显示面板及包含其的显示装置制造方法及图纸

本申请公开了显示面板及包含其的显示装置。显示面板包括阵列基板，阵列基板包括显示区以及围绕所述显示区的非显示区；所述显示区包括多条沿第一方向延伸、沿第二方向排列的扫描线，多条沿第二方向延伸、沿第一方向排列的数据线，阵列排布的多个像素区；所述显示区还包括测试电路区，所述测试电路区包括多个开关元件，各所述数据线与各个开关元件一一对应连接。这样的显示面板由于将测试电路设置在任意两行像素区之间或任意两列像素区之间，使得既可以实现显示面板的窄边框化，又可以在显示面板使用过程中采用测试电路进行故障排查。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及显示
，具体涉及有机发光显示
，尤其涉及显示面板及包含其的显示装置。
技术介绍
为了在显示面板与控制电路连接之前检测显示面板是否有缺陷，可以在显示面板中设置有测试电路区以及与测试电路区中的测试电路连接的测试垫。可以在测试垫上施加电信号，通过短路棒将电信号传输到显示面板的每一条数据线上以检测显示面板的像素是否有缺陷。在显示面板与控制电路连接之后，短路棒以及测试垫在显示面板的实际工作中就不再起作用了。通常测试电路区及测试垫设置在显示面板的非显示区中，由于测试电路区占用非显示区的一定面积，不利于显示面板的窄边框化。
技术实现思路
鉴于现有技术存在的上述问题，期望提供一种显示面板及包含其的显示装置，以解决
技术介绍
中所述的至少部分技术问题。第一方面，本申请实施例提供了一种显示面板，包括阵列基板，阵列基板包括显示区以及围绕显示区的非显示区；显示区包括多条沿第一方向延伸、沿第二方向排列的扫描线，多条沿第二方向延伸、沿第一方向排列的数据线，阵列排布的多个像素区；显示区还包括测试电路区，测试电路区包括多个开关元件，各数据线与各个开关元件一一对应连接。可选的，测试电路区沿第一方向延伸，且设置在任意相邻两条扫描线之间。可选的，显示区为圆形，显示区中包括两条相邻的扫描线，两条相邻的扫描线中的任意一条扫描线向阵列基板所在平面的正投影与各数据线向阵列基板所在平面的正投影相交；测试电路区设置两条相邻的扫描线之间。可选的，测试电路区沿第二方向延伸，且设置在任意相邻两条数据线之间。可选的，显示区为圆形，显示区中包括两条相邻的数据线，两条相邻的数据线中的任意一条数据线向阵列基板所在平面的正投影与各扫描线向阵列基板所在平面的正投影相交；测试电路区设置在两条相邻的数据线之间。可选的，显示面板还包括透明盖板以及设置在阵列基板和透明盖板之间的有机发光材料层；有机发光材料层包括与多个像素区一一对应的多个发光单元，多个发光单元阵列排布；任意相邻两行发光单元之间的间距相等，且任意相邻两列发光单元之间的间距相等；除分别与测试电路区相邻、位于测试电路区异侧的两行像素区之间的间距之外，各任意相邻两行像素区之间的间距相等且小于任意相邻两行发光单元之间的间距。可选的，显示面板还包括透明盖板以及设置在阵列基板和透明盖板之间的有机发光材料层；有机发光材料层包括与多个像素区一一对应的多个发光单元，多个发光单元阵列排布；任意相邻两行发光单元之间的间距相等，且任意相邻两列发光单元之间的间距相等；除分别与测试电路区相邻、位于测试电路区异侧的两列像素区之间的间距之外，各任意相邻两列像素区之间的间距相等且小于任意相邻两列发光单元之间的间距。可选的，其中，P1为除分别与测试电路区相邻、位于测试电路区异侧的两列像素区之间的间距之外，各任意相邻两行像素区之间的间距，P2为任意相邻两行发光单元之间的间距。可选的，其中，L1为除分别与测试电路区相邻、位于测试电路区异侧的两列像素区之间的间距之外，各任意相邻两列像素区之间的间距，L2为任意相邻两列发光单元之间的间距。可选的，多个开关元件被分成N个开关元件组，每个开关元件组包括多个开关元件；多条数据线被分成N个数据线组，每个数据线组中包括多条数据线；各数据线组与一个开关元件组一一对应；任意一个数据线组中的各条数据线与该数据线组对应的开关元件组中的各个开关一一对应连接。第二方面，本申请实施例提供了一种显示装置，显示装置包括上述的显示面板。本申请提供的显示面板及包含其的显示装置，通过在被非显示区围绕的显示区中设置测试电路区，从而不但可以实现窄边框的显示面板还可以保留测试电路区，以便在显示面板使用过程中排查故障附图说明通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：图1为本申请实施例提供的显示面板的一种结构示意图；图2为图1所示测试电路区与数据线的对应关系示意图；图3为本申请实施例提供的显示面板的又一种结构示意图；图4为本申请实施例提供的一种显示装置结构示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释相关专利技术，而非对该专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与有关专利技术相关的部分。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。请参考图1，图1示出了本申请实施例提供的显示面板的一种结构示意图。如图1所示，显示面板100包括阵列基板110、有机发光材料层120。此外，显示面板还包括封装材料层(图中未示出)。如图1所示，阵列基板110包括显示区111以及非显示区112。其中非显示区112围绕显示区111。在显示区111中包括多条沿第一方向延伸、沿第二向排列的扫描线1101；多条沿第二方向延伸、沿第一向排列的数据线1102以及由数据线1102和扫描线1101交叉设置形成的多个像素区1103。在显示区111中还包括测试电路区1104。测试电路区1104中可以包括多个开关元件。各个开关元件与各个上述数据线一一对应。具体地，请参考图2，其示出了图1所示测试电路区与数据线的对应关系示意图。如图2所示，测试电路区1104中包括多个开关元件T。各条数据线1102与各个开关元件T一一对应连接。在本实施例的一些可选实现方式中，如图2所示，测试电路区1104中的多个开关元件T可以被分成N开关元件组SW1、SW2、…、SWN，每个开关元件组中包括多个开关元件T。多条数据线201也可以被分成N个数据线组D1、D2、…、DN，每个数据线组中包括多条数据线1102。各个数据线组与各个开关元件组一一对应。进一步地，任意一个数据线组中的各条数据线1102与该数据线组对应的开关元件组中的各个开关T一一对应连接。每一个开关元件组对应一个测试信号输入端，也即开关元件组SW1、SW2、…、SWN分别对应测试信号输入端In1、In2、…、InN。每个测试信号输入端可以与一个设置在阵列基板非显示区中的测试垫连接(图中未示出)。具体地，测试电路区中1104中的开关元件T可以通过打孔的方式与对应的数据线1102连接，或者测试电路区1104中的开关元件T可以通过打孔加走线的方式与对应的数据线1102连接。请继续参考图1，测试电路区1104沿第一方向延伸，而且测试电路区1104可以设置在任意相邻两条扫描线1101之间。可以理解的是，当测试电路区1104设置在较短的两条扫描线1101之间时，由于测试电路区1104由于无法覆盖各条数据线，因此对应测试电路区1104两侧的数据线1102可以通过打孔加走线的方式与测试电路区1104中的开关元件T连接。在本实施例中，当任意一个开关元件组的测试信号输入端有测试信号输入时，该开关元件组中的各个开关元件可以全部导通，测试信号通过导通的开关元件可以传输到与该开关元件组对应的数据线组中的各条数据线1102上来对包括阵列基板110的显示面板100进行测试。如图1所示，有机发光材料层120包括多个发光单元121，且多个发光单元121呈阵列排布。各个发光单元121与阵列基板110中的各个像素区1103一一对应。本实施例中的显示面板100本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示面板，其特征在于，包括阵列基板，所述阵列基板包括显示区以及围绕所述显示区的非显示区；所述显示区包括多条沿第一方向延伸、沿第二方向排列的扫描线，多条沿第二方向延伸、沿第一方向排列的数据线，阵列排布的多个像素区；所述显示区还包括测试电路区，所述测试电路区包括多个开关元件，各所述数据线与各个开关元件一一对应连接。

【技术特征摘要】
1.一种显示面板，其特征在于，包括阵列基板，所述阵列基板包括显示区以及围绕所述显示区的非显示区；所述显示区包括多条沿第一方向延伸、沿第二方向排列的扫描线，多条沿第二方向延伸、沿第一方向排列的数据线，阵列排布的多个像素区；所述显示区还包括测试电路区，所述测试电路区包括多个开关元件，各所述数据线与各个开关元件一一对应连接。2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述测试电路区沿第一方向延伸，且设置在任意相邻两条扫描线之间。3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述显示区为圆形，所述显示区中包括两条相邻的扫描线，所述两条相邻的扫描线中的任意一条扫描线向所述阵列基板所在平面的正投影与各所述数据线向阵列基板所在平面的正投影相交；所述测试电路区设置所述两条相邻的扫描线之间。4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述测试电路区沿第二方向延伸，且设置在任意相邻两条数据线之间。5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述显示区为圆形，所述显示区中包括两条相邻的数据线，所述两条相邻的数据线中的任意一条数据线向所述阵列基板所在平面的正投影与各所述扫描线向阵列基板所在平面的正投影相交；所述测试电路区设置在所述两条相邻的数据线之间。6.根据权利要求1-3任意一项所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括透明盖板以及设置在所述阵列基板和所述透明盖板之间的有机发光材料层；所述有机发光材料层包括与所述多个像素区一一对应的多个发光单元，所述多个发光单元阵列排布；任意相邻两行所述发光单元之间的间距相等，且任意相邻两列所述发光单元之间的间距相等；除分别与所述测试电路区相邻、位于所述测试电路区异侧的两行所述像素区之间的间距之外，各任...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱仁远，
申请(专利权)人：上海天马有机发光显示技术有限公司，天马微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31