一种空管测试探针制造技术

一种空管测试探针，包括针体，所述针体的前端设有轴向的插道，所述的插道内插设有探测头，为进一步节省材料，插道可贯穿所述的针体，所述的针体形成一中空管。探测头的顶部根据测试点的具体情况可设计成不同的形状，如齿口状、圆弧状等。本实用新型专利技术的有益效果在于：１．在同一根针体上可更换不同类型的探测头，适用范围广。２．只需一根针体便可适配多个探测头，节约了成本。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测试探针。(二)
技术介绍
一般情况下，印刷电路板及芯片等完成线路布置后，为确定每条 线路皆可正常导通，必须用测试探针予以测试。 一般的测试探针是一 根针体，针体的前端为探测头，在测试时探测头与测试点接触，针体 的后方连接导线，针体通过导线与测试机相连。其存在的缺点是一 根测试探针具有固定的探测头，然而测试点的类型较多，针对不同的 测试点，有时需要适用不同形状的探测头，这时只更换不同的测试探 针。(三)
技术实现思路
为了克服现有测试探针无法更换探测头的不足，本技术提供 种可更换探测头的空管测试探针。本技术解决其技术问题的技术方案是 一种空管测试探针， 包括针体，所述针体的前端设有轴向的插道，所述的插道内插设有探 测头。进一步，所述的插道贯穿所述的针体，所述的针体形成一中空管。 进一步，所述针体的尾部设有凸台。所述探测头的顶部呈齿口状。所述探测头的顶部根据不同测试点的具体情况，可设计成不同的形状，如所述探测头的顶部呈齿口状；或者所述探测头的顶部呈 圆弧状。本技术在使用时，将探测头插于针体的前端，测试时探测头 与测试点接触，针体的后方连接导线，针体通过导线与测试机相连，根据不同测试点的类型可更换不同的探测头。本技术的有益效果在于1.在同一根针体上可更换不同类型的 探测头，适用范围广。2.只需一根针体便可适配多个探测头，节约了成 本。(四) 附图说明 图l是针体的局部剖视图。 图2是探测头的结构示意图。图3是另一探测头的结构示意图。具体实施方式以下结合附图和具体实施方式对本技术作进一步详细说明。 参照图l、图2， 一种空管测试探针，包括针体l，所述针体l的前端设有轴向的插道2，所述的插道2内插设有探测头3，该探测头3的顶部呈齿口状。所述的插道2可贯穿所述的针体1，所述的针体1形成一中空管， 这样可更加节省成本。所述针体l的尾部设有凸台4，便于将测试探针安装在针板上。 本技术在使用时，将探测头3插于针体1的前端，测试时探 测头3与测试点接触，针体1的后方连接导线，针体1通过导线与测 试机相连，根据不同测试点的类型可更换不同的探测头，如图3所示 的顶部呈圆弧状的探测头，或顶部呈圆锥状的探测头等。权利要求1.一种空管测试探针，包括针体，其特征在于所述针体的前端设有轴向的插道，所述的插道内插设有探测头。2. 如权利要求1所述的空管测试探针，其特征在于所述的插道 贯穿所述的针体，所述的针体形成一中空管。3. 如权利要求1或2所述的空管测试探针，其特征在于所述针体的尾部设有凸台。4. 如权利要求1或2所述的空管测试探针，其特征在于所述探测头的顶部呈齿口状。5. 如权利要求1或2所述的空管测试探针，其特征在于所述探测头的顶部呈圆弧状。专利摘要一种空管测试探针，包括针体，所述针体的前端设有轴向的插道，所述的插道内插设有探测头，为进一步节省材料，插道可贯穿所述的针体，所述的针体形成一中空管。探测头的顶部根据测试点的具体情况可设计成不同的形状，如齿口状、圆弧状等。本技术的有益效果在于1.在同一根针体上可更换不同类型的探测头，适用范围广。2.只需一根针体便可适配多个探测头，节约了成本。文档编号G01R1/067GK201041571SQ20072010833公开日2008年3月26日 申请日期2007年4月19日 优先权日2007年4月19日专利技术者周燕明, 沈芳珍 申请人:沈芳珍本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种空管测试探针，包括针体，其特征在于：所述针体的前端设有轴向的插道，所述的插道内插设有探测头。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：沈芳珍，周燕明，
申请(专利权)人：沈芳珍，
类型：实用新型
国别省市：33[中国|浙江]