一种用于LED倒装固晶的基板及利用其固晶制备LED的方法技术

技术编号:10700754 阅读:182 留言:0更新日期:2014-12-03 10:17
一种用于LED倒装固晶的基板及利用其固晶制备LED的方法,涉及用于LED倒装固晶的基板及利用其固晶制备LED的方法。本发明专利技术解决现有用于LED倒装固晶的基板使用过程中会出现孔洞及断层的问题。基板由绝缘载体、导电金属层、反应金属层及反光金属层组成。利用其固晶制备LED的方法:将锡膏分别涂覆至间隙两侧,并放置LED芯片,加热至锡膏熔化,冷却至室温,得到利用一种用于LED倒装固晶的基板固晶制备的LED。本发明专利技术用于一种用于LED倒装固晶的基板及利用其固晶制备LED。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种用于LED倒装固晶的基板及利用其固晶制备LED的方法,涉及用于LED倒装固晶的基板及利用其固晶制备LED的方法。本专利技术解决现有用于LED倒装固晶的基板使用过程中会出现孔洞及断层的问题。基板由绝缘载体、导电金属层、反应金属层及反光金属层组成。利用其固晶制备LED的方法:将锡膏分别涂覆至间隙两侧,并放置LED芯片,加热至锡膏熔化,冷却至室温,得到利用一种用于LED倒装固晶的基板固晶制备的LED。本专利技术用于一种用于LED倒装固晶的基板及利用其固晶制备LED。【专利说明】—种用于LED倒装固晶的基板及利用其固晶制备LED的方法
本专利技术涉及用于LED倒装固晶的基板及利用其固晶制备LED的方法。
技术介绍
随着发光二极管(LED)的日益普及,人们对其光品质、性能、可靠性等方面的要求越来越高。现有LED倒装固晶工艺如AuSn共晶焊、Ag浆烧结等存在效率低、成本高、可靠性差等缺点。相比之下,以Sn-Ag-Cu等锡膏回流焊的固晶工艺前景最好,可广泛应用于倒装LED支架封装,Chip on Board (COB)封装、Chip on Flexible (COF)封装等。但是由于Ag反射率较高,在传统正装支架封装和COB封装中普遍用于基板表层反光材料。其做法是在作为电路联通的Cu表层通过电镀、溅射等方式覆一厚度1-5微米的Ag层。随着LED倒装固晶工艺的进展,这种基板金属层结构被用于采用锡膏回流焊的固晶工艺的倒装LED封装。常见的结构如支架封装结构中的Ag/Cu/环氧树脂,COB封装结构中的Ag/Cu/A1N及Ag/CuAl2O3等。相应地,需要更加优化的固晶及封装工艺。通过一系列研究,现有用于LED倒装固晶的基板金属,Cu表面Ag层厚度约为2 μ m。当采用Sn-Ag-Cu锡膏回流焊时,根据锡膏量及焊接工艺的不同,焊点界面组织存在两种情况。一是锡膏量少,焊接时间短的情况下。焊接过程中焊点界面处的Ag未完全溶解至液态焊料内。此时在焊料与基板表面的Ag层间形成Ag3Sn金属间化合物。在LED服役过程中,Ag层逐渐向焊料内扩散,并使Ag3Sn金属间化合物厚度增长。当Ag层由于扩散而完全消耗时,在Ag3Sn金属间化合物与Cu层间出现孔洞及断层。另一种情况是锡膏量多,焊接时间较长的情况下。基板Cu表面Ag层在焊接过程中完全溶解至液态焊料内。此时在焊料与基板Cu层间形成的金属间化合物为Cu6Srv在LED服役过程中,Cu层逐渐向焊料内扩散,并使Cu6Sn5金属间化合物厚度增长。同时在Cu6Sn5金属间化合物于基板Cu层间形成新的化合物层Cu3Sn。Cu3Sn金属间化合物的出现及粗化会导致大量孔洞的出现并造成断层。发现此种Ag/Cu金属层结构在回流焊过程中与焊料间接头抗高温时效性能差,极易在界面处形成孔洞及脱层,严重影响其长期可靠性。
技术实现思路
本专利技术是要解决现有用于LED倒装固晶的基板使用过程中会出现孔洞及断层的问题,而提供了一种用于LED倒装固晶的基板及利用其固晶制备LED的方法。 一种用于LED倒装固晶的基板由绝缘载体、导电金属层、反应金属层及反光金属层组成;绝缘载体上层设有导电金属层,导电金属层上设有反应金属层,反应金属层上设有反光金属层,且导电金属层、反应金属层及反光金属层的中间位置设有贯通的间隙。 利用一种用于LED倒装固晶的基板固晶制备LED的方法步骤如下: 将锡膏通过印刷或点胶方式分别涂覆至用于LED倒装固晶的基板上层的间隙两侦牝然后在锡膏处放置LED芯片,并将涂覆有锡膏的用于LED倒装固晶的基板加热至锡膏熔化,熔化5s以上后冷却至室温,得到利用一种用于LED倒装固晶的基板固晶制备的LED。 本专利技术的优点:本专利技术通过基板表层金属结构与成分设计,结合优化的焊接工艺,在保障基板高反射率的同时,实现了焊接接头界面组织结构的控制,有效抑制LED长期服役过程中界面孔洞及脱层。焊后的LED结构内锡膏所处位置的Ag完全溶解于焊料内部,避免了由于残留Ag层扩散形成的孔洞及断层。此时的焊料与基板金属层的界面反应主要基于焊料内的Sn与基板上的反应金属层。以该反应金属层为Ni为例,该界面反应形成的金属间化合物具有很高的稳定性,可以避免LED长期服役过程中由于Cu3Sn的形成及粗化造成的孔洞问题。从而使LED寿命大幅提升。此外,除了与焊料接触的位置以外,基板表层的Ag并未溶解。可以为LED提供极高的光反射率,从而提升LED的光效。 【专利附图】【附图说明】 图1为本专利技术一种用于LED倒装固晶的基板结构示意图; 图2为本专利技术在基板相应位置涂覆锡骨后结构不意图; 图3为本专利技术在涂覆锡膏位置上放置LED芯片未焊接结构示意图; 图4为本专利技术在涂覆锡膏位置上放置LED芯片焊接后结构示意图。 【具体实施方式】 【具体实施方式】一:结合图1,本实施方式是一种用于LED倒装固晶的基板由绝缘载体1、导电金属层2、反应金属层3及反光金属层4组成;绝缘载体I上层设有导电金属层2,导电金属层2上设有反应金属层3,反应金属层3上设有反光金属层4,且导电金属层2、反应金属层3及反光金属层4的中间位置设有贯通的间隙5。 反应金属层3用于与锡膏6反应,同时形成稳定的金属间化合物。 间隙5宽度取决于LED芯片两电极间隙宽度,应保证该间隙5宽度小于或等于LED芯片电极宽度。 本【具体实施方式】的优点:本【具体实施方式】通过基板表层金属结构与成分设计,结合优化的焊接工艺,在保障基板高反射率的同时,实现了焊接接头界面组织结构的控制,有效抑制LED长期服役过程中界面孔洞及脱层。焊后的LED结构内锡膏6所处位置的Ag完全溶解于锡膏6内部,避免了由于残留Ag层扩散形成的孔洞及断层。此时的锡膏6与基板金属层的界面反应主要基于锡膏6内的Sn与基板上的反应金属层3。以该反应金属层3为Ni为例,该界面反应形成的金属间化合物具有很高的稳定性,可以LED避免长期服役过程中由于Cu3Sn的形成及粗化造成的孔洞问题。从而使LED寿命大幅提升。此外,除了与焊料接触的位置以外,基板表层的Ag并未溶解。可以为LED提供极高的光反射率,从而提升LED的光效。 【具体实施方式】二:本实施方式与【具体实施方式】一的不同点在于:所述的绝缘载体I为陶瓷、玻璃或闻分子材料。其它与【具体实施方式】一相同。 【具体实施方式】三:本实施方式与【具体实施方式】一或二之一的不同点在于:所述的导电金属层2为Cu导电金属层。其它与【具体实施方式】一或二相同。 【具体实施方式】四:本实施方式与【具体实施方式】一至三之一的不同点在于:所述的反应金属层3为Ni金属层;所述的反应金属层3厚度为2 μ m-5 μ m。其它与【具体实施方式】 一至三相同。 【具体实施方式】五:本实施方式与【具体实施方式】一至四之一的不同点在于:所述的反光金属层4为Ag金属层;所述的反光金属层4厚度为500nm-2 μ m。其它与【具体实施方式】一至四相同。 【具体实施方式】六:本实施方式与【具体实施方式】一至五之一的不同点在于:所述的间隙5的宽度为100μηι-500μηι。其它与【具体实施方式】一至五相同。 【具体实施方式】七:结合图2至图4,本实施方式本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种用于LED倒装固晶的基板,其特征在于:一种用于LED倒装固晶的基板由绝缘载体(1)、导电金属层(2)、反应金属层(3)及反光金属层(4)组成;绝缘载体(1)上层设有导电金属层(2),导电金属层(2)上设有反应金属层(3),反应金属层(3)上设有反光金属层(4),且导电金属层(2)、反应金属层(3)及反光金属层(4)的中间位置设有贯通的间隙(5)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘洋孙凤莲张洪林
申请(专利权)人:哈尔滨理工大学
类型:发明
国别省市:黑龙江;23

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