一种长计时链的快速测试方法技术

本发明专利技术涉及一种长计时链的快速测试方法，包括以下步骤：准备n个计数器、n-1个时基选择器、n-1个时基控制模块；将计时周期N拆分为N1、N2...Nn；时钟信号对第1个计数器计数，N1个时钟周期后，第1个计数器达到计数值N1，第1个计数器产生进位信号c1，第1个时基控制模块控制第1个时基选择器选择时钟信号作为第2个计数器的时基；时钟信号对第n个计数器进行计数，经过Nn个时钟周期后，第n个计数器达到计数值N，产生输出结果；计时时间为（N1+N2+...Nn）乘以时钟周期T。采用本发明专利技术的快速测试方法，不仅电路实现简单，而且不改变原设计的结构，保证了每级之间的连接传递，同时大大提高了达到测试时间。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及。
技术介绍
在电路设计过程中，常常要实现以较快的时钟频率进行较长时间计时的功能。我们通常会采用两种方式来实现所需要的计时功能:一是采用一个位数较多计数器，在给定的时钟频率下，计算出规定计时时间所需要的时钟周期数，通过计数器的计数，以该数值作为计数器的比较值，实现计时的功能；ニ是采用几个较小的计数器，进行逐级计数。以图1所示的电路为例，将计时周期数N拆分为N=N1*N2*N3，第一级计数器COUNTl实现CLK到NI的计时，然后以该计数器的输出Cl作为第二级计数器C0UNT2的时基，实现N2的计时，然后再以N2的输出c2作为第三级计数器C0UNT3的时基，实现N3的计时，C0UNT3输出吋，即为所需要的计时时间N*T (T为时钟周期)。在对该功能进行测试的过程中，由于计时链较长，如果按照原有的时钟频率进行常规测试，测试成本高，效率低，以图1所示的电路为例，实际的测试时间也会是N1*N2*N3*T。这样的测试方法明显无法实际应用。通常采用三种方式来实现较快速的测试:ー是提高测试时钟频率，减小时钟周期T，当时钟频率高于设计频率时，测试时间也会相应的缩短；ニ是在计数的过程中本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种长计时链的快速测试方法，其特征在于：包括以下步骤：（1）、准备n个计数器、n?1个时基选择器以及n?1个时基控制模块；（2）、将计时周期N拆分为N1、N2...Nn；（3a）、时钟信号对第1个计数器进行计数，经过N1个时钟周期后，第1个计数器第一次达到计数值N1，产生第一次进位信号c1，第1个时基控制模块的输出信号控制第1个时基选择器选择时钟信号作为第2个计数器的时基；（3b）、时钟信号对第2个计数器进行计数，经过N2个时钟周期后，第2个计数器第一次达到计数值N2，产生第一次进位信号c2，第2个时基控制模块的输出信号控制第2个时基选择器选择时钟信号作为第3个计数器的时基；（3c）、时钟信号...

【技术特征摘要】
1.一种长计时链的快速测试方法，其特征在于:包括以下步骤: (1)、准备n个计数器、n-1个时基选择器以及n-1个时基控制模块； (2)、将计时周期N拆分为N1、N2...Nn ； (3a)、时钟信号对第I个计数器进行计数，经过NI个时钟周期后，第I个计数器第一次达到计数值NI，产生第一次进位信号Cl，第I个时基控制模块的输出信号控制第I个时基选择器选择时钟信号作为第2个计数器的时基； (3b)、时钟信号对第2个计数器进行计数，经过N2个时钟周期后，第2个...

【专利技术属性】
技术研发人员：王少轩，赵忠惠，陈亚宁，张磊，王宁，汪健，
申请(专利权)人：中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心，
类型：发明
国别省市：