半导体器件制造技术

技术编号:3205252 阅读:151 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种适用于高频放大器的半导体器件,具有:由n型GaAs层构成的集电极接触层、由形成在上述集电极接触层上的n型GaAs层构成的第1集电极层、由形成在上述第1集电极层上的p型GaAs层构成的第2集电极层、由形成在上述第2集电极层上的n型InGaP层构成的第3集电极层、由形成在上述第3集电极层上,杂质浓度比上述第3集电极层高的n型InGaP层构成的第4集电极层、由形成在上述第4集电极层上的n型GaAs层构成的第5集电极层、由形成在上述第5集电极层上的p型GaAs层构成的基极层以及由形成在上述基极层上的n型InGaP层构成的发射极层。(*该技术在2024年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体器件,尤其涉及适用于高频放大器的半导体器件。
技术介绍
采用InGaP/GaAs异质结双极型晶体管的大功率放大器组合件,广泛应用在移动电话等方面。在此,利用InGap层作为发射极材料,与AlGaAs层相比,能提高器件的可靠性。并且,功率放大器的效率是提高连续通话时间的重要特性。提高功率放大器的效率的有效方法,有降低偏致电压Vce offset。降低偏压Vce offset的方法,可以采用和发射极一样,集电极也用宽带隙材料的双异质结双极型晶体管。但是,在集电极层采用厚的InGaP层的情况下,由于InGaP层中的电子迁移率比GaAs层中的低,所以,若把集电极层全部置换成InGaP层,则高频特性显著下降。所以,若仅仅考虑降低偏压Vce offset,则如图13所示,仅在与GaAs基极层2相连接的集电极层的一部分上,形成薄的InGaP层3,其余的集电极层用GaAs层3形成。这种结构是有效的方法。但是,在此情况下,若InGaP层3有序化,则在InGaP集电极层3和GaAs集电极层4的界面上形成“十”的界面电荷。这时的能带图示于图14内。受该界面电荷的影响,放大器的失真特本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体器件,其特征在于具有:由n型GaAs层构成的集电极接触层、由形成在上述集电极接触层上的n型GaAs层构成的第1集电极层、由形成在上述第1集电极层上的P型GaAs层构成的第2集电极层、由形成在上述第2集电极层上的n型InGaP层构成的第3集电极层、由形成在上述第3集电极层上,杂质浓度比上述第3集电极层高的n型InGaP层构成的第4集电极层、由形成在上述第4集电极层上的n型GaAs层构成的第5集电极层、由形成在上述第5集电极层上的P型GaAs层构成的基极层、以及由形成在上述基极层上的n型InGaP层构成的发射极层。

【技术特征摘要】
JP 2003-5-28 151380/20031.一种半导体器件,其特征在于具有由n型GaAs层构成的集电极接触层、由形成在上述集电极接触层上的n型GaAs层构成的第1集电极层、由形成在上述第1集电极层上的P型GaAs层构成的第2集电极层、由形成在上述第2集电极层上的n型InGaP层构成的第3集电极层、由形成在上述第3集电极层上,杂质浓度比上述第3集电极层高的n型InGaP层构成的第4集电极层、由形成在上述第4集电极层上的n型GaAs层构成的第5集电极层、由形成在上述第5集电极层上的P型GaAs层构成的基极层、以及由形成在上述基极层上的n型InGaP层构成的发射极层。2.一种半导体器件,其特征在于具有由n型GaAs层构成的集电极接触层、由形成在上述集电极接触层上的n型GaAs层构成的第1集电极层、由形成在上述第1集电极层上的n型InGaP层构成的第2集电极层、由形成在上述第2集电极层上,杂质浓度比上述第2集电极层高的n型InGaP层构成的第3集电极层、由形成在上述第3集电极层上的n型GaAs层构成的第4集电极层、由形成在上述第4集电极层上的P型GaAs层构成的基极层、以及由形成在上述基极层上的n型InGaP层构成的发射极层。3.一种半导体器件,其特征在于具有由n型GaAs层构成的集电极接触层、由形成在上述集电极接触层上的n型GaAs层构成的第1集电极层、由形成在上述第1集电极层上的n型AlxGa(1-x)As(X;0→Y)缓变层构成的第2集电极层、由形成在上述第2集电极层上的n型AlyGa(1-y)As层构成的第3集电极层、由形成在上述第3集电极层上的n型AlzGa(1-z)As(Z;Y→0)缓变层构成的第4集电极层、由形成在上述第4集电极层上的P型GaAs层构成的基极层、以及由形成在上述基极层上的n型InGaP层构成的发射极层。4.一种半导体器件,其特征在于具有由n型GaAs层构成的集电极接触层、由形成在上述集电极接触层上的n型GaAs层构成的第1集电极层、由形成在上述第2集电极层上的n型AlyGa(1-y)As层构成的第2集电极层、由形成在上述第1集电极层上的n型AlxGa(1-x)As(X;Y→0)缓变层构成的第3集电极层、由形成在上...

【专利技术属性】
技术研发人员:杉山亨野津哲郎森宏平
申请(专利权)人:株式会社东芝
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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