一种像素电路的电流检测方法、显示面板以及显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术所提供的像素电路的电流检测方法、显示面板以及显示装置，通过控制第一开关管以及第二开关管的开启和关断的状态，采集驱动晶体管的驱动电流以及发光元件的补偿电流，实现了对驱动晶体管的阈值电压Vth以及发光元件OLED老化的双重补偿，补偿了像素间的亮度差，避免了显示亮度不均匀、显示画面均一性差的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种像素电路的电流检测方法、显示面板以及显示装置
本专利技术涉及显示
，更具体地说，涉及一种像素电路的电流检测方法、显示面板以及显示装置。
技术介绍
随着科技的不断发展，有机发光二极管(OLED)凭借其亮度高、驱动电压低、节能等优势得到了快速的发展。通常，在有机发光二极管显示装置中，需要通过像素电路对发光元件(如OLED)进行驱动控制。常用的像素电路如图1所示，包括一个开关管T1、一个存储电容C1以及一个驱动晶体管T2，当开关管T1响应于扫描线的扫描信号S1，将数据线的数据信号Vdata输入到节点N1，对存储电容C1进行充电。然后驱动晶体管T2根据存储电容C1的电压，调整驱动电流，进而控制发光元件发光。然而，由于工艺以及驱动晶体管老化等原因，会导致像素电路中驱动晶体管的阈值电压Vth发生漂移，使得发光元件上的驱动电流大小不同，进而会出现显示装置上的显示亮度不均匀、画面均一性差的问题。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供了一种像素电路的电流检测方法、显示面板以及显示装置，通过采集驱动晶体管的驱动电流以及发光元件的补偿电流，进而实现对驱动晶体管的阈值电压Vth以及发光元件OLED老化的双重补偿，避免了显示亮度不均匀、显示画面均一性差的问题。为实现上述目的，一方面本专利技术提供如下技术方案：一种像素电路的电流检测方法，其中，所述像素电路包括：发光元件；驱动晶体管，用于驱动所述发光元件；第一开关管，用于响应于所述扫描线的扫描信号，将相应数据线的数据信号提供给所述驱动晶体管的栅极；第二开关管，用于响应于另一条所述扫描线的扫描信号，将相应参考线的参考信号提供给所述驱动晶体管的源极；存储电容，用于存储所述驱动晶体管的栅极和源极之间的电压，并将充电后的电压作为所述驱动晶体管的驱动电压；所述电流检测方法包括：第一侦测时段，开启所述第一开关管以及所述第二开关管，所述数据线输入第一数据电压信号，所述参考线输入第一参考电压信号；第二侦测时段，关闭所述第一开关管，开启所述第二开关管，获取所述参考线上的第一检测电流；第三侦测时段，开启所述第一开关管，关闭所述第二开关管，所述数据线输入第二数据电压信号；第四侦测时段，关闭所述第一开关管，开启所述第二开关管，获取所述参考线上的第二检测电流。另一方面，本专利技术还提供了一种显示面板，包括：呈阵列排布的像素单元，所述像素单元包括上述像素电路；多条数据线，用于为所述像素单元提供数据信号；多条扫描线，用于为所述像素单元提供扫描信号；多条参考线，用于为所述像素单元提供参考信号；其中，所述显示面板应用于上述的像素电路的电流检测方法。又一方面，本专利技术还提供了一种显示装置，包括前述的显示面板。与现有技术相比，本专利技术所提供的技术方案具有以下优点：本专利技术所提供的像素电路的电流检测方法，通过控制第一开关管以及第二开关管的开启和关断的状态，采集驱动晶体管的驱动电流以及发光元件的电流，实现了对驱动晶体管的阈值电压Vth以及发光元件OLED老化的双重补偿，补偿了像素间的亮度差，避免了显示亮度不均匀、显示画面均一性差的问题。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为现有技术中常用的像素电路的电路原理图；图2为本专利技术实施例提供的一种像素电路的结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的一种像素电路的电流检测方法的开关控制时序图；图4为本专利技术实施例提供的一种像素电路某时段的电流走向示意图；图5为本专利技术实施例提供的一种像素电路又一时段的电流走向示意图；图6为本专利技术实施例提供的一种像素电路又一时段的电流走向示意图；图7为本专利技术实施例提供的一种像素电路又一时段的电流走向示意图；图8为本专利技术实施例提供的一种像素电路又一时段的电流走向示意图；图9为本专利技术实施例提供的一种像素电路又一时段的电流走向示意图；图10为本专利技术实施例提供的一种显示面板的结构示意图；图11为本专利技术实施例提供的一种显示面板的又一结构示意图；图12为本专利技术实施例提供的一种显示面板的又一结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。专利技术人考虑到，由于工艺以及驱动晶体管老化等原因，会导致像素电路中驱动晶体管T2的阈值电压Vth发生漂移，使得发光元件上的驱动电流大小不同，进而会出现显示装置上的显示亮度不均匀、画面均一性差的问题。因此，本实施例提供了一种像素电路的电流检测方法，通过检测像素的驱动电流，对驱动电流进行补偿，避免了显示亮度不均匀、显示画面均一性差的问题。请参阅图2，图2为本实施例提供的电流检测方法所基于的像素电路的结构示意图，该像素电路包括：发光元件OLED、驱动晶体管T2、第一开关管T1、第二开关管T3以及存储电容C1。具体的，该像素电路中各器件的连接关系为：第一开关管T1的漏极与相应的数据线data相连，栅极与对应的扫描线S1相连，源极分别与存储电容C1的第一端以及驱动晶体管T2的控制端相连，且其公共连接端作为第一节点N1。驱动晶体管T2的漏极接第一电压信号PVDD，源极分别与存储电容C1的第二端、发光元件OLED的阳极以及第二开关管T3的漏极相连，且公共连接端作为第二节点N2，发光元件OLED的阴极接第二电压信号PVEE。第二开关管T3的栅极与对应的扫描线S2相连，源极与相应的参考线ref相连。结合上述像素电路中器件的连接关系，其电路原理为：在第一侦测时段，第一开关管T1响应于扫描线S1的扫描信号，将相应数据线data的数据信号Vdata提供给驱动晶体管T2的栅极，即图中第一节点N1处，对存储电容C1充电。第二开关管T3响应于另一条扫描线S2的扫描信号，将相应参考线ref的参考信号Vref提供给驱动晶体管T2的源极，即图中第二节点N2处，对发光元件OLED进行阳极复位。存储电容C1用于存储驱动晶体管T2的栅极和源极之间的电压，即节点N1和节点N2之间的电压之差，并将充电后的电压作为驱动晶体管T2的驱动电压Vgs，此时，Vgs＝Vdata-Vref。当存储电容C1上的充电电压(Vdata-Vref)高于驱动晶体管T2的阈值电压Vth时，驱动晶体管T2通过第二节点N2，将与存储电容C1存储的驱动电压Vgs成正比的电流供给发光元件OLED，从而使发光元件OLED发光。在第二侦测时段，第二开关管T3用作驱动晶体管T2和参考线ref之间的输出路径。此时，驱动晶体管T2将与存储电容C1存储的驱动电压Vgs成正比的电流供给第二节点N2，并通过第二开关管T3输出至参考线ref，由与参考线ref相连的数据驱动器采集。具体的，如图3所示，图3为本实施例提供的一种电流检测方法的开关控制时序图，该电流检测方法包括：在第一侦测时段T4，扫描线S1以及扫描线S2的扫描信号均为高电平，开启第一开关管T1以及第二开关管T3，所述数本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种像素电路的电流检测方法，其特征在于，所述像素电路包括：发光元件；驱动晶体管，用于驱动所述发光元件；第一开关管，用于响应于所述扫描线的扫描信号，将相应数据线的数据信号提供给所述驱动晶体管的栅极；第二开关管，用于响应于另一条所述扫描线的扫描信号，将相应参考线的参考信号提供给所述驱动晶体管的源极；存储电容，用于存储所述驱动晶体管的栅极和源极之间的电压，并将充电后的电压作为所述驱动晶体管的驱动电压；所述电流检测方法包括：第一侦测时段，开启所述第一开关管以及所述第二开关管，所述数据线输入第一数据电压信号，所述参考线输入第一参考电压信号；第二侦测时段，关闭所述第一开关管，开启所述第二开关管，获取所述参考线上的第一检测电流；第三侦测时段，开启所述第一开关管，关闭所述第二开关管，所述数据线输入第二数据电压信号；第四侦测时段，关闭所述第一开关管，开启所述第二开关管，获取所述参考线上的第二检测电流。

【技术特征摘要】
1.一种像素电路的电流检测方法，其特征在于，所述像素电路包括：发光元件；驱动晶体管，用于驱动所述发光元件；第一开关管，用于响应于所述扫描线的扫描信号，将相应数据线的数据信号提供给所述驱动晶体管的栅极；第二开关管，用于响应于另一条所述扫描线的扫描信号，将相应参考线的参考信号提供给所述驱动晶体管的源极；存储电容，用于存储所述驱动晶体管的栅极和源极之间的电压，并将充电后的电压作为所述驱动晶体管的驱动电压；所述电流检测方法包括：第一侦测时段，开启所述第一开关管以及所述第二开关管，所述数据线输入第一数据电压信号，所述参考线输入第一参考电压信号；第二侦测时段，关闭所述第一开关管，开启所述第二开关管，获取所述参考线上的第一检测电流；第三侦测时段，开启所述第一开关管，关闭所述第二开关管，所述数据线输入第二数据电压信号；第四侦测时段，关闭所述第一开关管，开启所述第二开关管，获取所述参考线上的第二检测电流。2.根据权利要求1所述的电流检测方法，其特征在于，还包括：补偿计算时段，关闭所述第一开关管以及所述第二开关管，控制单元根据所述第一检测电流以及所述第二检测电流计算得到补偿数据电压信号。3.根据权利要求2所述的电流检测方法，其特征在于，所述控制单元根据所述第一检测电流以及所述第二检测电流计算得到补偿数据电压信号，包括：计算所述第二检测电流等于所述第一检测电流时的补偿数据电压信号的电压值。4.根据权利要求1所述的电流检测方法，其特征在于，在所述第一侦测时段之前，还包括：初始化时段，开启所述第一开关管以及所述第二开关管，使所述驱动晶体管的栅极和源极分别接收相应数据线的数据信号以及参考线的参考信号；预充电时段，开启所述第一开关管，关闭所述第二开关管，利用预充电电压对所述参考线进行预充电；放电时段，开启所述第一开关管以及所述第二开关管，使所述驱动晶体管的像...

【专利技术属性】
技术研发人员：李玥，刘刚，
申请(专利权)人：上海天马有机发光显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31