【技术实现步骤摘要】
本说明书实施例涉及半导体制造，尤其涉及一种信号时序信息评估方法及测试方法、装置及存储介质。
技术介绍
1、在集成电路中，时序信息十分重要，时序信息的准确性，决定了芯片设计时序的准确性。
2、随着超大规模集成电路工艺的迅速发展，集成电路中的元器件数目不断增多，集成电路中导线寄生参数对时序的影响越来越大，如何在时序信息中加入导线寄生参数，成为提高标准单元时序信息准确性的关键。
3、当前，对于导线寄生参数的影响，一般按照电阻电容电路进行处理，然而标准单元间的导线网络复杂，采用传统的电阻电容电路无法正确反映实际导线网络，评估得到的时序信息有误。
4、因此，如何准确地评估标准单元间时序信息，有待本领域技术人员解决。
技术实现思路
1、本说明书实施例解决的问题是提供一种信号时序信息评估方法及测试方法、装置及存储介质，能够提高标准单元间的信号时序信息的评估准确性。
2、首先，本说明书实施例提供一种信号时序信息评估方法，包括：
3、获取标准单元间...
【技术保护点】
1.一种信号时序信息评估方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的信号时序信息评估方法，其特征在于，所述获取标准单元间互连区域的导线连接信息，包括：
3.根据权利要求1所述的信号时序信息评估方法，其特征在于，所述提取各层导线所对应的标准单元的寄生参数，生成对应的寄生参数网表，包括：
4.根据权利要求3所述的信号时序信息评估方法，其特征在于，在采用预设的仿真模型对所述标准单元仿真时，按照所述导线连接顺序连接各层导线，在所述仿真模型中构建与所述导线连接信息相对应的导线网络，以得到标准单元间对应的仿真时序信息，包括：
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【技术特征摘要】
1.一种信号时序信息评估方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的信号时序信息评估方法，其特征在于，所述获取标准单元间互连区域的导线连接信息，包括：
3.根据权利要求1所述的信号时序信息评估方法，其特征在于，所述提取各层导线所对应的标准单元的寄生参数，生成对应的寄生参数网表，包括：
4.根据权利要求3所述的信号时序信息评估方法，其特征在于，在采用预设的仿真模型对所述标准单元仿真时，按照所述导线连接顺序连接各层导线，在所述仿真模型中构建与所述导线连接信息相对应的导线网络，以得到标准单元间对应的仿真时序信息，包括：
5.根据权利要求1所述的评估方法，其特征在于，...
【专利技术属性】
技术研发人员：钱茂程，于海洋，蔡燕飞，郁扬，韩斌，吴宇东，
申请(专利权)人：中芯国际集成电路制造上海有限公司，
类型：发明
国别省市：
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