阵列基板检测装置及检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种阵列基板检测装置，包括：电极板，用于与待检测的阵列基板相对设置，所述电极板包括多个彼此绝缘的电极部；检测模块，所述检测模块与每个所述电极部均相连，用于检测每个所述电极部上的电信号。相应地，本发明专利技术还提供一种利用所述检测装置对阵列基板进行检测的检测方法。本发明专利技术能够在对盒形成显示面板之前及时检测出阵列基板的不良。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示
，具体涉及一种阵列基板检测装置及利用所述阵列基板检测装置对阵列基板进行检测的检测方法。
技术介绍
阵列基板制作完成后，由于工艺条件的限制，导致阵列基板上可能会出现一些不良，而肉眼很难直接从阵列基板上看到这些不良，因此，目前检测不良的方法是在将阵列基板与对盒基板对盒形成显示面板后，进行点灯的方式检测。但是，检测时显示面板已经对盒完成，如果产生不良，就需要再将阵列基板与对盒基板分离，降低了生产效率。因此，如何在对盒形成显示面板之前及时检测出阵列基板的不良，成为本领域亟待解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种阵列基板检测装置及利用所述阵列基板检测装置对阵列基板进行检测的检测方法，以在对盒形成显示面板之前及时检测出阵列基板的异常。为了解决上述技术问题之一，本专利技术提供一种阵列基板检测装置，包括：电极板，用于与待检测的阵列基板相对设置，所述电极板包括多个彼此绝缘的电极部；检测模块，所述检测模块与每个所述电极部均相连，用于检测每个所述电极部上的电信号。优选地，所述阵列基板检测装置还包括：电源模块，用于向待检测的阵列基板充电。优选地，所述检测模块还用于获取每个电极部的位置；所述阵列基板检测装置还包括：处理模块，所述处理模块与所述检测模块相连，用于将每个电极部上的电信号与标准电信号范围进行对比，当每个电信号均位于标准电信号范围内时，判定所述阵列基板正常；当存在超出所述标准电信号范围的电信号时，获取该电信号对应的电极部的位置。优选地，所述处理模块还用于获取所述检测模块所测得的各个电信号的平均值和与所述阵列基板对应的预设波动值，并将[v0-Δv,v0+Δv]作为所述标准电信号范围，其中，v0为所述电信号的平均值，Δv为所述预设波动值。优选地，所述电极部排列为多行多列。优选地，每个电极部均与所述待检测的阵列基板的1～100个像素单元对应。优选地，所述电极板还包括绝缘基底，所述电极部设置在所述绝缘基底上。相应地，本专利技术还提供一种上述阵列基板检测装置对阵列基板进行检测的检测方法，所述检测方法包括：将所述阵列基板检测装置的电极板与待检测的阵列基板相对且绝缘间隔设置，以使得每个电极部与所述待检测的阵列基板均形成电容；向所述待检测的阵列基板充电；利用所述检测模块检测每个电极部上的电信号，以根据每个电极部上的电信号判断所述阵列基板是否异常。优选地，所述检测方法还包括：检测每个电极部的位置；将每个电极部上的电信号与标准电信号范围进行对比，当每个电信号均位于标准电信号范围内时，判定阵列基板正常；当存在位于所述标准电信号范围以外的电信号时，获取与该电信号对应的电极部的位置。优选地，将每个电极部上的电信号与标准电信号范围进行对比的步骤之前还包括：获取所有电信号的平均值和与所述阵列基板对应的预设波动值；将[v0-Δv,v0+Δv]作为所述标准电信号范围，其中，v0为所述电信号的平均值，Δv为所述预设波动值。在本专利技术中，所述阵列基板检测装置中的电极板和阵列基板可以形成多个电容，电极部相当于电容的一个极板，阵列基板与每个电极部相对的部分相当于电容的另一个极板，因此，当向阵列基板的不同位置提供相同的电信号时，可以通过电极部上所产生的电信号判断阵列基板是否出现异常；并且，处理模块能够根据各个电信号的值以及各电极部的位置判断异常电信号的位置，从而便于检测人员判断阵列基板上发生异常的位置。附图说明附图是用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本专利技术，但并不构成对本专利技术的限制。在附图中：图1是本专利技术的实施例中利用所述阵列基板检测装置对阵列基板进行检测时的示意图；图2是本专利技术的实施例中电极部的分布示意图；图3是本专利技术实施例中根据电极部上电信号拟合的不同电信号值所对应的电极部的数量关系示意图；其中，附图标记为：10、阵列基板；20、电极板；21、电极部；22、绝缘基底；30、检测模块；40、处理模块；50、电源模块。具体实施方式以下结合附图对本专利技术的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限制本专利技术。作为本专利技术的一方面，提供一种阵列基板检测装置，图1所示的是利用所述阵列基板检测装置对阵列基板10进行检测时的示意图，如图1所示，所述阵列基板检测装置包括电极板20和检测模块30。电极板20用于与待检测的阵列基板10相对设置，电极板20包括多个彼此绝缘的电极部21；检测模块30与每个电极部21均相连，用于检测每个电极部21上的电信号，所述电信号可以为电压或电荷量。在阵列基板制作完成后，可以将电极板20与阵列基板10相对设置，并保证二者之间保持绝缘，以使得每个电极部20与阵列基板10形成电容，每个电极部10相当于电容的一个极板，阵列基板10与每个电极部21相对的部分相当于电容的另一个极板。当向电容的一个极板充电时，另一个极板上会相应地感应到一定的电压或电荷量，因此，利用所述检测装置对阵列基板10进行检测时，可以向阵列基板10充电，即，向阵列基板10上对应于各电极部21的部分提供相同的电信号；同时，利用检测模块30检测每个电极部21上的电压或电荷量，从而根据每个电极部21上的电压或电荷量来判断阵列基板10是否发生异常(即，不良)，因此，和现有技术相比，本专利技术在成盒之前就可以及时检测出阵列基板10是否发生异常，进而提高生产效率，降低成本。其中，具体判断是否异常的方式可以为：当检测模块30测得的多个电极板21上的电信号相差较大时，则阵列基板上出现异常；或者，将检测模块30测得的每个电极部21上的电信号与标准电信号范围进行比较，当出现超出所述标准电信号范围的电信号时，则阵列基板10出现异常。如图1所示，所述阵列基板检测装置还包括电源模块50，用于向待检测的阵列基板10充电。即，在上述检测过程中，将阵列基板10和电极板20相对设置并使二者之间形成绝缘介电层，以使得阵列基板10与每个电极部21均形成电容，电源模块50向电容的一个极板提供电信号。通常，在阵列基板上设置有至少一组检测端，同一组中检测端与阵列基板上颜色相同的多个子像素相连，不同检测端连接不同颜色的子像素(应当理解，子像素的颜色是根据成盒后待发出光线的颜色确定)；这种情况下，电源模块50向阵列基板10充电时，直接向每个检测端提供相同的电信号即可。为了进一步获取发生不良的具体位置，检测模块30还用于获取每个电极部21的位置；如图1所示，所述阵列基板检测装置还包括处理模块40，该处理模块40与检测模块30相连，用于将每个电极部21上的电信号与标准电信号范围进行对比，当每个电信号均位于标准电信号范围内时，判定所述阵列基板10正常；当存在超出所述标准电信号范围的电信号(即，异常电信号)时，获取该异常电信号对应的电极部21的位置，那么该电极部21在阵列基板10上的投影位置即为阵列基板10出现异常的位置。在实际应用中，可以将处理模块40与显示屏相连，以通过显示的方式显示产生异常电信号的电极部21的位置，以便于检测人员判断出阵列基板10上的异常位置。通常，阵列基板10上发生异常的区域较小，并且，异常位置所对应的电极部21上的电信号与正常位置所对应的电极部本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种阵列基板检测装置，其特征在于，包括：电极板，用于与待检测的阵列基板相对设置，所述电极板包括多个彼此绝缘的电极部；检测模块，所述检测模块与每个所述电极部均相连，用于检测每个所述电极部上的电信号。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板检测装置，其特征在于，包括：电极板，用于与待检测的阵列基板相对设置，所述电极板包括多个彼此绝缘的电极部；检测模块，所述检测模块与每个所述电极部均相连，用于检测每个所述电极部上的电信号。2.根据权利要求1所述的阵列基板检测装置，其特征在于，所述阵列基板检测装置还包括：电源模块，用于向待检测的阵列基板充电。3.根据权利要求1所述的阵列基板检测装置，其特征在于，所述检测模块还用于获取每个电极部的位置；所述阵列基板检测装置还包括：处理模块，所述处理模块与所述检测模块相连，用于将每个电极部上的电信号与标准电信号范围进行对比，当每个电信号均位于标准电信号范围内时，判定所述阵列基板正常；当存在超出所述标准电信号范围的电信号时，获取该电信号对应的电极部的位置。4.根据权利要求3所述的阵列基板检测装置，其特征在于，所述处理模块还用于获取所述检测模块所测得的各个电信号的平均值和与所述阵列基板对应的预设波动值，并将[v0-Δv,v0+Δv]作为所述标准电信号范围，其中，v0为所述电信号的平均值，Δv为所述预设波动值。5.根据权利要求1至4中任意一项所述的阵列基板检测装置，其特征在于，所述电极部排列为多行多列。6.根据权利要求1至4中任意一项所述的阵列基板检测装置，其特征在于，每...

【专利技术属性】
技术研发人员：王文涛，杨璐，徐海峰，王子峰，司晓文，王金锋，姚磊，闫雷，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京;11