【技术实现步骤摘要】
本专利技术是涉及一种液晶面板的测试结构及显示方法，特别是涉及一种双栅极线单元面板的测试线路及双栅极线单元面板的色彩显示方法。
技术介绍
请参照图1，图I是双栅极线单元面板的传统短路棒测试架构的示意图。图I所示的双栅极线单元面板I是含有像素P、晶体管开关Τη、电极Ε、扫描线gn、数据线Dn、金属线101及102以及测试垫121及122。其中，像素P是以矩阵排列的方式分布在双栅极线单元面板I上，且一个像素P包含三个子像素即红色子像素R、绿色子像素G及蓝色子像素B。子像素的晶体管开关Tn的栅极、源极及漏极是分别耦接扫描线gn、数据线Dn及子像素的电极E，且每一个子像素是通过一条扫描线gn及一条数据线Dn来控制其颜色的明暗程度。 在双栅极线单元面板I的传统短路棒(Shorting bar)测试架构中，是将所有的扫描线gn透过金属线101电性连接，而且所有的数据线Dn是透过金属线102电性连接。测试信号包含扫描信号源111及图像信号源112，且扫描信号源111及图像信号源112是分别透过连接金属线101的测试垫121及连接金属线102的测试垫122输入到双栅极线单元面板I...
【技术保护点】
一种双栅极线单元面板的测试线路，其特征在于，所述测试线路位在所述双栅极线单元面板上，所述测试线路包含：第一组数据线，电性连接第一测试垫，并耦接多个第一子像素及多个第二子像素；第二组数据线，电性连接第二测试垫，并耦接多个第三子像素及多个第四子像素；第三组数据线，电性连接第三测试垫，并耦接多个第五子像素及多个第六子像素；第一组扫描线，电性连接第四测试垫，并分别耦接所述多个第一子像素、所述多个第三子像素及所述多个第五子像素；以及第二组扫描线，电性连接第五测试垫，并分别耦接所述多个第二子像素、所述多个第四子像素及所述多个第六子像素；其中，所述多个第一子像素与所述多个第四子像素为第一...
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：吕泰福，
申请(专利权)人：瀚宇彩晶股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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