一种阵列基板、显示面板以及短路的检测方法技术

本发明专利技术公开了一种具有新型的像素结构的阵列基板、显示面板以及该显示面板的分压电容电极短路的检测方法。其中，所述阵列基板的所述像素结构包括依次排列的多个子像素，每一所述子像素包括主区、次区以及分压电容；其中，任一所述子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻另一所述子像素的所述次区的下方。通过上述方式，使像素电极的短路只会发生在不同子像素的分压电容与次区之间，从而在阵列测试中更易于检查出缺陷像素。

An array substrate, a display panel, and a short circuit detection method

The invention discloses an array substrate with a novel pixel structure, a display panel, and a detection method for a voltage dividing capacitor electrode short circuit of the display panel. Among them, the pixel structure of the array substrate includes a plurality of sub pixels are arranged, wherein each pixel includes a main area, and divided capacitors; the lower the secondary zone of any of the sub pixels of the capacitors are arranged on the same line of another the sub pixel. By doing so, the short circuit of the pixel electrode only occurs between the sub capacitor and sub region of different sub pixels, so that the defect pixel is easier to be detected in the array test.

【技术实现步骤摘要】
一种阵列基板、显示面板以及短路的检测方法
本专利技术涉及液晶显示
，特别是涉及一种具有新型的像素结构的阵列基板、显示面板以及该显示面板的分压电容电极短路的检测方法。
技术介绍
VA(VerticalAlignment)模式赋予了TFT-LCD非常高的正面对比度，但在侧面观看时，由于VA模式液晶分子在垂直方向转动的特点，导致VA的对比度下降十分明显，不同视角下会出现明显的色偏现象。大视角是VA模式液晶显示器的一贯追求，最常见的做法就是8畴技术的低色结构，使次区像素电位低于主区的像素电位，以降低部分区域亮度的代价换取大视角技术。为了使得次区像素电位低于主区，“电荷分享”是VA类型TFT-LCD显示面板常用的大视角改善方案。常见的采用“电荷分享”方式的像素结构中，像素开口区分为主区和次区，当充电扫描线开启时，数据信号线向主区和次区的像素电极充电，然后充电扫描线关闭，电荷共享扫描线开启，分压电容与次区像素电极导通，分担一部分次区像素电极上原本充满的电荷，使次区像素电极的电压降低到适当比例。在TFT-LCD产品中，分压电容经常采用MII电容结构，MII电容结构为：M1，G-SiNx，PA-SiNx，ITO。且在常规的MII的像素设计中，分压电容的ITO与本身像素的Sub区ITO相邻设置，较容易发生短路，但是由于像素电压变化小，常规的阵列检测(ArrayTest)无法检出，从而无法及时对其进行修补，影响产品品质。
技术实现思路
本专利技术主要解决的技术问题是提供一种具有新型的像素结构的阵列基板、具有该阵列基板的显示面板以及该显示面板的分压电容电极短路的检测方法，能够在阵列测试中很容易检查出缺陷像素，从而能够及时对产品进行修补，保证产品品质。为解决上述技术问题，本专利技术采用的一个技术方案是提供一种具有新型的像素结构的阵列基板，所述阵列基板的所述像素结构包括依次排列的多个子像素，每一所述子像素包括电连接的主区、次区以及分压电容；其中，任一所述子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻另一所述子像素的所述次区的下方。其中，所述子像素包括对应于不同显示色彩的第一子像素、第二子像素和第三子像素；所述第一子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的所述第三子像素或者所述第二子像素的所述次区的下方；所述第二子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的所述第一子像素或者所述第三子像素的所述次区的下方；所述第三子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的所述第二子像素或者所述第一子像素的所述次区的下方。其中，每一所述子像素包括对应于不同显示色彩的第一子像素、第二子像素和第三子像素；第N个所述第一子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的第N个所述第二子像素的所述次区的下方；第N个所述第二子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的第N个所述第三子像素的所述次区的下方；第N个所述第三子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的第N+1个所述第一子像素的所述次区的下方；其中：N为大于或等于1的正整数。其中，每一所述子像素包括对应于不同显示色彩的第一子像素、第二子像素和第三子像素；第N个所述第一子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的第N-1个所述第三子像素的所述次区的下方；第N个所述第二子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的第N个所述第一子像素的所述次区的下方；第N个所述第三子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的第N个所述第二子像素的所述次区的下方；其中：N为大于3的正整数。其中，多个所述子像素包括奇数子像素和偶数子像素；所述奇数子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的所述偶数子像素的所述次区的下方；所述偶数子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的所述奇数子像素的所述次区的下方。为解决上述技术问题，本专利技术采用的另一个技术方案是提供一种显示面板，其包括阵列基板，所述阵列基板为上述任一种阵列基板。为解决上述技术问题，本专利技术采用的另一个技术方案是提供一种显示面板的分压电容电极短路的检测方法，所述显示面板的像素结构包括依次排列的多个子像素，其中，所述检测方法包括：将所述显示面板的像素结构中的子像素的分压电容设置于同一行的相邻另一所述子像素的次区的下方；给相邻的所述子像素提供不同的电平信号；对所述子像素的短路情况进行检查。其中，多个所述子像素包括对应于不同显示色彩的第一子像素、第二子像素和第三子像素；所述给相邻的所述子像素提供不同的电平信号包括：给所述第一子像素提供第一电平信号；给所述第二子像素提供第二电平信号；给所述第三子像素提供第三电平信号；其中，所述第一电平信号、所述第二电平信号和所述第三电平信号之间的差值大于10V；所述第一电平信号、所述第二电平信号和所述第三电平信号同为正信号或者负信号或者分别为正信号和负信号。其中，多个所述子像素包括依次排列的奇数子像素和偶数子像素；所述给相邻的所述子像素提供不同的电平信号包括：给所述奇数子像素提供第一电平信号；给所述偶数子像素提供第二电平信号；其中，所述第一电平信号与所述第二电平信号之间的差值大于10V；所述第一电平信号与所述第二电平信号同为正信号或者负信号或者一个为正信号另一个为负信号。其中，所述对所述子像素的短路情况进行检查包括：获取各所述子像素的所述主区和所述次区的电压值；计算各所述子像素的所述主区和所述次区的电压差值；根据所述电压差值，判断所述子像素的所述分压电容电极是否短路。本专利技术的有益效果是：区别于现有技术的情况，每个子像素的分压电容设置于同一行的相邻另一子像素的次区的下方，使像素电极的短路只会发生在不同子像素的分压电容与次区之间，这样在阵列测试时，分别依次对相邻像素施加高电位和低电位，如果发生短路现象，缺陷像素与正常像素的电压差异会增大，这样阵列测试就能够很容易检查出缺陷像素来。附图说明图1为本专利技术一种具有新型的像素结构的阵列基板一实施方式的结构示意图；图2是图1中的阵列基板的结构示意图的A-A’剖面示意图；图3为本专利技术一种具有新型的像素结构的阵列基板另一实施方式的结构示意图；图4为本专利技术一种具有新型的像素结构的阵列基板又一实施方式的结构示意图；图5为本专利技术一种具有新型的像素结构的阵列基板再一实施方式的结构示意图；图6为本专利技术显示面板一实施例的结构示意图；图7为本专利技术一种显示面板的分压电容电极短路的检测方法一实施方式的流程示意图；图8为本专利技术一种显示面板的分压电容电极短路的检测方法另一实施方式的流程示意图。具体实施方式下面结合附图和实施方式对本专利技术进行详细说明。请参阅图1，图1为本专利技术一种具有新型的像素结构的阵列基板一实施方式的结构示意图，阵列基板10包括依次排列的多个子像素12，其中，子像素12在阵列基板10上呈矩阵排布。每个子像素12包括电连接的主区121、次区122以及分压电容123，主区121、次区122以及分压电容123在列的方向依次排列。每一行子像素12都连接有对应的充电扫描线G和电荷共享扫描线G’，每一列子像素12都连接有对应的数据信号线D。例如，第N行的子像素都连接有对应的充电扫描线GN和电荷共享扫描线GN’,第N-1列子像素连接有对应的数据信号线DN-1。请结合图2，任一子像素12的分压电容123设置于同一行的相邻另一子像素12的次区122的下方。在本实施例中，当某个子像素在前期的阵本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有新型的像素结构的阵列基板，其特征在于，所述像素结构包括依次排列的多个子像素，每一所述子像素包括电连接的主区、次区以及分压电容；其中，任一所述子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻另一所述子像素的所述次区的下方。

【技术特征摘要】
1.一种具有新型的像素结构的阵列基板，其特征在于，所述像素结构包括依次排列的多个子像素，每一所述子像素包括电连接的主区、次区以及分压电容；其中，任一所述子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻另一所述子像素的所述次区的下方。2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述子像素包括对应于不同显示色彩的第一子像素、第二子像素和第三子像素；所述第一子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的所述第三子像素或者所述第二子像素的所述次区的下方；所述第二子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的所述第一子像素或者所述第三子像素的所述次区的下方；所述第三子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的所述第二子像素或者所述第一子像素的所述次区的下方。3.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，每一所述子像素包括对应于不同显示色彩的第一子像素、第二子像素和第三子像素；第N个所述第一子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的第N个所述第二子像素的所述次区的下方；第N个所述第二子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的第N个所述第三子像素的所述次区的下方；第N个所述第三子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的第N+1个所述第一子像素的所述次区的下方；其中：N为大于或等于1的正整数。4.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，每一所述子像素包括对应于不同显示色彩的第一子像素、第二子像素和第三子像素；第N个所述第一子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的第N-1个所述第三子像素的所述次区的下方；第N个所述第二子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的第N个所述第一子像素的所述次区的下方；第N个所述第三子像素的所述分压电容设置于同一行的相邻的第N个所述第二子像素的所述次区的下方；其中：N为大于3的正整数。5.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，多个所述子像素包括奇数子像素和偶数子像素；所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：安立扬，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44