一种新型的测试机探针制造技术

技术编号:11772120 阅读:101 留言:0更新日期:2015-07-26 13:58
本实用新型专利技术公开了一种新型的测试机探针,包括探针本体和设于探针本体端部的探头,所述的探头端部分布多个探脚,探脚呈发散状分布在探头表面,此处及本文中的发散状指探脚在探头表面按照一定规则由内部向外部分布,多个探脚较均匀的分布在探头表面,增加了探头与电池片的接触面积,在同样的压力下,压强分散到十二个脚上,从而解决测试过程中造成的碎片问题。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及太阳能电池测试机结构,尤其涉及测试机探针结构。
技术介绍
目前,在检测有机太阳能电池的光电性能(电流-电压曲线、量子效率)时,传统的测试方法一般都是用探针一面接触电池片的正电极(通常是导电玻璃,如ITO玻璃),另一面用探针接触电池片的负电极(通常是通过热蒸发蒸镀得到的近10nm厚的金属电极,如铝、金等),通过太阳光氙灯模拟器照射到电池片上的光来产生光电效应,通过探针来采集到数据信号,来达到测试电池片光电特性参数的目的。目前所使用的测试机测试探针为点接触,探脚为单个或者4个,探针与电池片接触时接触点局部的压强过大,容易导致太阳电池破碎或隐裂,增大了电池生产过程中的碎片率,降低了组件成品率。
技术实现思路
本技术为了解决现有技术中的不足而提供一种新型测试机探针,通过增加探针与电池片接触面积,降低电池片接触点的局部压强,降低了电池生产中碎片率,提高了组件成品率。为达到上述目的,本技术采用的技术方案为:一种新型的测试机探针,包括探针本体和设于探针本体端部的探头,所述的探头端部分布多个探脚,探脚呈发散状分布在探头表面,此处及本文中的发散状指探脚在探头表面按照一定规则由内部向外部分布,多个探脚较均匀的分布在探头表面,增加了探头与电池片的接触面积,在同样的压力下,压强分散到十二个脚上,从而解决测试过程中造成的碎片问题。作为本技术所述的新型的测试机探针的一种优选方案,每个探脚为金字塔状突起。作为本技术所述的新型的测试机探针的一种优选方案,所述的探头表面的探脚有4-21个。作为本技术所述的新型的测试机探针的一种优选方案,所述的探头表面的探脚有12个,分布在两个同心圆上,内圆分布4个,外圆分布8个。作为本技术所述的新型的测试机探针的一种优选方案,所述的探针本体由嵌套在一起的两根探杆组成,两探杆间设有弹性组件,两探杆可相对压缩并复原。【附图说明】图1是本技术提供的新型的测试机探针所示意图。图2为实施例所述的探脚结构示意图。其中:10、探针本体11、探杆12、探杆13、弹簧20、探头21、探脚【具体实施方式】下面结合附图和【具体实施方式】对本技术作进一步详细说明。实施例1如图1所示,一种新型的测试机探针,包括探针本体10和设于探针本体端部的探头20,探针本体10由嵌套在一起的探杆11和探杆12组成,探杆11和探杆12间设有弹性组件,两探杆可相对压缩并复原,优选的弹性组件为弹簧,弹簧可以形成缓冲,减小探头与电池片接触瞬间的相对压力,同时由于弹簧的回弹力,可以达到测试时压接电池片的目的。在探头20表面分布多个探脚21,探脚21发散状分布在探头表面,如图2所示,每个探脚为金字塔状突起,当然也可以为其他柱状或者常见形状的突起。探脚可以为4-21个,当探脚为4个时,呈正方形分布在探头表面,在探头表面均匀分散。当探脚为12个时,分布在两个同心圆上,内圆分布4个,外圆分布8个。当探脚为21个时,沿探头外圆均匀分布12个探脚,在外圆内均匀分布9个探脚,这9个探脚可以呈田字状分布在顶角和中点位置,也可以其他结构分布。虽然说明书中对本技术的实施方式进行了说明,但这些实施方式只是作为提示,不应限定本技术的保护范围。在不脱离本技术宗旨的范围内进行各种省略、置换和变更均应包含在本技术的保护范围内。【主权项】1.一种新型的测试机探针,包括探针本体和设于探针本体端部的探头,其特征在于:所述的探头端部分布多个探脚,探脚呈发散状分布在探头表面。2.根据权利要求1所述的测试机探针,其特征在于:每个探脚为金字塔状突起。3.根据权利要求1或2所述的新型的测试机探针,其特征在于:所述的探头表面的探脚有4-21个。4.根据权利要求3所述的新型的测试机探针,其特征在于:所述的探头表面的探脚有12个,分布在两个同心圆上,内圆分布4个,外圆分布8个。5.根据权利要求1所述的新型的测试机探针,其特征在于:所述的探针本体由嵌套在一起的两根探杆组成,两探杆间设有弹性组件,两探杆可相对压缩并复原。【专利摘要】本技术公开了一种新型的测试机探针,包括探针本体和设于探针本体端部的探头,所述的探头端部分布多个探脚,探脚呈发散状分布在探头表面,此处及本文中的发散状指探脚在探头表面按照一定规则由内部向外部分布,多个探脚较均匀的分布在探头表面,增加了探头与电池片的接触面积,在同样的压力下,压强分散到十二个脚上,从而解决测试过程中造成的碎片问题。【IPC分类】H01L21-66【公开号】CN204497196【申请号】CN201520164094【专利技术人】杨冬生, 钱小芳, 郭建东, 樊选东, 黄镇 【申请人】中建材浚鑫科技股份有限公司【公开日】2015年7月22日【申请日】2015年3月23日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种新型的测试机探针,包括探针本体和设于探针本体端部的探头,其特征在于:所述的探头端部分布多个探脚,探脚呈发散状分布在探头表面。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:杨冬生钱小芳郭建东樊选东黄镇
申请(专利权)人:中建材浚鑫科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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