集成电路的综合性能评价方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种集成电路的综合性能评价方法和装置，该方法包括：获取N个待测集成电路的相关参数的测量值，并基于测量值得到基本项分值和附加项分值；若各待测集成电路的基本项分值都小于参考值，则采用基于阈值的评价方法对各待测集成电路进行排序得到最终排序结果；基于最终排序结果输出综合性能的评价结果。基于阈值的评价方法包括以下步骤：根据各待测集成电路的基本项分值进行预排序；若预排序后的任意相邻两个待测集成电路的基本项分值的差值小于预设阈值，则基于两个待测集成电路的基本项分值和附加项分值对预排序结果进行调整得到排序结果。通过综合考虑了集成电路的基本项和附加项的影响，使集成电路的评价更为实用、合理、全面和客观。

Integrated performance evaluation method and device for integrated circuit

Method and device for comprehensive performance evaluation of the present invention relates to an integrated circuit, the method comprises: obtaining a measurement N integrated circuit to be tested values of the relevant parameters, and based on the measurement to basic score and additional score; the basic score if the measured integrated circuit is less than the reference value, the threshold the evaluation method to get the final results of the sorting sorting test integrated circuits based on the final results; based on the output of comprehensive performance evaluation results. The threshold evaluation method comprises the following steps: Based on pre sorting according to the basic score of each testing integrated circuit; if the difference between any adjacent pre sorted two integrated circuit to be tested the basic score less than a preset threshold value, based on the adjustment are ranked the two basic score of integrated circuit to be tested and additional a value of the results of pre sorting. By taking into account the influence of the basic items and additional items, the evaluation of integrated circuits is more practical, reasonable, comprehensive and objective.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路领域，特别是涉及一种集成电路的综合性能评价方法和装置。
技术介绍
可编程逻辑阵列(FPGA)由于其具有可编程、灵活易升级、费用低等特点广泛应用于航空航天、通信、雷达、音视频处理等领域。在FPGA器件的应用中，为了选出最优的FPGA器件，用户和检测机构通常需要对不同厂家的FPGA器件进行对比评价。然而，如何全面对FPGA器件进行合理的评价以便客观的评估不同厂商之间FPGA器件的基本性能和附加性能，成为FPGA器件产业化发展中关注的一个焦点。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种全面并实用的集成电路的性能评价方法和装置。一种集成电路的综合性能评价方法，包括：获取N个待测集成电路的相关参数的测量值，并基于所述测量值得到基本项分值和附加项分值；若各待测集成电路的基本项分值都小于参考值，则采用基于阈值的评价方法对所述各待测集成电路进行排序得到最终排序结果；基于所述最终排序结果输出综合性能的评价结果；所述基于阈值的评价方法包括以下步骤：根据各待测集成电路的基本项分值进行预排序；若预排序后的任意相邻两个待测集成电路的基本项分值的差值小于预设阈值，则基于两个待测集成电路的基本项分值和附加项分值对预排序结果进行调整得到排序结果。一种集成电路的综合性能评价装置，其特征在于，包括：参数获取模块，基于阈值的评价模块、排序模块和评价模块；所述参数获取模块，用于获取N个待测集成电路的相关参数的测量值，并基于所述测量值得到基本项分值和附加项分值；所述排序模块，用于在各待测集成电路的基本项分值都小于参考值时，调用所述基于阈值的评价模块对所述各待测集成电路进行排序得到最终排序结果；所述评价模块，用于基于所述最终排序结果输出综合性能的评价结果；所述基于阈值的评价模块包括预排序模块和调整模块；所述预排序模块，用于根据各待测集成电路的基本项分值进行预排序；所述调整模块，用于在预排序后的任意相邻两个待测集成电路的基本项分值的差值小于预设阈值时，基于两个待测集成电路的基本项分值和附加项分值对预排序结果进行调整得到排序结果。上述集成电路的综合性能评价方法，在各待测集成电路的基本项分值都小于参考值时，采用基于阈值的评价方法对各待测集成电路进行排序，具体的，先将各集成电路根据基本项分值进行排序，在相邻的两个集成电路的差值小于预设阈值时，结合基本项分值和附加项分值对预排序结果进行调整，综合考虑了集成电路的基本项和附加项的影响，使集成电路的评价更为实用、合理、全面和客观。附图说明图1为一种实施例的集成电路的性能评价方法的流程图；图2为一个实施例的基于阈值的评价方法进行排序的步骤说明图；图3为另一种实施例的集成电路的性能评价方法的流程图；图4为一个实施例的集成电路的性能评价方法的流程图；图5为一个实施例中两两分值差值小于阈值时的评价示意图；图6为一个实施例的集成电路的性能评价装置的功能模块示意图。具体实施方式一种集成电路的综合性能评价方法，如图1所示，包括以下步骤：S102：获取N个待测集成电路的相关参数的测量值，并基于测量值得到基本项分值和附加项分值。具体的，基于FPGA器件的相关参数项，测量其参数值并与标称值比较，基于比较结果分别计算其基本项分值(Di)和附加项分值(Ei)。基本项表示满足FPGA器件基本功能和性能要求的参数项及其指标，其表征的是该FPGA器件是否达到了设计要求的规范值。附加项表示FPGA器件的有关参数在满足基本的功能和性能要求前提下所能获得的更好的性能指标值，其表征的是该FPGA器件超出设计要求规范值的余量。S104：将各待测集成电路的基本项分值与参考值进行比较，若各待测集成电路的基本项分值都小于参考值，则执行步骤：S106：采用基于阈值的评价方法对各待测集成电路进行排序得到最终排序结果。本实施例中的参考值为基本项总分值。将各待测集成电路的基本项分值分别与参考值进行比较，若各待测集成电路的基本项分值都小于参考值，则采用基于阈值的评价方法对各待测集成电路进行排序得到最终排序结果。基于阈值的评价方法，如图2所示，包括：S1061：根据各待测集成电路的基本项分值进行预排序。预排序根据各待测集成电路的基本项分值的顺序进行。设D为基本项分值，E为附加项分值，R为预设阈值。在一种实施方式中，预排序基于待检测集成电路的基本项分值自小至大进行。假设预排序的结果为：D1≤Di≤Dj≤DNS1062：依次将预排序后的相邻两个待测集成电路的基本项分值的差值与预设阈值进行比较，若小于，则执行步骤S1063，若大于，则执行步骤S1064。S1063：基于两个待测集成电路的基本项分值和附加项分值对预排序结果进行调整得到最终排序结果。S1064：维持预排序的结果不变。若预排序后的任意相邻两个待测集成电路的基本项分值的差值大于与预设阈值，则维持预排序的结果不变。即若Dj-Di≥R，其中i＜j,i∈N,j∈N，则第j#FPGA排在第i#FPGA前面。预设阈值表征了不同待测集成电路的差异性水平，两个待测集成电路的基本项分值的差异超出该阈值，即基本项分值的差值的绝对值大于预设阈值，则认为该两个待测集成电路的整体性能水平能够被区分。若两个待测集成电路的基本项分值的差值小于该预设阈值，则认为该两个待测集成电路的整体性能水平不能够被区分，则根据两个待测集成电路的基本项分值和附加项分值对预排序结果进行调整。即在两个待测集成电路的整体性能水平不能够区分时，结合待测集成电路的基本项分值和附加项分值的情况对预排序结果进行调整，综合考虑了待测集成电路的基本项和附加项的影响。预设阈值可根据用户对评价的精细要求设定。若用户对评价的精细要求高，可设定一个较小的阈值，若用户对评价的要求粗略，可设定一个较大的阈值。步骤106之后，还包括：S108：基于最终排序结果输出对待测集成电路的评价结果。上述的待测集成电路的综合性能评价方法，在各待测集成电路的基本项分值都小于参考值时，采用基于阈值的评价方法对各待测集成电路进行排序，具体的，先将各待测集成电路根据基本项分值进行排序，在相邻的两个待测集成电路的差值小于预设阈值时，结合基本项分值和附加项分值对预排序结果进行调整，综合考虑了集成电路的基本项和附加项的影响，使集成电路的评价更为实用、合理、全面和客观。具体的，若Dj-Di<R，其中i＜j,i∈N,j∈N，则步骤S1063，基于两个待测集成电路的基本项分值和附加项分值对预排序结果进行调整。具体的几下几种情况，一、若前一个待测集成电路的基本项分值和附加项的和小于后一个的待测集成电路的基本项分值和附加项的和，则维持预排序结果不变。即，若Ei+Di<Ej+Dj，则维持原有排序，将第j个待测集成电路排在第i个待测集成电路前面。二、若前一个待测集成电路的基本项分值和附加项的和大于后一个的待测集成电路的基本项分值和附加项的和，则在预排序结果中交换二者的位置。即Ei+Di>Ej+Dj，则交换二者的位置，将第i个待测集成电路排在第j个待测集成电路A前面。三、若前一个待测集成电路的基本项分值和附加项的和等于后一个的待测集成电路的基本项分值和附加项的和，即若Ei+Di＝Ej+Dj，此时可分2种情况进行判定：1)、若Dj>Di，则维持原有排序，将第j个待测集成电路排在第i个本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种集成电路的综合性能评价方法，其特征在于，包括：获取N个待测集成电路的相关参数的测量值，并基于所述测量值得到基本项分值和附加项分值；若各待测集成电路的基本项分值都小于参考值，则采用基于阈值的评价方法对所述各待测集成电路进行排序得到最终排序结果；基于所述最终排序结果输出综合性能的评价结果；所述基于阈值的评价方法包括以下步骤：根据各待测集成电路的基本项分值进行预排序；若预排序后的任意相邻两个待测集成电路的基本项分值的差值小于预设阈值，则基于两个待测集成电路的基本项分值和附加项分值对预排序结果进行调整得到排序结果。

【技术特征摘要】
1.一种集成电路的综合性能评价方法，其特征在于，包括：获取N个待测集成电路的相关参数的测量值，并基于所述测量值得到基本项分值和附加项分值；若各待测集成电路的基本项分值都小于参考值，则采用基于阈值的评价方法对所述各待测集成电路进行排序得到最终排序结果；基于所述最终排序结果输出综合性能的评价结果；所述基于阈值的评价方法包括以下步骤：根据各待测集成电路的基本项分值进行预排序；若预排序后的任意相邻两个待测集成电路的基本项分值的差值小于预设阈值，则基于两个待测集成电路的基本项分值和附加项分值对预排序结果进行调整得到排序结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，若各所述待测集成电路中，M个待测集成电路的基本项分值等于所述参考值，则执行以下步骤：将所述M个待测集成电路根据附加项分值进行排序得到第一部分排序结果；采用基于阈值的评价方法对基本项分值小于所述参考值的N-M个所述待测集成电路进行排序得到第二部分排序结果；根据所述第一部分排序结果和所述第二部分排序结果得到各待测集成电路的最终排序结果；其中M<N。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，若各待测集成电路的基本项分值都等于所述参考值，则根据附加项分值对所述待测集成电路进行排序得到最终排序结果。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预排序基于所述待检测集成电路的基本项分值自小至大进行；若排序后的任意相邻两个待测集成电路中后一个待测集成电路与前一个待测集成电路的基本项分值的差值小于预设阈值，所述基于两个待测集成电路的基本项分值和附加项分值对预排序结果进行调整的步骤包括：若前一个待测集成电路的基本项分值和附加项分值的和大于后一个的待测集成电路的基本项分值和附加项分值的和，则在预排序结果中交换二者的位置。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在相邻两个待测集成电路的基本项分值和附加项分值的和相同时，若两个待测集成电路的基本项分值相等，则两个待测集成电路在预排序中的排序并列。6.一种集成电路的综合性能评价装置，其特征在于，包括：参数获取模块，基于阈...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗军，罗宏伟，刘焱，李军求，王小强，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所，
类型：发明
国别省市：广东;44