运作于该第二检查模式时，该切换电路在该第一前侧端与该第一后侧端间导通，并在该第四前侧端与该第四后侧端间导通。3.根据权利要求1所述的电子测试系统，还包含: 一第六开关，耦接于该第一后侧端与该第一连接端间，选择性地导通于该第一后侧端与该第一连接端间。4.根据权利要求3所述的电子测试系统，还运作于一第二检查模式；当该电子测试系统运作于该检查模式时，该第六开关导通；当该电子测试系统运作于该第二检查模式时，该切换电路在第一前侧端与第一后侧端间导通，并在第四前侧端与第四后侧端间导通。5.根据权利要求1所述的电子测试系统，还包含: 一讯源开关，耦接于该讯源端与该第一前侧端间，选择性地导通于该讯源端与该第一前侧端间； 其中，该第一前侧端还耦接该第四前侧端；当该电子测试系统运作于该检查模式时，该讯源开关不导通；当该电子测试系统运作于该测试模式时，该讯源开关导通。6.根据权利要求1所述的电子测试系统，还包含: 一第八开关，耦接于该第四后侧端与该第二连接端间，选择性地导通于该第四后侧端与该第二连接端； 其中，当该电子测试系统运作于该测试模式时，该第八开关导通。7.根据权利要求1所述的电子测试系统，还包含一第二讯源端，用以耦接该信号产生器；其中，该切换电路还具有一第二前侧端、一第三前侧端、一第二后侧端与一第三后侧端，该第二前侧端与该第三前侧端耦接该第二讯源端，该第二后侧端与该第三后侧端分别耦接该第一连接端与该第二连接端；该切换电路还控制该第二前侧端与该第二后侧端间的导通，并控制该第三前侧端与该第三后侧端间的导通。8.根据权利要求7所述的电子测试系统，其中，当该电子测试系统运作于该检查模式时，该切换电路运作于一第一切换模式与一第二切换模式；当该切换电路运作于该第一切换模式时，该切换电路于该第二前侧端与该第二后侧端间不导通，于该第三前侧端与该第三后侧端间不导通；当该切换电路运作于该第二切换模式时，该切换电路于该第一前侧端与该第一后侧端间不导通，亦于该第四前侧端与该第四后侧端间不导通。9.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：储新正，陈景聪，李登惠，高嘉人，
申请(专利权)人：创意电子股份有限公司，台湾积体电路制造股份有限公司，
类型：发明
国别省市：