用于测试一个或多个待测设备的测试卡以及测试器制造技术

技术编号:9241306 阅读:181 留言:0更新日期:2013-10-10 05:14
一种用于测试一个或多个待测设备的测试卡,所述测试卡包括被配置为与一个或多个待测设备通信的多个测试资源。所述测试卡还包括被配置来接收测试序列的匹配电路,该测试序列为由一个或多个处理指令跟随至少两个匹配指令。所述匹配指令定义测试资源的群组,所述测试资源将根据所述处理指令来操作。所述匹配电路被配置为根据所述至少两个匹配指令来确定多个测试资源中的给定测试资源是否属于所述群组,并且如果所述给定测试资源属于所述群组,则向所述给定测试资源转发所述处理指令,并且如果所述给定测试资源不属于所述群组,则不向所述给定测试资源转发所述处理指令。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员:杰恩斯·基利恩
申请(专利权)人:爱德万测试新加坡私人有限公司
类型:
国别省市:

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