【技术实现步骤摘要】
本专利技术主要是关于金属氧化物半导体场效应晶体管(M0SFET),更确切地说,是关于一种用于超级结型MOSFET器件的终止结构。
技术介绍
功率MOSFET典型应用于需要功率转换和功率放大的器件中。对于功率转换器件来说,市场上可买到的代表性的器件就是双扩散MOSFET (DMOSFEt)0在一个典型的晶体管中,大部分的击穿电压BV都由漂移区承载,为了提供较高的击穿电压BV,漂移区要轻掺杂。然而,轻掺杂的漂移区会产生高导通电阻Rdsm。对于一个典型的晶体管而言,Rdsm与BV2 5成正比。因此,对于传统的晶体管,随着击穿电压BV的增加,Rdson也急剧增大。超级结是一种众所周知的半导体器件。超级结晶体管提出了一种可以在维持很高的断开状态击穿电压(BV)的同时,获得很低的导通电阻(Rdsm)的方法。超级结器件含有形成在漂移区中的交替的P —型和N —型掺杂立柱。在MOSFET的断开状态时,在相对很低的电压下,立柱就完全耗尽,从而能够维持很高的击穿电压(立柱横向耗尽,因此整个p和n立柱耗尽)。对于超级结,导通电阻Rdsm的增加与击穿电压BV成正比,比传统的半导体结构增 ...
【技术保护点】
一个半导体器件的终止结构,其特征在于,包括:一个通道停止场板,位于半导体材料的边缘附近的半导体材料的表面上,其中通道停止场板利用半导体材料构成一个肖特基型停止通道。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:管灵鹏,安荷·叭剌,朱廷刚,马督儿·博德,
申请(专利权)人:万国半导体股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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