用于生成参考扫描链测试数据的测试装置和测试系统制造方法及图纸

一种用于生成参考扫描链测试数据的测试装置包括测试图案生成器和输出数据修改器。该测试图案生成器通过将扫描链测试输入比特序列的预定数目个开始比特置换为预定的开始比特序列来修改该扫描链测试输入比特序列。此外，该测试图案生成器向被测设备提供被修改的扫描链测试输入比特序列。该输出数据修改器修改从该被测设备接收的且由该被修改的扫描链测试输入比特序列所引起的扫描链测试输出比特序列。该扫描链测试输出比特序列通过将扫描链测试输出比特序列的预定数目个结束比特置换为预定的结束比特序列来修改，以获得该参考扫描链测试数据。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于生成参考扫描链测试数据的测试装置和测试系统
根据本专利技术的实施例涉及用于数字化设备的测试概念，尤其涉及用于生成参考扫描链测试数据的测试装置和方法、用于确定有缺陷扫描链的故障位置和故障类型的信息的测试系统和方法。
技术介绍
对于数字化设备的测试，在大多数情况下，经由扫描测试或逻辑内建自测试(LBiST)来对数字化随机逻辑进行测试。这两种测试类型依赖于能够移入测试图案(pattern)并移出测试结果的扫描链(scan chain)。如果扫描链中移位被缺陷阻挡，则扫描测试和LBiST会受到干扰，并且作为该测试的结果，覆盖范围往往会大幅度减少。需要一种快速的受阻链(blocked chain)分析，以识别两个连续的扫描单元与其间的阻隔缺陷。接着，进一步的故障分析可被用来寻找缺陷根源、解决问题并提高产量。在设计过程中所添加在被测设备(DUT)上的附加硬件被认为太昂贵，因为这些技术需要大量的芯片面积。受阻链分析的内在问题在于，如果没有附加硬件，则在某些情况下，故障位置不能被正确地且明确地识别。现存在执行受阻链分析的软件方案，但它们需要已针对分析而被正确配置的DUT的有效仿真模型。此外，还需要相当大的计算能力来对现代化设计的行为进行仿真，所以它可能需要几分钟、几小时甚至几天。为了处理模糊结果，一些软件方案给它们的结果提供了置信水平。对于受阻链分析，Inovys已经提交了专利(US7568139),该专利描述了如何在测试装置上实施公知算法来分析被永久性缺陷阻挡的扫描链。该方案不能处理模糊结果，在这种情况下，它会报告错误的故障位置。
技术实现思路
本专利技术的这个目的是提供一种用于数字化设备的改进型测试概念，以降低测试时间、硬件成本和/或提高故障定位准确度。该目的通过根据权利要求1所述的测试装置、根据权利要求8所述的测试系统或根据权利要求18或19所述的方法来实现。本专利技术的实施例提供了一种用于生成参考扫描链测试数据的测试装置，该测试装置包括测试图案生成器和输出数据修改器。测试图案生成器被配置为通过将扫描链测试输入比特序列的预定数目个开始比特置换为预定的开始比特序列，来修改扫描链测试输入比特序列。测试图案生成器还被配置为向被测设备提供被修改的扫描链测试输入比特序列。输出数据修改器被配置为修改从被测设备接收的、由被修改的扫描链测试输入比特序列所引起的扫描链测试输出比特序列。通过将扫描链测试输出比特序列的预定数目个结束比特置换为预定的结束比特序列来修改扫描链测试输出比特序列，以获得参考扫描链测试数据。根据本专利技术的实施例基于以下中心理念，S卩，通过向无缺陷被测设备提供被修改的测试图案，来仿真被测设备(该设备包括有缺陷扫描链)的行为。为此，测试装置将扫描链测试输入比特序列的一个或多个开始比特和扫描链测试输出比特序列的至少一个结束比特替换为预定的比特序列。以此方式，永久性或暂时性的受阻扫描链的输出可由无缺陷设备来再现。该参考扫描链测试数据可以与有缺陷设备的输出进行比较，以获得与有缺陷设备的故障位置和故障类型(例如，固定为O (stuck-at-Ο)或固定为I (stuck-at-Ι))有关的信息。以此方式，被测设备上不需要附加的硬件；与软件仿真的方案相比，例如，可以通过只报告比较结果来减少测试日志数据，可以显著降低测试时间，便于区分系统错误和随机错误，并且缩短物理故障分析的时间。根据本专利技术的一些实施例涉及包括测试装置的测试系统，测试装置为多个不同的假想故障位置、不同的故障类型和/或不同的扫描链测试输入比特序列确定多个参考扫描链测试数据。测试系统还包括评估单元。所获得的多个扫描链测试数据可以由评估单元与有缺陷设备的输出进行比较，以获得有缺陷设备的有缺陷扫描链的故障位置和故障类型的信息。附图说明下面将参考附图来描述根据本专利技术的实施例，其中:图1是用于生成参考扫描链测试数据的测试装置的框图2是无缺陷设备的扫描链测试的概要说明；图3是有缺陷设备的扫描链测试的概要说明，该扫描链包括扫描触发器3与扫描触发器4之间的固定为O故障；图4是无缺陷设备的扫描链测试的概要说明，再现了扫描触发器3与扫描触发器4之间的固定为O故障；图5是无缺陷设备的扫描链测试的概要说明，再现了扫描触发器3与扫描触发器4之间的固定为I故障；图6a示出了包括奇数个反相器的无缺陷扫描链的扫描链测试的概要说明，再现了扫描触发器3与扫描触发器4之间的固定为I故障；图6b示出了无缺陷设备的扫描链测试的概要说明，再现了扫描触发器3与扫描触发器4之间的固定为O故障和扫描触发器3与扫描触发器4之间的固定为I故障；图7是测试系统的框图8是另一测试系统的框图9是用于生成参考扫描链测试数据的方法的流程图10是用于确定有缺陷扫描链的故障位置和故障类型的信息的方法的流程图。下面，为了减少实施例描述过程中的冗言，相同的标号用于具有相同或类似功能特性的目标或功能性单元，并且其针对附图的描述也将适用于其它附图。具体实施方式图1示出了根据本专利技术实施例的、用于生成参考扫描链测试数据122的测试装置100的框图。测试装置100包括测试图案生成器110和输出数据修改器120。测试装置100可被连接到被测设备130，使得测试图案生成器110可向被测设备130提供测试数据，并且被测设备130可向输出数据修改器120提供输出测试数据。测试图案生成器110通过将扫描链测试输入比特序列102的预定数目个开始比特置换为预定的开始比特序列来修改扫描链测试输入比特序列102。此外，测试图案生成器110向被测设备130提供被修改的扫描链测试输入比特序列112。输出数据修改器120修改从被测设备130接收的、由被修改的扫描链测试输入比特序列112所引起的扫描链测试输出比特序列132。通过将扫描链测试输出比特序列132的预定数目个结束比特置换为预定的结束比特序列来修改扫描链测试输出比特序列132，以获得参考扫描链测试数据122。通过修改扫描链测试输入比特序列102和扫描链测试输出比特序列132，可以由无缺陷设备(良好设备)来再现包括有缺陷扫描链的设备的行为。换言之，被测设备130 (它输出由被修改的扫描链测试输入比特序列112所引起的扫描链测试输出比特序列132)的扫描链可以是无缺陷的。以此方式，能够非常快速地生成用以对有缺陷设备的扫描链输出数据进行评估的参考扫描链测试数据122 (例如，与使用了软件仿真的故障分析相比)。此夕卜，被测设备130 (DUT)上可以不需要额外的硬件。扫描链测试输入比特序列102和扫描链测试输出比特序列132可以对于确定参考扫描链测试数据122所针对的DUT130的扫描链的每个扫描单元(例如，触发器)包括一个比特。因此，预定数目个开始比特和预定数目个结束比特可以在O与扫描链测试输入比特序列102或扫描链测试输出比特序列132的比特数目之间变化。测试装置100可以为待测扫描链内不同位置处的故障或不同的故障类型确定参考扫描链测试数据122。在这种情况下，开始比特的数目和结束比特的数目可以取决于生成参考扫描链测试数据122所针对的扫描链内的假想故障位置。换言之，对于不同的假想故障位置，开始比特的数目和结束比特的数目可以是不同的。例如，开始比特的数目(#sb)力口上结束比特的数目(#eb)可以等于扫描链测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于生成参考扫描链测试数据(122)的测试装置(100)，包括: 测试图案生成器(110)，被配置为通过将扫描链测试输入比特序列(102)的预定数目个开始比特置换为预定的开始比特序列来修改所述扫描链测试输入比特序列(102)，其中，所述测试图案生成器(110)被配置为向被测设备(130)提供被修改的扫描链测试输入比特序列(112);以及 输出数据修改器(120)，被配置为修改从所述被测设备(130)接收的且由所述被修改的扫描链测试输入比特序列(112)所引起的扫描链测试输出比特序列(132)，其中，通过将所述扫描链测试输出比特序列(132)的预定数目个结束比特置换为预定的结束比特序列来修改所述扫描链测试输出比特序列(132)以获得所述参考扫描链测试数据(122)。2.根据权利要求1所述的测试装置，其中，所述预定数目个开始比特和所述预定数目个结束比特取决于生成所述参考扫描链测试数据(122)所针对的扫描链内的假想故障位置。3.根据权利要求1或2所述的测试装置，其中，所述预定数目个开始比特加上所述预定数目个结束比特等于所述扫描链测试输入比特序列(102)的比特数目，并且等于所述扫描链测试输出数据(132)的比特数目。4.根据权利要求1至3中任一项所述的测试装置，其中，所述预定的开始比特序列和所述预定的结束比特序列取决于生成所述参考扫描链测试数据(122)所针对的假想故障类型。5.根据权利要求1至4中任一项所述的测试装置，其中，所述预定的开始比特序列和所述预定的结束比特序列只包括逻辑O或只包括逻辑I。6.根据权利要求1至5中任一项所述的测试装置，其中，输出由所述被修改的扫描链测试输入比特序列(112)所引起的扫描链测试输出比特序列(132)的所述被测设备(130)的扫描链是无缺陷的。7.根据权利要求1至6中任一项所述的测试装置，其中，所述测试图案生成器(110)被配置为向包括有缺陷扫描链的有缺陷被测设备提供未被修改的扫描链测试输入比特序列(102)，并且被配置为从所述有缺陷被测设备的所述有缺陷扫描链获得有缺陷扫描链测试输出比特序列。8.一种测试系 统(700，800)，包括: 根据权利要求1至7中任一项所述的测试装置(100);以及 评估单元(740)，被配置为将从包括有缺陷扫描链的有缺陷被测设备所获得的有缺陷扫描链测试输出比特序列的信息与所述参考扫描链测试数据(122)进行比较，以确定所述有缺陷扫描链的故障位置和故障类型的信息。9.根据权利要求1至7中任一项所述的测试装置或者根据权利要求8所述的测试系统，其中，所述测试图案生成器(110)被配置为通过将相同预定数目个开始比特置换为相同的预定开始比特序列来修改多个不同的扫描链测试输入比特序列(102)，其中，所述输出数据修改器(120)被配置为通过将相同预定数目个结束比特置换为相同的预定结束比特序列来修改由所述多个被修改的扫描链测试输入比特序列(112)所引起的多个扫描链测试输出比特序列(132)。10.根据权利要求9所述的测试装置或测试系统，包括频率确定器(850)，所述频率确定器被配置为基于所述多个被修改的扫描链测试输出比特序列(132)来对于所述扫描链测试输出比特序列(132)的每个比特位置确定发生逻辑I或逻辑O的频率(852)，其中，所确定的发生逻辑I或逻辑O的频率(852)表示所述参考扫描链测试数据(122)。11.根据权利要求9或10所述的测试装置或测试系统，包括切换比特确定器(860)，所述切换比特确定器被配置为确定扫描链测试输出比特序列(132)内的最后一个切换比特位置(862)，其中，所述最后一个切换比特位置(862)表明由所述扫描链输出的所述扫描链测试输出比特序列(132)内的最后一个比特的位置，其中，该比特对于所述多个扫描链测试输出比特序列(132)中的至少一个扫描链测试输出比特序列(132)包括逻辑O并且对于所述多个扫描链测试输出比特序列(132)中的至少一个扫描链测试输出比特序列(132)包括逻辑1，或者所述切换比特确定器(860)被配置为确定第一个固定比特位置(864)，其中，所述第一个固定比特位置(864)表明由待测扫描链输出的扫描链测试输出比特序列(132)内的第一个比特的位置，其中，该比特对于所述多个扫描链测试输出比特序列(132)中的全部扫描链测试输出比特序列(132)包括逻辑O或者对于多个扫描链测试输出比特序列(132)中的全部扫描链测试输出比特序列(132)包括逻辑I。12.根据权利要求1至7或9至11中任一项所述的测试装置或者根据权利要求8至11中任一项所述的测试系统，其中，所述测试图案生成器(110)被配置为通过将多个不同预定数目个开始比特置换为多个不同的预定开始比特序列来修改相同的扫描链测试输入比特序列(102)，以获得多个被修改的扫描链测试输入比特序列(112)，其中，所述输出数据修改器(120)被配置为通过将与所述多个不同预定数目个开始比特对应的多个不同预定数目个结束比特置换为多个不同的预定结束比特序列来修改由所述多个被修改的扫描链测试输入比特序列...

【专利技术属性】
技术研发人员：马库斯·瑟陵，迈克尔·伯劳恩，
申请(专利权)人：爱德万测试新加坡私人有限公司，
类型：
国别省市：