【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种ICT测试探针。
技术介绍
一般情况下，电子产品在组装完所有电器元件后在安装外壳之前全部需要进行一次电气功能测试。以往的功能测试主要是单一的模式测试，一个工作位上只能测试一种电气性能，电子产品的功能越多需要测试工位就越多。通常的测试探针主要是固定在测试工作台上，使用和维护均不方便。为了解决这些问题，研制一种可一次性完成电气性能测试的 ICT测试探针无疑具有十分重要的现实意义。
技术实现思路
为克服现有技术的不足，提供一种能一次性完成电气性能测试的ICT测试探针。为实现上述目的，本技术通过如下技术方案加以实现一种ICT测试探针，包括针管1，针管1形成一中空管，针管1的前端设有轴向的插道5，针管1的尾部设有凸台4 ；所述插道5内可以放置探针的针体2，针体2连接一探测头3 ；所述针管1的插道5可贯穿所述的针体2 ；所述探测头3的顶部呈齿口状或者探测头 3的顶部呈三角锥状。与现有技术相比，本技术的有益效果为能够在同一个工装夹具上实现一个电子产品所有电气功能的测试，提高了生产效率和节约了成本。附图说明为便于理解本技术，特结合附图加以详细说明.图1是本技术针管的形状示意图；图2是本技术探测头(3)的顶部呈三角锥状的形状示意图；图3是本技术探测头(3)的顶部呈齿口状的形状示意图。具体实施方式为便于理解本技术，特结合附图具体实施例加以说明，但是本实施例不应看作是对本技术的任何限制。参照图1，一种ICT测试探针，包括针管1，针管1形成一中空管，针管1的前端设有轴向的插道5，针管1的尾部设有凸台4 ；所述插道5内可以放置探针的针体2，针体2连接一探测头3 ；所述针管...
【技术保护点】
１．一种ＩＣＴ测试探针，包括针管（１），针管（１）形成一中空管，其特征在于：针管（１）的前端设有轴向的插道（５），针管（１）的尾部设有凸台（４）；所述插道（５）内可以放置探针的针体（２），针体（２）连接一探测头（３）。
【技术特征摘要】
1.一种ICT测试探针，包括针管(1)，针管(1)形成一中空管，其特征在于针管(1)的前端设有轴向的插道(5)，针管(1)的尾部设有凸台；所述插道(5)内可以放置探针的针体O)，针体( 连接一探测头(3)。2.根据权利要求1所述的一种ICT...
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