半导体器件的制作方法技术

技术编号:8074811 阅读:171 留言:0更新日期:2012-12-12 21:20
本发明专利技术公开了一种半导体器件的制作方法,包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底中形成有CMOS器件,在所述半导体衬底的上表面形成有氟硅玻璃层;在所述氟硅玻璃层上形成富硅材料层;以及在所述富硅材料层上形成MEMS器件。本发明专利技术通过在CMOS器件制作完成后,MEMS器件制作之前形成富硅材料层可以有效地解决在工艺温度超过400℃,并且保温时间较长的热处理过程中,氟聚集形成气泡而导致结构空洞和表面粗糙不平的问题,进而有效地避免了给后续工艺以及器件的性能带来的影响。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种半导体器件的制作方法,包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底中形成有CMOS器件,在所述半导体衬底的上表面形成有氟硅玻璃层;在所述氟硅玻璃层上形成富硅材料层;以及在所述富硅材料层上形成MEMS器件。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘煊杰吴秉寰谢红梅
申请(专利权)人:中芯国际集成电路制造上海有限公司
类型:发明
国别省市:

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