【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种可堆叠式半导体封装结构,特别是涉及一种内含低模流薄膜(Low Modules Film)的可堆叠式半导体封装结构。 背录技术请参考图1,为现有可堆叠式半导体封装结构的剖视示意图。现有可堆叠 式半导体封装结构1包括第一基板11、芯片12、间隔物(Spacer)13、第二基板 14、复数条第一导线15及第一封胶材料16。第一基板11具有第一表面111及第二表面U2。芯片12具有第一表面121 及第二表面122,芯片12的第二表面122利用黏胶层17黏附在第一基板11 的第一表面111,芯片12的第一表面121利用复数条第二导线18电连接至第 一基板11的第--表面111。间隔物13黏附在芯片12的第一表面121上。第 二基板14具有第一表面141及第二表面142,第二基板14的第二表面142黏 附在该间隔物13上,第二基板14的第一表面141上具有复数个第一焊垫143 及复数个第二焊垫144。第二基板14的面积以俯视观之会大于芯片12的面积, 因此需要利用间隔物13做支撑,以防止第二基板14压到第二导线18。第一导线15电连接第二基板14的第一 ...
【技术保护点】
一种可堆叠式半导体封装结构,其特征在于,包括:一第一基板,具有一第一表面及一第二表面;一芯片,位于该第一基板的第一表面,且电连接至该第一基板的第一表面;一低模流薄膜(LowModulesFilm),位于该芯片 之上;一第二基板,位于该低模流薄膜上,该第二基板具有一第一表面及一第二表面,该第二基板的第一表面上具有复数个第一焊垫及复数个第二焊垫,该低模流薄膜的面积依该第二基板的面积而调整,以支撑该第二基板;复数条第一导线,电连接该第二 基板的该第一焊垫至该第一基板的第一表面;及一第一封胶 ...
【技术特征摘要】
1、 一种可堆叠式半导体封装结构,其特征在于,包括一第一基板,具有一第一表面及一第二表面;一芯片,位于该第一基板的第一表面,且电连接至该第一基板的第一表面;一低模流薄膜(Low Modules Film),位于该芯片之上;一第二基板,位于该低模流薄膜上,该第二基板具有一第一表面及一第二 表面,该第二基板的第一表面上具有复数个第一焊垫及复数个第二焊垫,该低 模流薄膜的面积依该第二基板的面积而调整,以支撑该第二基板;复数条第一导线,电连接该第二基板的该第一焊垫至该第一基板的第--表 面;及一第一封胶材料,包覆该第一基板的第一表面、该芯片、该低模流薄膜、 部分该第二基板及该第一导线,且暴露出该第二基板的第一表面上的该第二焊 垫。2、 如权利要求1所述的可堆叠式半导体封装结构,其特征在于,更包括 复数条第二导线,用以电连接该芯片及该第一基板的第一表面,该芯片黏附在 该第一基板的第一表面上,低模流薄膜的上表面的水平高度高于该第二导线的 最高处。3、 如权利要求2所述的可堆叠式半导体封装结构,其特征在于,该第二基板的面积大于该芯片的面积,该低模流薄膜延伸至...
【专利技术属性】
技术研发人员:卢勇利,李政颖,叶荧财,
申请(专利权)人:日月光半导体制造股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
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