滑动式探针测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种滑动式探针测试装置，其包括：产品承载部，其上用于放置测试产品；驱动部，其带动测试产品作线性运动；探针部，其固定安装于支架上并保持在固定位置，探针部的针头延伸至产品承载部的测试位，测试产品被输送到测试位后与针头接触。本发明专利技术还提供了一种滑动式探针测试方法。本发明专利技术以滑动测试的方式对测试产品进行测试，从而使得测试不具有停顿的时间，测试效率得到明显的提高，同时取消了压测的方式，可以有效地保护产品不受损伤。

Sliding probe test device and method

The invention provides a sliding type probe testing device, comprising: a product bearing part, the test for placing products; the driving part drives the testing products for linear movement; the probe is fixed on the bracket, and remain in a fixed position, the probe needle extends to the product bearing test a test product is transported to the test after contact with the needle. The invention also provides a slide probe testing method. The present invention in a sliding way to test test products for testing, so that the test does not have the pause time, the testing efficiency is improved obviously, while the cancellation of the pressure measurement method, can effectively protect the product from damage.

【技术实现步骤摘要】
滑动式探针测试装置及方法
本专利技术涉及一种探针测试技术，具体而言，涉及一种滑动式探针测试装置及方法。
技术介绍
对于电容器等电子元件，其在出厂前通常需要通过探针进行通电测试，来检测其电性能是否达到出厂标准。目前对于产品的探针测试主要通过两种方式实现。一种是，人工拿着探针笔对着产品进行测试；另一种是，将探针安装于气缸等驱动装置上，通过气缸带动探针不断地上下运动来接触产品进行测试。现有的这种探针结构或者说方式，由于探针都是出于不稳固的状态，探针的可靠性容易受到影响，同时探针出于不断的运动中，在两个产品的测试作业之间会处于较长的停顿间歇之中，在测试效率上也具有劣势；并且，特别对于气缸驱动探针上下的结构而言，由于气缸所驱动的探针会不断地打击产品的表面，在打击力度控制不好的时候，很容易造成产品的损伤。
技术实现思路
鉴于此，本专利技术提供了一种滑动式探针测试装置及方法，旨在解决现有技术中在产品测试中所造成的测试效率低和易损伤产品的问题。一个方面，本专利技术提供了一种滑动式探针测试装置，其包括：产品承载部，其上用于放置测试产品；驱动部，其带动测试产品作线性运动；探针部，其固定安装于支架上并保持在固定位置，探针部的针头延伸至产品承载部的测试位，测试产品被输送到测试位后与针头接触。进一步地，上述驱动部安装于产品承载部上，驱动部包括电机和传送带，测试产品放置于传送带上。进一步地，上述驱动部连接产品承载部，产品承载部由驱动部驱动作线性运动。进一步地，上述驱动部包括电机和丝杆，产品承载部穿设于丝杆上。进一步地，上述滑动式探针测试装置还包括感应部，测试产品经过感应部时，感应部被触发并导致探针部通电，反之则探针部处于断电状态。进一步地，上述探针部的针头呈L形状，其折弯部分的侧面与测试产品接触。进一步地，上述产品承载部与支架内可滑动地穿设有导杆，且导杆位于产品承载部与支架之间的部分上套设有弹簧。进一步地，上述产品承载部内还设有轴承，导杆连接轴承。再一方面，本专利技术还提供了一种滑动式探针测试方法，其包括以下步骤：将测试产品以线性运动方向向前输送；测试产品进入测试位，接触到保持在固定位置的探针部的针头，探针部此时处于断电状态；感应部感应到位于测试位内的测试产品后被触发，导致探针部通电，针头开始测试测试产品；测试产品完成测试继续向前输送离开测试位，感应部导致探针部断电，探针部恢复断电状态。进一步地，上述针头呈L形状，其折弯部分的侧面与测试产品接触。本专利技术提供的滑动式探针测试装置，主要设置了产品承载部、驱动部和探针部，测试产品在产品承载部和驱动部的作用下作连续式的线性运动，然后探针部由于与测试产品始终保持接触，探针部的探针便以滑动测试的方式对测试产品进行测试，从而使得测试不具有停顿的时间，测试效率得到明显的提高，同时取消了压测的方式，可以有效地保护产品不受损伤。本专利技术另外提供的滑动式探针测试方法，由于采用了上述滑动式探针测试装置，因此同样具备了前述的优点，在此不再赘述。附图说明通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：图1为本专利技术实施例提供的滑动式探针测试装置在一些实施方式中在主视角度下的结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的滑动式探针测试装置在另一些实施方式中在主视角度下的结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的滑动式探针测试装置在俯视角度下的结构示意图；图4为本专利技术实施例提供的滑动式探针测试装置的探针部的针头的结构示意图。具体实施方式下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。滑动式探针测试装置实施例：参见图1至图3，图中示出了本专利技术实施例提供的滑动式探针测试装置的优选结构。该滑动式探针测试装置包括产品承载部1、驱动部3和探针部4，产品承载部1上用于放置测试产品2，以电容器为例，其可以用于放置电容器上用于测试的引脚部分，而为了更为稳固的固定引脚，产品承载部1可以设置为具有凹槽的台面，而为了提高绝缘性和耐磨性，产品承载部1还可以采用石英玻璃制成，驱动部3则带动测试产品2作线性运动，探针部4固定安装于支架42上并保持在固定位置，探针部4的针头41延伸至产品承载部1的测试位11，测试产品2被输送到测试位11后与针头41接触。其中，对于驱动部3如何带动测试产品2作线性运动，可以采用以下两种具体方式来实现。其一，参见图1，驱动部3安装于产品承载部1上，驱动部3包括电机31和传送带32，测试产品2放置于传送带32上；其二，参见图2，驱动部3连接产品承载部1，产品承载部1由驱动部3驱动作线性运动，该驱动部3具体可以包括电机33和丝杆34，产品承载部1穿设于丝杆34上。本实施例所提供的滑动式探针测试装置，主要设置了产品承载部、驱动部和探针部，测试产品在产品承载部和驱动部的作用下作连续式的线性运动，然后探针部由于与测试产品始终保持接触，探针部的探针便以滑动测试的方式对测试产品进行测试，从而使得测试不具有停顿的时间，测试效率得到明显的提高，同时取消了压测的方式，可以有效地保护产品不受损伤。参见图1，还设置了感应部5，测试产品2经过感应部5时，感应部5被触发并导致探针部4通电，反之则探针部4处于断电状态，使得针头41可以持续保持与测试产品2的接触，而不必担心一直通电而可能对测试产品2或者说设备本身所造成的损坏、耗电等影响。该感应部5具体可以选用光纤传感器、压力传感器等，并且通过安装板51安装于支架42上。参见图4，探针部4的针头41呈L形状，其折弯部分411的侧面与测试产品2接触，可以保持探针部4对测试产品2在滑测方式中测试的有效性，更佳地适应滑测的方式。参见图1至图3，产品承载部1与支架42内可滑动地穿设有导杆6，且导杆6位于产品承载部1与支架42之间的部分上套设有弹簧61，可以便于对产品承载部1与支架42之间的间距进行调节。产品承载部1内还设有轴承62，导杆6连接轴承62，便于进行调节。滑动式探针测试方法实施例：本实施例还提出了一种滑动式探针测试方法，结合图1至图3所示，其包括以下步骤：将测试产品2以线性运动方向向前输送；测试产品2进入测试位11，接触到保持在固定位置的探针部4的针头41，探针部4此时处于断电状态；感应部5感应到位于测试位11内的测试产品2后被触发，导致探针部4通电，针头41开始测试测试产品2；测试产品2完成测试继续向前输送离开测试位11，感应部5导致探针部4断电，探针部4恢复断电状态。其中，针头41呈L形状，其折弯部分411的侧面与测试产品2接触。上述方法具体内容与上述的滑动式探针测试装置相同，在此不再重复阐述。显然，本领域的技术人员可以对本专利技术进行各种改动和变型而不脱离本专利技术的精神和范围。这样，倘若本专利技术的这些修改和变型属于本专利技术权利要求及其等同技术的范围之内，则本专利技术也意图包含这些改动和变型在内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
滑动式探针测试装置，其特征在于，包括：产品承载部(1)，其上用于放置测试产品(2)；驱动部(3)，其带动所述测试产品(2)作线性运动；探针部(4)，其固定安装于支架(42)上并保持在固定位置，所述探针部(4)的针头(41)延伸至产品承载部(1)的测试位(11)，所述测试产品(2)被输送到所述测试位(11)后与所述针头(41)接触。

【技术特征摘要】
1.滑动式探针测试装置，其特征在于，包括：产品承载部(1)，其上用于放置测试产品(2)；驱动部(3)，其带动所述测试产品(2)作线性运动；探针部(4)，其固定安装于支架(42)上并保持在固定位置，所述探针部(4)的针头(41)延伸至产品承载部(1)的测试位(11)，所述测试产品(2)被输送到所述测试位(11)后与所述针头(41)接触。2.根据权利要求1所述的滑动式探针测试装置，其特征在于，所述驱动部(3)安装于所述产品承载部(1)上，所述驱动部(3)包括电机(31)和传送带(32)，所述测试产品(2)放置于所述传送带(32)上。3.根据权利要求1所述的滑动式探针测试装置，其特征在于，所述驱动部(3)连接所述产品承载部(1)，所述产品承载部(1)由所述驱动部(3)驱动作线性运动。4.根据权利要求3所述的滑动式探针测试装置，其特征在于，所述驱动部(3)包括电机(33)和丝杆(34)，所述产品承载部(1)穿设于所述丝杆(34)上。5.根据权利要求1所述的滑动式探针测试装置，其特征在于，还包括感应部(5)，所述测试产品(2)经过所述感应部(5)时，所述感应部(5)被触发并导致所述探针部(4)通电，反之则所述探针部(4)处于断电状态。6.根据权利要求1或5所述的滑动式探针...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨必祥，程传波，吴伟，胡鹏，石怡，
申请(专利权)人：昆山万盛电子有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32