本实用新型涉及一种刷式连接器用的毛刷插针，目的是提供一种连接稳定、导电性能好的刷式连接器用的毛刷插针，包括毛刷尾簧、毛刷针后套和毛刷针丝，毛刷针丝固定在所述毛刷针后套的底部，所述毛刷尾簧固定在毛刷针后套的顶端。本实用新型的刷式连接器用的...

本实用新型涉及一种测量探针，目的是提供一种效率高，省时间，使用寿命长的测试底座针，包括测试底座针针体，所述测试底座针针体的端部设有多个针头，相邻两个针头之间的夹角为60度。本实用新型所述测试底座针针体的端部设有多个针头，相邻两个针头之间...

本实用新型公开了一种芯片测试探针，包括针体(1)、探头(2)；所述针体外面裹有一层绝缘层；探头(2)卡接在针体(1)的两端上且可以任意取下、装配。所述针体(1)直径为0.05mm-0.08mm；绝缘层厚度为0.04mm-0.08mm；所...

本实用新型公开了一种ICT测试探针，包括针管(1)，针管(1)形成一中空管，针管(1)的前端设有轴向的插道(5)，针管(1)的尾部设有凸台(4)；所述插道(5)内可以放置探针的针体(2)，针体(2)连接一探测头(3)；所述针管(1)的插...

一种电子连接器，包括针体，所述的针体开设有用于插设插芯的插孔，所述的插孔从所述针体的后端面向前延伸，所述的针体上开设有径向的排气孔，所述的排气孔与所述的插孔联通。所述的排气孔的后部还设有前窄后宽的喇叭状的倒角。由于开设有与插孔联通的排气...

一种测试探针，包括针套和探针针体，所述探针针体的前部为用于接触测试点的探测头，所述探针针体的后部装于所述针套的头部，所述针套的尾部通过导线与测试机相连接，所述的探测头上套设有一绝缘套，所述的绝缘套高出所述的探测头。所述针套的头部设有插接...

一种测试探针，包括针套和探针针体，所述探针针体的前部为用于接触测试点的探测头，所述探针针体的后部装于所述针套的头部，所述针套的尾部通过导线与测试机相连接，所述的针套上设有一圈凸起。所述针套的头部设有插接所述探针针体的插槽，将所述的探针针...

本发明公开了一种航天用微型连接器插孔材料，其成分含有铁、黄铜或青铜；所述插孔材料成分还包括镍。所述插孔材料成分中镍的比重为１％－７％。本发明通过在材料中添加镍，插孔薄管壁强度有了明显的提高，插拔力增强，从而使插孔性能可靠、稳定，使用寿命...

一种高密度测试探针，包括针体，所述针体的前端为用于接触测试点的探测头，所述针体的后端为扁平片，所述针体的前端的探测头呈圆锥状，所述针体后端的扁平片外缘呈弧形。在使用时，需要测试仪相配合，测试仪内设有竖直放置的压簧，测试探针后端的扁平片卡...

一种大头测试探针，包括针体，所述针体的前端还设有用于探测测试点的凸起的针头。所述针头的顶部可根据测试点的实际情况设计，如呈圆锥状、圆台状、圆弧状、钢笔尖状等。本实用新型在使用时，将凸起的针头抵触于测试点，凸起的针头可适用于多种测试点，遇...

一种空管测试探针，包括针体，所述针体的前端设有轴向的插道，所述的插道内插设有探测头，为进一步节省材料，插道可贯穿所述的针体，所述的针体形成一中空管。探测头的顶部根据测试点的具体情况可设计成不同的形状，如齿口状、圆弧状等。本实用新型的有益...

一种绝缘测试探针，包括针体，所述针体的前端为用于接触测试点的探测头，所述的针体上包裹有绝缘层，所述绝缘层前方的针体形成探测头所在的探测端，所述绝缘层后方的针体形成连接导线的连接端。探测头根据测试点的具体情况可设计为圆锥状、圆弧状、齿口状...

一种双头测试探针，包括针套，针套内设有轴向的压簧，还包括用于探测测试点的探测针头和用于连接测试机的探测针尾，探测针头套于针套的前端，探测针尾套于针套的后端，探测针头和探测针尾通过压簧连接，探测针头外露于针套外的部分形成探测头，探测针尾外...

一种测试底座针，包括针套，针套内设有轴向的压簧，针套内可滑动得套设有针体，针体的尾部顶在压簧上从而使得针体在针套内具有弹性伸缩的回复力，针体的前部位于针套外，针体的前端具有插接测试探针的插槽；针体上设有防止其滑出针套的止退台阶，针套具有...