【技术实现步骤摘要】
本技术涉及测试器具，尤其涉及一种测试探针。(二)
技术介绍
一般情况下，印刷电路板及芯片在完成线路布置后，为确定每一条 线路皆可正常导通，通常必须予以测试，以将电子线路完好的印刷电路 板及芯片挑出，再将各电子元件固定在该印刷电路板及芯片上。现有的 测试探针由针套和针体组成，针体套于针套的前端，外露的部分形成探 测头。在测试一印刷电路板时，其印刷电路板上有多个测试点，需将多 个测试探针根据测试点的高低情况安装在测试探针的安装板上，然后针 体的探测头与测试点相接触，针套的尾部通过导线连接测试机，从而可 以一次性对一印刷电路板进行测试。其存在的缺点是由于测试点的高 低不一，在将测试探针安装在安装板上时，需对测试探针的安装位置进 行调节，这样既费时间，也很麻烦。(三)
技术实现思路
为了克服现有测试探针存在安装位置不易调节的不足，本技术 提供一种结构简单，并且不需调节安装位置的测试探针。本技术解决其技术问题的技术方案是 一种测试探针，包括针 套和探针针体，所述探针针体的前部为用于接触测试点的探测头，所述 探针针体的后部装于所述针套的头部，所述针套的尾部通过导线与测试 机相连接，所述的针套上设有一圈凸起。所述的凸起在所述的针套上的 位置根据根据不同测试点的实际情况而定。3所述针套的头部设有插接所述探针针体的插槽，便于将探针针体固 定在针套上。所述凸起的截面形状为圆环形。本技术在测试多个测试点时，将多个所述的针套根据测试点的高低安装在测试探针的安装板上，所述针套上的凸起固定于安装测试探针的安装板上的相应位置，将所述的探针针体插于所述针套的头部，所述探针针体的探测头接...
【技术保护点】
一种测试探针，包括针套和探针针体，所述探针针体的前部为用于接触测试点的探测头，所述探针针体的后部装于所述针套的头部，所述针套的尾部通过导线与测试机相连接，其特征在于：所述的针套上设有一圈凸起。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：沈芳珍，周燕明，
申请(专利权)人：沈芳珍，
类型：实用新型
国别省市：33[中国|浙江]
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