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一种大头测试探针制造技术
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文档序号:2641937
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一种大头测试探针,包括针体,所述针体的前端还设有用于探测测试点的凸起的针头。所述针头的顶部可根据测试点的实际情况设计,如呈圆锥状、圆台状、圆弧状、钢笔尖状等。本实用新型在使用时,将凸起的针头抵触于测试点,凸起的针头可适用于多种测试点,遇线路...
该专利属于沈芳珍所有,仅供学习研究参考,未经过沈芳珍授权不得商用。
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