一种检测电路、检测方法及检测装置制造方法及图纸

技术编号:15507461 阅读:171 留言:0更新日期:2017-06-04 02:08
本发明专利技术提供一种检测电路、检测方法及检测装置,涉及显示技术领域,可以准确检测出显示面板中的电极是否存在故障。该检测电路包括:第一信号线、第二信号线、控制信号线、多个第一控制单元、多个第二控制单元、阵列排布且间隔设置的第一电极和第二电极。第一控制单元用于在控制信号线的电压的控制下将第一信号线的电压传输至与其输出端连接的第一电极;第二控制单元用于在控制信号线的电压的控制下将第二信号线的电压传输至与其输出端连接的第二电极。本发明专利技术的实施例用于显示装置的检测。

Detection circuit, detection method and detection device

The invention provides a detection circuit, a detection method and a detection device, which relates to the display technology field and can accurately detect whether the electrode in the display panel is faulty or not. The detection circuit comprises a first signal line, a second signal line, a control signal line, a plurality of first control units, a plurality of second control units, an array arranged and spaced first electrodes and second electrodes. The first control unit used in the control of voltage control signal line under voltage transmission to the first signal line and the output end connected to the first electrode; second control unit used in the control of voltage control signal line under voltage transmission line to the second signal and the output end is connected with the second electrode. Embodiments of the present invention are used for the detection of a display device.

【技术实现步骤摘要】
一种检测电路、检测方法及检测装置
本专利技术涉及显示
,尤其涉及一种检测电路、检测方法及检测装置。
技术介绍
目前,在显示面板的制造过程中,在工程调试(英文全称:engineeringtrial,英文缩写:ET)阶段(即显示面板中的电极与集成电路(英文全称:intergratedircuit,英文缩写:IC)和柔性电路板(英文全称:flexibleprintedcircuit,英文缩写:FPC)未焊接之前的阶段)可以根据图1所示的检测电路检测显示面板中的电极。如图1所示,该检测电路中包括多个晶体管,其中,每个晶体管的漏极连接一个电极,每个晶体管的栅极连接控制信号端CTSW,每个晶体管的源极连接输入信号端CTVCOM,在检测过程中,控制信号端CTSW输入高电平信号,输入信号端CTVCOM输入参考电压,如此可以通过观察每个电极对应的显示区域所显示的灰阶是否相同,来检测显示面板中的电极是否存在故障,在每个电极对应的显示区域所显示的灰阶均相同的情况下,确定显示面板中的电极不存在故障,在某个电极对应的显示区域所显示的灰阶与其他电极对应的显示区域所显示的灰阶不同的情况下,确定显示面板中的电极存在故障。但是根据图1所示的检测电路检测显示面板中的电极时,在显示面板中的两个电极短路的情况下,由于短路的两个电极所对应的显示区域与其他电极对应的显示区域所显示的灰阶仍然相同,因此,显示面板中的两个电极短路的情况下,仍然会确定显示面板中的电极不存在故障,从而无法准确检测出显示面板中的电极是否存在故障。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供一种检测电路、检测方法及检测装置,可以准确检测出显示面板中的电极是否存在故障。为达到上述目的,本专利技术的实施例采用如下技术方案:第一方面,提供一种检测电路,所述电路包括:第一信号线、第二信号线、控制信号线、多个第一控制单元、多个第二控制单元、阵列排布且间隔设置的第一电极和第二电极;位于阵列的奇数行的第一个电极为第一电极,位于阵列的偶数行的第一个电极为第二电极;或者,位于阵列的奇数行的第一个电极为第二电极,位于阵列的偶数行的第一个电极为第一电极;所述第一控制单元的输入端连接所述第一信号线;所述第一控制单元的控制端连接所述控制信号线,多个所述第一控制单元的输出端分别与一个第一电极连接;所述第一控制单元用于在所述控制信号线的电压的控制下将所述第一信号线的电压传输至与其输出端连接的第一电极;所述第二控制单元的输入端连接所述第二信号线;所述第二控制单元的控制端均连接所述控制信号线,多个所述第二控制单元的输出端分别与一个第二电极连接;所述第二控制单元用于在所述控制信号线的电压的控制下将所述第二信号线的电压传输至与其输出端连接的第二电极。可选的,所述第一控制模块包括:第一晶体管;所述第一晶体管的源极为所述第一控制模块的输入端,所述第一晶体管的漏极为所述第一控制模块的输出端,所述第一晶体管的栅极为所述第一控制模块的控制端。可选的,所述第二控制模块包括:第二晶体管;所述第二晶体管的源极为所述第二控制模块的输入端,所述第二晶体管的漏极为所述第二控制模块的输出端,所述第二晶体管的栅极为所述第二控制模块的控制端。可选的,所述晶体管均为N型开关晶体管,或者所述晶体管均为P型开关晶体管。可选的,所述电极为显示面板中的公共电极。第二方面,提供一种检测方法,所述方法用于根据第一方面任一项所述的检测电路检测显示面板中的电极是否存在故障;所述方法包括:所述第一信号线输入第一电压,所述第二信号线输入第二电压,所述第一电压与所述第二电压不同且均不为零;确定多个所述第一电极对应的所有显示区域的灰阶值是否均相同,以及确定多个所述第二电极对应的所有显示区域的灰阶值是否均相同,其中,所述第一电极、所述第二电极均与显示面板中的显示区域一一对应;若多个所述第一电极对应的所有显示区域的灰阶值均相同,且多个所述第二电极对应的所有显示区域的灰阶值均相同的情况;则确定所述显示面板中的电极无故障。可选的,所述方法还包括:确定显示面板中是否有显示区域的灰阶值为所述显示面板不工作时所述显示区域的灰阶值;若至少一个显示区域的灰阶为所述显示面板不工作时所述显示区域的灰阶;则确定该至少一个显示区域对应的第一电极和/或第二电极存在开路故障。可选的,所述方法还包括:确定是否有相邻的显示区域的灰阶值相同且不为所述显示面板不工作时所述显示区域的灰阶值;若相邻显示区域的灰阶值相同且不为所述显示面板不工作时所述显示区域的灰阶值,则确定该相邻的显示区域对应的第一电极和第二电极存在短路故障。第三方面,提供一种检测装置,所述装置包括第一方面任一项所述的检测电路。本专利技术实施例提供的检测电路,包括:第一信号线、第二信号线、控制信号线、多个第一控制单元、多个第二控制单元、阵列排布且间隔设置的第一电极和第二电极,位于阵列的奇数行的第一个电极为第一电极,位于阵列的偶数行的第一个电极为第二电极;或者,位于阵列的奇数行的第一个电极为第二电极,位于阵列的偶数行的第一个电极为第一电极。其中,第一控制单元的输入端连接第一信号线;第一控制单元的控制端连接控制信号线,多个第一控制单元的输出端分别与一个第一电极连接,第一控制单元用于在控制信号线的电压的控制下将第一信号线的电压传输至与其输出端连接的第一电极;第二控制单元的输入端连接第二信号线;第二控制单元的控制端连接控制信号线,多个第二控制单元的输出端分别与一个第二电极连接,第二控制单元用于在控制信号线的电压的控制下将第二信号线的电压传输至与其输出端连接的第二电极。如此本专利技术实施例提供的检测电路在输入第一信号线的电压与输入第二信号线的电压不同且均不为零时,可以通过显示面板中的显示区域所显示的灰阶值来确定显示面板中的电极是否存在故障,从而可以准确检测出显示面板中的电极是否存在故障。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为现有技术中的检测电路的电路图;图2为本专利技术实施例提供的检测电路的示意性结构图;图3为本专利技术实施例提供的检测电路的电路图一;图4为本专利技术实施例提供的检测方法的步骤流程图;图5为本专利技术实施例提供的显示面板的各个显示区域的示意图一;图6为本专利技术实施例提供的显示面板的各个显示区域的示意图二;图7为本专利技术实施例提供的检测电路的电路图二;图8为本专利技术实施例提供的显示面板的各个显示区域的示意图三;图9为本专利技术实施例提供的检测电路的电路图三。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。本专利技术所有实施例中采用的晶体管均可以为薄膜晶体管或场效应管或其他特性相同的器件,根据在电路中的作用本专利技术的实施例所采用的晶体管主要为开关晶体管。由于这里采用的开关晶体管的源极、漏极是对称的,所以其源极、漏极是可以互换的。在本本文档来自技高网...
一种检测电路、检测方法及检测装置

【技术保护点】
一种检测电路,其特征在于,包括:第一信号线、第二信号线、控制信号线、多个第一控制单元、多个第二控制单元、阵列排布且间隔设置的第一电极和第二电极;位于阵列的奇数行的第一个电极为第一电极,位于阵列的偶数行的第一个电极为第二电极;或者,位于阵列的奇数行的第一个电极为第二电极,位于阵列的偶数行的第一个电极为第一电极;所述第一控制单元的输入端连接所述第一信号线;所述第一控制单元的控制端连接所述控制信号线,多个所述第一控制单元的输出端分别与一个第一电极连接;所述第一控制单元用于在所述控制信号线的电压的控制下将所述第一信号线的电压传输至与其输出端连接的第一电极;所述第二控制单元的输入端连接所述第二信号线;所述第二控制单元的控制端均连接所述控制信号线,多个所述第二控制单元的输出端分别与一个第二电极连接;所述第二控制单元用于在所述控制信号线的电压的控制下将所述第二信号线的电压传输至与其输出端连接的第二电极。

【技术特征摘要】
1.一种检测电路,其特征在于,包括:第一信号线、第二信号线、控制信号线、多个第一控制单元、多个第二控制单元、阵列排布且间隔设置的第一电极和第二电极;位于阵列的奇数行的第一个电极为第一电极,位于阵列的偶数行的第一个电极为第二电极;或者,位于阵列的奇数行的第一个电极为第二电极,位于阵列的偶数行的第一个电极为第一电极;所述第一控制单元的输入端连接所述第一信号线;所述第一控制单元的控制端连接所述控制信号线,多个所述第一控制单元的输出端分别与一个第一电极连接;所述第一控制单元用于在所述控制信号线的电压的控制下将所述第一信号线的电压传输至与其输出端连接的第一电极;所述第二控制单元的输入端连接所述第二信号线;所述第二控制单元的控制端均连接所述控制信号线,多个所述第二控制单元的输出端分别与一个第二电极连接;所述第二控制单元用于在所述控制信号线的电压的控制下将所述第二信号线的电压传输至与其输出端连接的第二电极。2.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述第一控制模块包括:第一晶体管;所述第一晶体管的源极为所述第一控制模块的输入端,所述第一晶体管的漏极为所述第一控制模块的输出端,所述第一晶体管的栅极为所述第一控制模块的控制端。3.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述第二控制模块包括:第二晶体管;所述第二晶体管的源极为所述第二控制模块的输入端,所述第二晶体管的漏极为所述第二控制模块的输出端,所述第二晶体管的栅极为所述第二控制模块的控制端。4.根据权利要求2或3所述的电路,其特征在于,所述晶体...

【专利技术属性】
技术研发人员:王珍乔赟孙建詹小舟黄飞张寒秦文文丛乐乐王争奎
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
类型:发明
国别省市:北京,11

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