一种ESD电路保护结构制造技术

技术编号:8564576 阅读:149 留言:0更新日期:2013-04-11 06:46
本发明专利技术公开了一种ESD电路保护结构,包括:ESD信号判断电路,其端口一接电源,端口二接信号选择电路,端口三接IO端,能检测判断IO端是否有ESD事件发生,并输出判断信号至所述信号选择电路;信号选择电路,其端口一、端口二分别连接所述ESD信号判断电路的端口二和内部电路的控制信号,其端口三输出信号至驱动NMOS的栅极;其能对输入信号进行选择,当判断IO端有ESD事件发生,其输出信号为低电平;当判断IO端无ESD事件发生,其输出信号为内部电路的控制信号;驱动NMOS,其漏极接IO端,其源极接地;ESD?NMOS,其栅极通过一电阻接地,其漏极接IO端,其源极接地。本发明专利技术的ESD保护结构能解决现有IO?ESD保护电路在驱动NMOS导通态下无法有效保护电路的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路制造领域,特别是涉及ー种ESD电路保护结构
技术介绍
静电是一种客观的自然现象,产生的方式多种,如接触、摩擦、电器间感应等。静电的特点是长时间积聚、高电压、低电量、小电流和作用时间短的特点。静电在多个领域造成严重危害。摩擦起电和人体静电是电子エ业中的两大危害,常常造成电子电器产品运行不稳定,甚至损坏。ESD是20世纪中期以来形成的以研究静电的产生、危害及静电防护等的学科,国际上习惯将用于静电防护的器材统称为ESD。目前,常用作IO保护的ESD保护电路如图1所示。作为驱动管的NMOS的gate—般直接连接至内部电路,其电位由内部电路控制。通常会要求驱动NM0S(N_Driver)触发电压高于ESD NMOS的开启电压,以便ESD来临时可通过ESD Pathl泄放。但由于驱动NMOS的栅极电位A由内部电路控制,在ESD电流来临时有可能处于高电位,此时可能导致驱动NMOS的触发电压低于ESD NMOS的开启电压时,保护电路则无法起到ESD保护效果,最终驱动NMOS先于ESD NMOS损毁。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是现有IO ESD保护电路在驱动NMO本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种ESD电路保护结构,其特征是,包括:ESD信号判断电路,其端口一接电源,端口二接信号选择电路,端口三接IO端,能检测判断IO端是否有ESD事件发生,并输出判断信号至所述信号选择电路;信号选择电路,其端口一、端口二分别连接所述ESD信号判断电路的端口二和内部电路的控制信号,其端口三输出信号至驱动NMOS的栅极;其能对输入信号进行选择,当判断IO端有ESD事件发生,其输出信号为低电平;当判断IO端无ESD事件发生,其输出信号为内部电路的控制信号;驱动NMOS,其漏极接IO端,其源极接地;ESD?NMOS,其栅极通过一电阻接地,其漏极接IO端,其源极接地。

【技术特征摘要】
1.一种ESD电路保护结构,其特征是,包括 ESD信号判断电路,其端口一接电源,端口二接信号选择电路,端口三接IO端,能检测判断IO端是否有ESD事件发生,并输出判断信号至所述信号选择电路; 信号选择电路,其端口一、端口二分别连接所述ESD信号判断电路的端口二和内部电路的控制信号,其端口三输出信号至驱动NMOS的栅极;其能对输入信号进行选择,当判断IO端有ESD事件发生,其输出信号为低电平;当判断IO端无ESD事件发生,其输出信号为内部电路的控制信号; 驱动NMOS,其漏极接IO端,其源极接地; ESD NM0S,其栅极通过一电阻接地,其漏极接IO端,其源极接地。2.如权利要求1所述的ESD电路...

【专利技术属性】
技术研发人员:邓樟鹏苏庆
申请(专利权)人:上海华虹NEC电子有限公司
类型:发明
国别省市:

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