一种阵列基板、其检测方法及显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种阵列基板、其检测方法及显示装置，通过设置至少一条测试线，并使该测试线与至少一条驱动信号走线交叠设置以及使该测试线的一端与连接端子相连，当对该驱动信号走线上的驱动信号进行测试时，将该驱动信号走线与测试线交叠的位置进行短路，以将该驱动信号走线上的驱动信号通过连接端子提供给外部的检测电路板，从而通过将检测探针与测试线对应的检测端子进行电性导通以检测与测试线短路的驱动信号走线上的驱动信号，与现有技术相比，可以避免在进行翘脚测试的过程中对栅线损伤，从而可以避免屏幕不能正常点亮以及避免无法正常测试出驱动信号的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示
，特别涉及一种阵列基板、其检测方法及显示装置。
技术介绍
随着显示技术的飞速发展，高开口率高级超维场转换(HighApertureAdvancedSuperDimensionalSwitching，简称HADS)型液晶显示技术因具有高开口率、宽视角、高画质与较快的响应速度等特性，受到了广泛的关注。HADS显示面板在显示时通常采用栅极驱动电路向显示面板中的栅线输入驱动信号，以使与栅线电连接的薄膜晶体管开启，完成数据信号输入，实现显示功能。现有的栅极驱动电路一般集成在显示面板的阵列基板上，并且栅极驱动电路通常由多个级联的移位寄存器构成，其中各级移位寄存器的驱动信号输出端分别通过走线与对应的栅线电性连接，实现依次向显示面板上的各行栅线输入驱动信号。并且各级移位寄存器的驱动信号输出端还分别对应连接下一级移位寄存器的输入信号端，以向下一级移位寄存器提供输入信号。一般当栅极驱动电路的某级移位寄存器输出的驱动信号异常时，会造成连续多级移位寄存器输出异常。为了解决移位寄存器输出的驱动信号异常的问题，通常需要对移位寄存器输出的驱动信号进行测试。然而在HADS显示面板中，由于HADS显示面板的工艺结构的问题，没有预留驱动信号测试端子，因此，一般常采用翘脚测试，即将待测试的移位寄存器对应的栅线与其它膜层分开，使栅线裸露出来，然后对裸露的栅线进行测试。但是，在对栅线进行翘脚测试的过程中非常容易使栅线受损，例如被割伤，导致与栅线连接的薄膜晶体管不能正常接收驱动信号，从而导致屏幕不能正常点亮，以及无法正常测试驱动信号。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种阵列基板、其检测方法及显示装置，用于解决现有的通过对栅线进行翘脚测试，导致的屏幕不能正常点亮，以及无法正常测试驱动信号的问题。因此，本专利技术实施例提供了一种阵列基板，包括：具有显示区域和非显示区域的衬底基板；所述非显示区域包括：由多个级联的移位寄存器组成的栅极驱动电路，以及与各级所述移位寄存器的驱动信号输出端一一对应连接的驱动信号走线；所述显示区域包括与各级所述移位寄存器一一对应的栅线；其中，各所述驱动信号走线与对应的栅线电性连接；所述非显示区域还包括：至少一条测试线以及与所述测试线一一对应的连接端子；所述测试线与至少一条驱动信号走线交叠设置且相互绝缘，并且所述测试线的一端与对应的连接端子电性连接；其中，所述连接端子用于与外部的检测电路板上的检测端子对应电性连接。较佳地，在本专利技术实施例提供的上述阵列基板中，还包括：与所述测试线的另一端电性连接的修复电路。较佳地，在本专利技术实施例提供的上述阵列基板中，所述测试线的延伸方向与所述驱动信号走线的延伸方向垂直。较佳地，在本专利技术实施例提供的上述阵列基板中，还包括：位于所述衬底基板具有所述驱动信号走线的一侧且与各所述驱动信号走线相互绝缘的源漏电极层；所述测试线与所述源漏电极层同层同材质。较佳地，在本专利技术实施例提供的上述阵列基板中，所述栅极驱动电路包括：分别位于所述栅线两端的第一栅极驱动子电路和第二栅极驱动子电路；所述测试线包括：第一子测试线和第二子测试线；其中，在垂直于所述衬底基板的方向上，所述第一子测试线位于所述第一栅极驱动子电路与所述栅线之间，所述第二子测试线位于所述第二栅极驱动子电路与所述栅线之间。相应地，本专利技术实施例还提供了一种显示装置，包括本专利技术实施例提供的上述任一种阵列基板。较佳地，在本专利技术实施例提供的上述显示装置中，还包括：至少具有与所述连接端子一一对应的检测端子的检测电路板。较佳地，在本专利技术实施例提供的上述显示装置中，所述检测电路板为柔性电路板或印刷电路板。相应地，本专利技术实施例还提供了一种本专利技术实施例提供的上述任一种阵列基板的检测方法，包括：将需要检测的驱动信号走线与所述测试线短路；将检测探针与所述测试线对应连接的外部的检测端子导通，检测所述测试线上的驱动信号。较佳地，在本专利技术实施例提供的上述检测方法中，在检测与所述测试线的一端电性连接的外部检测端子之后，还包括：将短路后的驱动信号走线与对应的移位寄存器的驱动信号输出端断路；通过所述测试线向断路后的驱动信号走线输入对应的驱动信号。本专利技术实施例提供的阵列基板、其检测方法及显示装置，由于栅极驱动电路中移位寄存器输出的驱动信号通过对应连接的驱动信号走线提供给对应的栅线，通过设置至少一条测试线，并使该测试线与至少一条驱动信号走线交叠设置以及使该测试线的一端与连接端子相连，当对该驱动信号走线上的驱动信号进行测试时，将该驱动信号走线与测试线交叠的位置进行短路，以将该驱动信号走线上的驱动信号通过连接端子提供给外部的检测电路板，从而通过将检测探针与测试线对应的检测端子进行电性导通以检测与测试线短路的驱动信号走线上的驱动信号，与现有技术相比，可以避免在进行翘脚测试的过程中对栅线损伤，从而可以避免屏幕不能正常点亮以及避免无法正常测试出驱动信号的问题。附图说明图1为本专利技术实施例提供的阵列基板的俯视示意图之一；图2为本专利技术实施例提供的阵列基板的俯视示意图之二；图3为本专利技术实施例提供的阵列基板的俯视示意图之三；图4为图1所示的阵列基板沿A-A’方向的剖视示意图；图5为本专利技术实施例提供的检测方法的流程图。具体实施方式为了使本专利技术的目的，技术方案和优点更加清楚，下面结合附图，对本专利技术实施例提供的阵列基板、其检测方法及显示装置的具体实施方式进行详细地说明。需要说明的是，自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。附图中各层薄膜厚度、大小和形状以及线条的粗细均不反映阵列基板中各元件的真实比例，目的只是示意说明本
技术实现思路
。本专利技术实施例提供了一种阵列基板，如图1至图3所示，包括：具有显示区域AA和非显示区域BB的衬底基板100；非显示区域BB包括：由多个级联的移位寄存器(图1至图3中均未示出)组成的栅极驱动电路110，以及与各级移位寄存器的驱动信号输出端Output_n(n＝1、2、3…N)一一对应连接的驱动信号走线120；显示区域AA包括与各级移位寄存器一一对应的栅线130；其中，各驱动信号走线120与对应的栅线130电性连接；非显示区域还包括：至少一条测试线140以及与测试线140一一对应的连接端子150；测试线140与至少一条驱动信号走线120交叠设置且相互绝缘，并且测试线140的一端与对应的连接端子150电性连接；其中，连接端子150用于与外部的检测电路板(图1至图3中均未示出)上的检测端子对应电性连接。本专利技术实施例提供的上述阵列基板，由于栅极驱动电路中移位寄存器输出的驱动信号通过对应连接的驱动信号走线提供给对应的栅线，通过设置至少一条测试线，并使该测试线与至少一条驱动信号走线交叠设置以及使该测试线的一端与连接端子相连，当对该驱动信号走线上的驱动信号进行测试时，将该驱动信号走线与测试线交叠的位置进行短路，以将该驱动信号走线上的驱动信号通过连接端子提供给外部的检测电路板，从而通过将检测探针与测试线对应的检测端子进行电性导通以检测与测试线短路的驱动信号走线上的驱动信号，与现有技术相比，可以避免在进行翘脚测试的过程中对栅线损伤，从而可以避免屏幕不能正常点亮以及避免无法正常测试出驱动信号的问题。需要说明的是，在本专利技术实施例提供的上述阵列基板中，当非显示区域本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种阵列基板，包括：具有显示区域和非显示区域的衬底基板；所述非显示区域包括：由多个级联的移位寄存器组成的栅极驱动电路，以及与各级所述移位寄存器的驱动信号输出端一一对应连接的驱动信号走线；所述显示区域包括与各级所述移位寄存器一一对应的栅线；其中，各所述驱动信号走线与对应的栅线电性连接；其特征在于，所述非显示区域还包括：至少一条测试线以及与所述测试线一一对应的连接端子；所述测试线与至少一条驱动信号走线交叠设置且相互绝缘，并且所述测试线的一端与对应的连接端子电性连接；其中，所述连接端子用于与外部的检测电路板上的检测端子对应电性连接。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板，包括：具有显示区域和非显示区域的衬底基板；所述非显示区域包括：由多个级联的移位寄存器组成的栅极驱动电路，以及与各级所述移位寄存器的驱动信号输出端一一对应连接的驱动信号走线；所述显示区域包括与各级所述移位寄存器一一对应的栅线；其中，各所述驱动信号走线与对应的栅线电性连接；其特征在于，所述非显示区域还包括：至少一条测试线以及与所述测试线一一对应的连接端子；所述测试线与至少一条驱动信号走线交叠设置且相互绝缘，并且所述测试线的一端与对应的连接端子电性连接；其中，所述连接端子用于与外部的检测电路板上的检测端子对应电性连接。2.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，还包括：与所述测试线的另一端电性连接的修复电路。3.如权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述测试线的延伸方向与所述驱动信号走线的延伸方向垂直。4.如权利要求1-3任一项所述的阵列基板，其特征在于，还包括：位于所述衬底基板具有所述驱动信号走线的一侧且与各所述驱动信号走线相互绝缘的源漏电极层；所述测试线与所述源漏电极层同层同材质。5.如权利要求1-3任一项所述的阵列基板，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹诚英，杜瑞芳，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，合肥鑫晟光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11