公开了双栅线阵列基板，其中，任一组双栅线及与其相邻的两组双栅线和相邻的两条数据线限定区域内的两个像素对中，每个像素对中的像素单元分别连接相邻的两条数据线中相同的数据线，数据线延伸方向上两个像素对中的相邻的两个像素单元分别连接相邻的两条数据线中不同的数据线；任一组双栅线延伸方向上相邻的两个像素对中，一个像素对中的两个像素单元所连接的数据线与另一个像素对中的两个像素单元所连接的数据线不同但是相邻；数据线延伸方向上相邻的两个像素单元分别连接与其各自相邻的传输扫描信号不同的栅线，任一组双栅线延伸方向上相邻的两个像素单元分别连接与其各自相邻的传输扫描信号不同的栅线。该双栅线阵列基板可以提高像素检出率。
【技术实现步骤摘要】
一种双栅线阵列基板、测试方法、显示面板和显示装置
本公开的实施例涉及显示领域，更具体地涉及一种双栅线阵列基板、测试方法、显示面板和显示装置。
技术介绍
一般而言，例如根据制造材料的不同，显示装置可以分为阴极射线管显示器CRT，等离子显示器PDP，液晶显示器LCD、发光二极管LED显示器、有源发光二极管OLED显示器等。目前，诸如LCD和LED显示器等的平板显示器已经逐步取代了例如CRT等的传统显示器，广泛地应用于各种行业，成为大多数电子设备必不可少的组成部件。在诸如LCD和LED显示器等的显示器中，阵列(array)基板是一种主要组件。在阵列基板中，像素单元周期性地排列。每个像素单元可以包含薄膜晶体管(TFT)和像素电极，并且通过数据线和栅线与TFT连接来驱动每个像素电极。一般而言，数据线连接到薄膜晶体管的源极，栅线连接到薄膜晶体管的栅极，像素电极连接到薄膜晶体管的漏极。在单栅线阵列基板中，假设阵列基板的结构是N*M个像素单元，则该单栅线阵列基板可以包括N个栅线和M个数据线，在栅线和数据线的相交处设置有像素单元，不同的栅线和数据线的组合可以驱动不同的像素单元。为了降低产品的成本，提供了一种双栅线(dualgate)阵列基板。与上述单栅线阵列基板相比，在双栅线阵列基板中，数据线的数量基本上可以降低一半，而栅线的数量基本上增加了一倍。由于在双栅线阵列基板中数据线的数量的减少，连接数据线的驱动电路(IC)的成本也相应减少，因此可以降低产品的成本。然而，在对双栅线阵列基板进行阵列测试(ArrayTest)中，现有的双栅线阵列基板往往会导致像素检出率低的问题，导致产品品质控制低下，进而导致相关成本提高。例如，氧化铟锡(ITO)残留导致的像素不良是双栅线阵列基板生产过程中会遇到的一种现象。然而，在对现有技术的双栅线阵列基板进行阵列测试中，在一些情况下可能无法检出导电材料残留导致的像素不良。因此存在对改进的双栅线阵列基板的需求。
技术实现思路
根据本公开的一个方面，公开了一种双栅线阵列基板。所述双栅线阵列基板包括多组双栅线、多条数据线及设置于由多组双栅线及多条数据线限定区域的多个像素对，其中，每组所述双栅线包括分别用于传输第一扫描信号和第二扫描信号的两条栅线，在每组所述双栅线中两条栅线的相对方位相同，每个所述像素对包括两个像素单元，任一组双栅线及与其相邻的两组双栅线和相邻的两条数据线限定区域内的两个所述像素对中，每个像素对中的两个像素单元分别连接所述相邻的两条数据线中相同的数据线，在数据线延伸方向上所述两个像素对中的相邻的两个像素单元分别连接所述相邻的两条数据线中不同的数据线；在所述任一组双栅线延伸方向上相邻的两个所述像素对中，一个像素对中的两个像素单元所连接的数据线与另一个像素对中的两个像素单元所连接的数据线不同但是相邻；以及在数据线延伸方向上相邻的两个像素单元分别连接与其各自相邻的传输扫描信号不同的栅线，在任一组双栅线延伸方向上相邻的两个像素单元分别连接与其各自相邻的传输扫描信号不同的栅线。根据本公开的实施例，每个所述像素单元包括像素电极及薄膜晶体管；所述薄膜晶体管的栅极与所述栅线连接，源极与所述数据线连接，漏极与所述像素电极连接。根据本公开的实施例，所述像素电极具有不同的大小和/或形状。根据本公开的实施例，所述像素电极被布置成条状结构或三角形结构。根据本公开的实施例，所述薄膜晶体管为以下之一：无机薄膜晶体管，或有机薄膜晶体管。根据本公开的实施例，所述第一扫描信号和第二扫描信号时序不同。根据本公开的实施例，所述双栅线阵列基板还包括公共电极。根据本公开的另一个方面，公开了一种对上述双栅线阵列基板进行测试的方法，其中，沿所述数据线延伸方向对每个栅线顺序编号，所述编号从1开始，所述方法包括：向编号为1+3i的栅线提供相同时序的扫描信号，i为自然数，并执行以下步骤：(a)向相邻两条数据线中的一条数据线传输数据信号，若被驱动的像素单元和与所述被驱动的像素单元相邻的任何一个像素单元同时被驱动，则判定所述被驱动的像素单元和所述与所述被驱动的像素单元相邻的任何一个像素单元之间可能存在短路；(b)中断向所述相邻两条数据线中的所述一条数据线传输数据信号，向所述相邻两条数据线中的另一条数据线传输数据信号，若被驱动的像素单元和与所述被驱动的像素单元相邻的任何一个像素单元同时被驱动，则判定所述被驱动的像素单元和所述与所述被驱动的像素单元相邻的任何一个像素单元之间可能存在短路；中断提供任何数据信号和扫描信号，向编号为2+3i的栅线提供相同时序的扫描信号，并执行上述步骤(a)和(b)；以及中断提供任何数据信号和扫描信号，向编号为3+3i的栅线提供相同时序的扫描信号，并执行上述步骤(a)和(b)。根据本公开的另一个方面，公开了一种显示面板，至少包括如上所述的双栅线阵列基板。根据本公开的另一个方面，公开了一种显示装置，至少包括如上所述的显示面板。上述公开的双栅线阵列基板，可以在导电材料(例如ITO)残留而导致相邻像素单元短路或互通的情况下，提高像素检出率，提高产品品控，进而可以提高产品质量，节省成本。附图说明现在参照附图，附图仅是示例并且未必按比例绘制，其中：图1示意性地说明了一种双栅线阵列基板；图2示意性地说明了具有导电材料残留的图1的双栅线阵列基板；图3示意性地说明了根据本公开的一个示例实施例的双栅线阵列基板；图4示意性地说明了根据本公开的另一个示例实施例的双栅线阵列基板；以及图5示意性地说明了根据本公开的另一个示例实施例的双栅线阵列基板；图6示意性地说明了根据本公开的示例实施例的双栅线阵列基板的测试方法的流程图；以及图7示意性说明了根据图6的测试方法对图3的双栅线阵列基板进行测试的像素单元的驱动结果。图8示意性说明了根据图6的测试方法对图1的双栅线阵列基板进行测试的像素单元的驱动结果。在附图中，为便于理解，已经使用相似的标记指代基本上具有相同或类似结构和/或相同或类似功能的元素。具体实施方式下面参照附图描述本公开的实施例。在下面的描述中，阐述了许多具体细节以便使所属
的技术人员更全面地了解和实现本公开。但是，对所属
的技术人员明显的是，本公开的实现可不具有这些具体细节中的一些具体细节。此外，应当理解的是，本公开并不局限于所介绍的特定实施例。相反，可以考虑用下面所述的特征和要素的任意组合来实施本公开，而无论它们是否涉及不同的实施例。因此，下面的方面、特征、实施例和优点仅作说明之用，而不应看作是权利要求的要素或限定，除非在权利要求中明确提出。如本文中使用的，附图标记中包含“ge”的栅线被定义为用于传输第一扫描信号的栅线，附图标记中包含“go”的栅线被定义为用于传输第二扫描信号的栅线。附图标记中包含“go”的栅线与附图标记中包含“ge”的栅线被定义为是不同的。而附图标记不同的数据线被定义是不同的。如本文中使用的，在附图中，像素电极的附图标记可以作为包含该像素电极的像素单元的附图标记。如本文中使用的，像素电极可以包括透明导电薄膜，诸如ITO膜、氧化锌铟(IZO)膜、氧化锌镓(ZGO)膜、氧化锌铟镓(IZGO)膜、氧化锌(ZnO)膜、AZO(氧化锌铝)膜，或其它可以适用的或将来开发的透明导电薄膜。图1示意性地示出了一种双栅线阵本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种双栅线阵列基板，包括多组双栅线、多条数据线及设置于由多组双栅线及多条数据线限定区域的多个像素对，其中，每组所述双栅线包括分别用于传输第一扫描信号和第二扫描信号的两条栅线，在每组所述双栅线中两条栅线的相对方位相同，每个所述像素对包括两个像素单元，其特征在于，任一组双栅线及与其相邻的两组双栅线和相邻的两条数据线限定区域内的两个所述像素对中，每个像素对中的两个像素单元分别连接所述相邻的两条数据线中相同的数据线，在数据线延伸方向上所述两个像素对中的相邻的两个像素单元分别连接所述相邻的两条数据线中不同的数据线；在所述任一组双栅线延伸方向上相邻的两个所述像素对中，一个像素对中的两个像素单元所连接的数据线与另一个像素对中的两个像素单元所连接的数据线不同但是相邻；以及在数据线延伸方向上相邻的两个像素单元分别连接与其各自相邻的传输扫描信号不同的栅线，在任一组双栅线延伸方向上相邻的两个像素单元分别连接与其各自相邻的传输扫描信号不同的栅线。
【技术特征摘要】
1.一种对双栅线阵列基板进行测试的方法，其中，所述双栅线阵列基板，包括多组双栅线、多条数据线及设置于由多组双栅线及多条数据线限定区域的多个像素对，其中，每组所述双栅线包括分别用于传输第一扫描信号和第二扫描信号的两条栅线，在每组所述双栅线中两条栅线的相对方位相同，所述第一扫描信号和所述第二扫描信号时序不同，在同一时间传送所述第一扫描信号或所述第二扫描信号，每个所述像素对包括两个像素单元，其特征在于，任一组双栅线及与其相邻的两组双栅线和相邻的两条数据线限定区域内的两个所述像素对中，每个像素对中的两个像素单元分别连接所述相邻的两条数据线中相同的数据线，在数据线延伸方向上所述两个像素对中的相邻的两个像素单元分别连接所述相邻的两条数据线中不同的数据线；在所述任一组双栅线延伸方向上相邻的两个所述像素对中，一个像素对中的两个像素单元所连接的数据线与另一个像素对中的两个像素单元所连接的数据线不同但是相邻；以及在数据线延伸方向上相邻的两个像素单元分别连接与其各自相邻的传输扫描信号不同的栅线，在任一组双栅线延伸方向上相邻的两个像素单元分别连接与其各自相邻的传输扫描信号不同的栅线，其中，沿所述数据线延伸方向对每个栅线顺序编号，所述编号从1开始，所述方法包括：向编号为1+3i的栅线提供相同时序的扫描信号，i为自然数，并执行以下步骤：(a)向相邻两条数据线中的一条数据线传输数据信号，若被驱动的像素...
【专利技术属性】
技术研发人员：任兴凤，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，合肥鑫晟光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
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