一种测试探针，包括针套和探针针体，所述探针针体的前部为用于接触测试点的探测头，所述探针针体的后部装于所述针套的头部，所述针套的尾部通过导线与测试机相连接，所述的探测头上套设有一绝缘套，所述的绝缘套高出所述的探测头。所述针套的头部设有插接所述探针针体的插槽，将所述的探针针体的后部插于所述针套的头部，所述探针针体的探测头接触测试点，所述针套的尾部通过导线与测试机连接起来。所述的绝缘套高出所述的探测头，可以测试在绝缘套所覆盖范围内的插件，能准确测试，可以防止探测头的滑动带来测试的不准。由于探测头上套设有绝缘套，因此即使在测试测试点较密集的检测件时相互间也不会产生干扰。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及测试器具，尤其涉及一种测试探针。(二)
技术介绍
一般情况下，印刷电路板及芯片在完成线路布置后，为确定每一条 线路皆可正常导通，通常必须予以测试，以将电子线路完好的印刷电路 板及芯片挑出，再将各电子元件固定在该印刷电路板及芯片上。现有的 测试探针由针套和针体组成，针体套于针套的前端，外露的部分形成探 测头。在使用时，针体的探测头与测试点相接触，针套的尾部通过导线 连接测试机。其存在的缺点是l.如果探测头呈圆弧状，在测试测试点 时容易滑动，就不能很好的对准测试点，也很容易测错测试点。2.进行 测试时，如果电路板或芯片上的焊接点较密时，用于测试的测试探针排 列的就较紧密，在通电测试时测试探针之间就会相互影响，严重时甚至 会产生电火花。(三)
技术实现思路
为了克服现有测试探针在测试测试点时容易滑动的不足，本实用新 型提供一种在测试时不易滑动且能很快对准测试点的测试探针。本技术的另一目即使在测试点较密集的检测件时相互间也不会 产生干扰的绝缘测试探针。本技术解决其技术问题的技术方案是 一种测试探针，包括针 套和探针针体，所述探针针体的前部为用于接触测试点的探测头，所述 探针针体的后部装于所述针套的头部，所述针套的尾部通过导线与测试机相连接，所述的探测头上套设有一绝缘套，所述的绝缘套高出所述的 探测头。所述针套的头部设有插接所述探针针体的插槽，便于将探针针体固 定在针套上。所述探测头的结构可以根据不同测试点的实际情况而定，所述的探 测头可以呈圆弧状，所述的探测头还可以具有齿口。本技术在使用时，将所述的探针针体插于所述针套的头部的插槽内，所述探针针体的探测头接触测试点，所述针套的尾部通过导线与测试机连接起来。本技术的有益效果在于1.所述的绝缘套高出所述的探测头，可以测试在绝缘套所覆盖范围内的插件，能准确测试，可以防止探测头的滑动带来测试的不准。2.由于探测头上套设有一绝缘套，因此即使在测试测试点较密集的检测件时相互间也不会产生干扰。附图说明图1是本技术测试探针的结构示意图。具体实施方式以下结合附图和具体实施方式对本技术作进一步详细说明。 图1是本技术测试探针的结构图，包括针套1和探针针体2，所述探针针体2的前部为用于接触测试点的探测头3，所述探针针体2的后部装于所述针套1的头部，所述针套1的尾部通过导线与测试机相连接，所述的探测头3上套设有一绝缘套4，所述绝缘套4高出所述的 探测头3。所述针套1的头部设有插接所述探针针体2的插槽，将所述 的探针针体2插于所述针套1头部的插槽内，所述的探测头3呈圆弧状， 所述探针针体2的探测头3接触测试点，所述针套1的尾部与导线相连接，然后导线与测试机连接起来。由于探测头3上套设有一绝缘套4， 且绝缘套4高出探测头3，可以测试在绝缘套4所覆盖范围内的插件， 并能准确测试，可以防止探测头3的滑动带来测试的不准。由于探测头 3上套设有绝缘套4，即使在测试测试点较密集的检测件时相互间也不会 产生干扰。权利要求1.一种测试探针，包括针套和探针针体，所述探针针体的前部为用于接触测试点的探测头，所述探针针体的后部装于所述针套的头部，所述针套的尾部通过导线与测试机相连接，其特征在于所述的探测头上套设有一绝缘套，所述的绝缘套高出所述的探测头。2. 按照权利要求1所述的一种测试探针，其特征在于所述针套的头 部设有插接所述探针针体的插槽。3. 按照权利要求1所述的一种测试探针，其特征在于所述的探测头 呈圆弧状。4. 按照权利要求1所述的一种测试探针，其特征在于所述的探测头 上具有齿口。专利摘要一种测试探针，包括针套和探针针体，所述探针针体的前部为用于接触测试点的探测头，所述探针针体的后部装于所述针套的头部，所述针套的尾部通过导线与测试机相连接，所述的探测头上套设有一绝缘套，所述的绝缘套高出所述的探测头。所述针套的头部设有插接所述探针针体的插槽，将所述的探针针体的后部插于所述针套的头部，所述探针针体的探测头接触测试点，所述针套的尾部通过导线与测试机连接起来。所述的绝缘套高出所述的探测头，可以测试在绝缘套所覆盖范围内的插件，能准确测试，可以防止探测头的滑动带来测试的不准。由于探测头上套设有绝缘套，因此即使在测试测试点较密集的检测件时相互间也不会产生干扰。文档编号G01R1/067GK201355367SQ20092011418公开日2009年12月2日 申请日期2009年2月26日 优先权日2009年2月26日专利技术者周燕明, 沈芳珍 申请人:沈芳珍本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种测试探针，包括针套和探针针体，所述探针针体的前部为用于接触测试点的探测头，所述探针针体的后部装于所述针套的头部，所述针套的尾部通过导线与测试机相连接，其特征在于：所述的探测头上套设有一绝缘套，所述的绝缘套高出所述的探测头。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：沈芳珍，周燕明，
申请(专利权)人：沈芳珍，
类型：实用新型
国别省市：33[中国|浙江]
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