能够进行安全扫描的集成电路制造技术

技术编号:15051852 阅读:135 留言:0更新日期:2017-04-05 22:56
本公开涉及能够进行安全扫描的集成电路。在集成电路处于安全功能模式中时并且当访问存储在可连接到扫描链中的寄存器中与安全相关的数据的企图包括局部且选择性地在扫描使能树的相应分支处将扫描使能信号设为有效时,集成电路感测该企图。当检测到这个企图时,集成电路(i)产生导致与安全相关的数据的复位的安全警告,和/或(ii)接合旁路开关以将扫描链与相应的输出端子断开,从而阻止将与安全相关的数据经由扫描链移出IC。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路(IC)测试,具体而言,涉及集成电路和/或装置的扫描测试。
技术介绍
可以在硬件制造过程的多个阶段测试集成电路,对于一些产品是用于客户环境中的硬件维护和/或故障查找。称为扫描测试的测试IC的传统方法依赖于以可切换的方式在一个或多个扫描链中连接的寄存器(例如触发器或锁存器),扫描链提供了对IC的内部节点的访问。测试图可以借助扫描链移入,随后使时钟信号脉冲化以测试所选IC功能,从而可以移出结果并与预期结果相比较以检测是否有任何测试失败.传统扫描测试的一个问题在于在一些电路中有可能将诸如安全码的敏感数据移出电路.存储在半导体芯片中的安全码例如在电信行业中广泛用于硬件识别和认证,以进入安全状态或模式,用于数据加密等。如果可以借助扫描链访问负责管理安全码的电路,那么通过将IC从功能模式切换到扫描或调试模式,和/或通过操纵扫描使能信号以移出安全信息,数据就会易于遭受到未授权的访问.用以保护IC中的安全信息免于基于扫描的攻击的传统方案是在扫描链之外保持接收这种安全信息的寄存器,由此使得不能从IC的扫描端口访问所述寄存器.但这个方案的缺点是随之减小了IC的扫描测试覆盖率.因此,能够在不减小IC的可测试性的情况下维护安全数据是有利的。附图说明本专利技术的实施例在本文中通过示例示出,并且不受附图的限制,在附图中,相似的参考标记指示相似的要素.为了简单和清楚,示出了附图中的要素,但所述要素不一定按照比例绘制.通过示例,依据参考附图的以下详细说明,公开的实施例的各个方面、特征和益处会变得充分清楚,在附图中:图1是根据本专利技术的实施例的集成电路(IC)的示意性方框图;图2是根据本专利技术的实施例的图1的IC的电路的示意性方框图;图3是根据本专利技术的可替换的实施例的图2的电路的逻辑电路的示意性方框图;图4是根据本专利技术的实施例的可以用于图1的IC中的逻辑电路的示意性方框图;及图5-7是用图形示出根据本专利技术的实施例的可以在图1的IC中产生的各个信号的时序图。具体实施方式在此公开了本专利技术的详细的示例性实施例.但本公开内容提及的特定结构和功能细节仅仅表示为了说明本专利技术的示例性实施例。本专利技术的实施例可以以许多可替换的形式实施,不应解释为仅局限于本文阐述的实施例.本文使用的单数形式“a”、“an”和“the”旨在还包括复数形式,除非上下文明确地另有表示.还会理解,术语“包括”、“具有”和/或“包含”指定所述特征、步骤或部件的存在,但不排除一个或多个其他特征、步骤或部件的存在或添加.还应注意,在一些可替换的实施例中,特定功能或操作可以不按照附图中所示的顺序进行。当提及使得控制信号、状态位或其他相关功能特征或元件进入其逻辑真和逻辑假状态时,分别使用了本文使用的术语“设为有效”和“设为无效”.如果逻辑真状态是逻辑电平1,那么逻辑假状态就是逻辑电平0.可替换地,如果逻辑真状态是逻辑电平0,那么逻辑假状态就是逻辑电平1。在各个可替换的实施例中,本文所述的每一个逻辑信号都可以使用正或负逻辑电路产生。例如,在负逻辑信号的情况下,信号为低电平有效,逻辑真状态对应于逻辑电平0.可替换地,在正逻辑信号的情况下,信号为高电平有效,逻辑真状态对应于逻辑电平1.根据本专利技术,通过在IC保持在安全功能模式中的情况下,当访问存储在可连接到扫描链的寄存器中的与安全相关的数据的企图包括在扫描使能树的相应分支处局部且选择性地将扫描使能信号设为有效时,将IC配置为感测该企图解决了传统IC中的至少一些上述问题。当检测到这个企图时,IC通过以下操作来自动做出响应:(i)产生安全警告,其导致与安全相关的数据的复位;和/或(ii)使旁路开关将扫描链与相应的输出端子断开,从而阻止将敏感数据移出扫描链。在一个实施例中,本专利技术是一种集成电路(IC),包括多个寄存器,所述多个寄存器可连接在两条或更多条扫描链中,用于响应于扫描使能信号被设为有效而扫描测试该IC.安全警告发生器可操作地连接到扫描链,并且响应于当扫描使能信号在扫描链的第二子集处没有被设为有效时扫描使能信号在扫描链的第一子集处被设为有效而将安全警告信号设为有效.IC自动可配置为响应于安全警告信号被安全警告发生器设为有效,而防止从所述多个寄存器中的至少一些寄存器读取数据.在另一个实施例中,本专利技术是一种保护IC免于安全漏洞的方法.该方法包括将可连接在两条或更多条扫描链中的多个寄存器配置为响应于扫描使能信号被设为有效而扫描测试IC;将可操作地连接到扫描链的安全警告发生器配置为响应于当扫描使能信号在扫描链的第二子集处没有被设为有效时扫描使能信号在扫描链的第一子集处被设为有效而将安全警告信号设为有效;及将IC配置为响应于安全警告信号被安全警告发生器设为有效,而防止从所述多个寄存器中的至少一些寄存器读取数据.在又一个实施例中,本专利技术是一种当IC中的多个寄存器连接在两条或更多条扫描链中用于扫描测试IC时保护IC免于安全漏洞的方法。该方法包括检测在扫描使能信号在扫描链的第二子集处没有被设为有效的同时扫描使能信号在扫描链的第一子集处被设为有效的情况;及响应于检测的情况,自动将IC配置为防止从所述多个寄存器中的至少一些寄存器读取数据.在一些实施例中,安全警告发生器被配置为响应于扫描使能信号在扫描使能树的根部和/或在扫描链中的每一条扫描链处被设为有效而将安全警告信号设为有效.图1-7示出了IC和扫描测试IC的方法的示例性实施例,该方法可以用于例如通过防止经由IC的扫描链未授权地访问安全或专有数据来抑制或避免安全漏洞.提供给安全数据的保护使得IC能够例如通过避免使得被配置为接收安全信息的寄存器不能连接到扫描链的传统实施的技术来实现相对高的可测试性,由此实现了所希望的IC的高扫描测试覆盖率.现在参考图1,显示了根据本专利技术的实施例的IC100的示意性方框图.IC100包括扫描测试电路,并且因此具有多条扫描链,出于例示的目的,在图1中仅显示了其中的两条,标记为110和120.如本领域中已知的,扫描链可以通过以下方式在触发器(图1中未示出)的选定子集中的每一个触发器的输入处设置多路复用器或mux(图1中同样未示出;例如参见图2)来构成:触发器可以连接(i)到彼此以形成串联移位寄存器,及(ii)作为IC功能的功能元件。在图2中更详细地显示了扫描链的示例性结构.本领域普通技术人员会理解,其他扫描链结构可以类似地用于本专利技术的可替换实施例中。可以通过将FUNCTION_MODE信号设为无效,且将SCAN_MODE和SCAN_ENABLE信号设为有效来将IC100从功能模式重配置为扫描模式.IC100包括形成扫描使能树112的一组连接。扫描使能树112的根部包括外围管脚或焊盘102,外部产生的信号可以施加到外围管脚或焊盘102以在根部处将扫描使能信号设为有效或无效。扫描使能树112进一步包括多个分支,图1中仅显示了一些分支.例如,分支104连接到扫描使能树112,并且被配置为将SCAN_ENABLE信号施加到扫描链110。标记为106的另一个分支类似地连接到扫描使能树112,并且被配置为将SCAN_ENABLE信号施加到扫描链120.图1还示出了扫描使能树112的分支的另一集合108.在一个实施例中,集合108中的一些或全部分支被配置为将S本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种集成电路,包括:多个寄存器,被配置为连接在两条或更多条扫描链中,所述两条或更多条扫描链用于响应于扫描使能信号被设为有效而扫描测试所述集成电路;及安全警告发生器,连接到所述两条或更多条扫描链,响应于扫描使能信号在所述两条或更多条扫描链的第一子集处被设为有效而将安全警告信号设为有效,其中,所述集成电路能够被配置为响应于安全警告信号被安全警告发生器设为有效,而防止从所述多个寄存器中的至少一些寄存器读取数据。

【技术特征摘要】
1.一种集成电路,包括:多个寄存器,被配置为连接在两条或更多条扫描链中,所述两条或更多条扫描链用于响应于扫描使能信号被设为有效而扫描测试所述集成电路;及安全警告发生器,连接到所述两条或更多条扫描链,响应于扫描使能信号在所述两条或更多条扫描链的第一子集处被设为有效而将安全警告信号设为有效,其中,所述集成电路能够被配置为响应于安全警告信号被安全警告发生器设为有效,而防止从所述多个寄存器中的至少一些寄存器读取数据。2.根据权利要求1所述的集成电路,进一步包括旁路开关,所述旁路开关连接在具有所述多个寄存器中的所述至少一些寄存器中的至少一个寄存器的扫描链的输入端子与输出端子之间,其中,所述旁路开关能够配置为在安全警告信号被设为有效时自动将输入端子与输出端子相互连接以绕过所述扫描链.3.根据权利要求1所述的集成电路,进一步包括具有多个分支的扫描使能树,每一个分支都被配置为将扫描使能信号施加到所述两条或更多条扫描链中的相应的一条扫描链,其中,当扫描使能信号在所述多个分支中的至少一个分支处被设为有效时并且当扫描使能信号没有在所述多个分支中的至少另一个分支处被设为有效时,安全警告发生器将安全警告信号设为有效.4.根据权利要求3所述的集成电路,其中:所述扫描使能树包括主干,所述主干电连接到所述多个分支和集成电路的外围管脚;及当在扫描使能树的主干处或者在集成电路的外围管脚处将扫描使能信号设为有效时,安全警告发生器将安全警告信号设为有效.5.根据权利要求1所述的集成电路,进一步包括旁路开关,所述旁路开关能够配置为当安全警告信号被安全警告发生器设为有效时,防止将数据从具有所述多个寄存器中的所述至少一些寄存器中的至少一个寄存器的扫描链移出到集成电路的输出端子.6.根据权利要求1所述的集成电路,其中,所述安全警告发生器包括:第一寄存器,响应于扫描使能信号被设...

【专利技术属性】
技术研发人员:郝萍莉张旺根
申请(专利权)人:飞思卡尔半导体公司
类型:发明
国别省市:美国;US

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