一种大头测试探针制造技术

一种大头测试探针，包括针体，所述针体的前端还设有用于探测测试点的凸起的针头。所述针头的顶部可根据测试点的实际情况设计，如呈圆锥状、圆台状、圆弧状、钢笔尖状等。本实用新型专利技术在使用时，将凸起的针头抵触于测试点，凸起的针头可适用于多种测试点，遇线路板的焊点有小孔也可紧密接触焊点。另外，由于只是针头接触测试点，因此只需要针头采用铜材料即可，针体可采用钢材料，且可尽量做细，节省了成本。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

一种大头测试探针(一)
本技术涉及一种测试探针。(二)
技术介绍
一般情况下，印刷电路板及芯片等完成线路布置后，为确定每条 线路皆可正常导通，必须用测试探针予以测试。 一般的测试探针是一 根针体，针体的前端为探测头，在测试时探测头与测试点接触，针体 的后方连接导线，针体通过导线与测试机相连。为了提高测试的灵敏 性， 一般整个针体均采用铜材料，成本较高，若要节省成本只能将针 体做细，然而有些线路板的焊点有小孔细小的针头会从小孔穿越而过从而无法测量。(三)
技术实现思路
为了克服现有测试探针成本较高、遇特殊测量点可能会无法测量的 不足，本技术提供一种可降低成本、适用范围广的测试探针。本技术解决其技术问题的技术方案是 一种大头测试探针， 包括针体，所述针体的前端还设有用于探测测试点的凸起的针头。针头顶部的结构可根据不同测量点的实际情况而定，如所述针 头的顶部呈圆锥状；或者所述针头的顶部呈圆台状；或者所述针 头的顶部呈圆弧状；或者所述针头的顶部呈钢笔尖状。本技术在使用时，将凸起的针头抵触于测试点，凸起的针头 可适用于多种测试点，遇线路板的焊点有小孔也可紧密接触焊点。另外，由于只是本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种大头测试探针，包括针体，其特征在于：所述针体的前端还设有用于探测测试点的凸起的针头。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：沈芳珍，周燕明，
申请(专利权)人：沈芳珍，
类型：实用新型
国别省市：33[中国|浙江]