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一种测试探针，包括针套和探针针体，所述探针针体的前部为用于接触测试点的探测头，所述探针针体的后部装于所述针套的头部，所述针套的尾部通过导线与测试机相连接，所述的探测头上套设有一绝缘套，所述的绝缘套高出所述的探测头。所述针套的头部设有插接所述...
该专利属于沈芳珍所有，仅供学习研究参考，未经过沈芳珍授权不得商用。

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