半导体封装件制造技术

技术编号:10049718 阅读:146 留言:0更新日期:2014-05-15 20:06
本发明专利技术提供了一种半导体封装件,该半导体封装件包括:引线框架,引线框架的一个表面上安装有电子组件;散热基底,设置在引线框架下方;绝缘构件,设置在电子组件上方,以使得电子组件彼此电连接;导电构件,设置在绝缘构件和引线框架之间并且将电子组件电连接到引线框架;成型部分,封闭地密封绝缘构件和散热基底。

【技术实现步骤摘要】
本申请要求于2012年10月30日提交到韩国知识产权局的第10-2012-0121315号韩国专利申请的优先权,该申请的公开通过引用被包含于此。
本专利技术涉及一种半导体封装件,更具体地说,涉及一种增强了电子组件之间的电连接可靠性以及电子组件与引线框架之间的电连接可靠性的半导体封装件。
技术介绍
半导体封装件包括引线框架、安装在引线框架上的功率半导体元件以及利用树脂等对相应元件的外部成型的成型部分。通常,安装在引线框架上的功率半导体元件通过引线电连接到引线框架,相应元件还通过引线彼此电连接。然而,当安装的功率半导体元件的数量增加时,用于电连接相应元件的引线的数量也增加,从而引线的工艺会复杂化,同时还由于在引线结合工艺期间的焊接而产生热,由于所述热可能引起引线变形并且引线可能由于外部冲击等断开。此外,当元件通过引线连接时,由于引线具有弯曲的形状,因此不能通过元件之间的显著减小的距离将元件彼此连接,从而增大了感应。下面提到的相关技术文件公开了一种通过引线结合将半导体芯片和引线框架电连接的塑性封装件。[相关技术文件]第1999-0081575号韩国专利特开公布
技术实现思路
本专利技术的一方面提供了一种半导体封装件,其中,电子组件通过电子组件之间的显著减小的距离彼此电连接,防止由于焊接工艺导致的引线的断开或者引线的热变形,并且简化了制造工艺,使得半导体封装件的尺寸减小。根据本专利技术的一方面,提供了一种半导体封装件,该半导体封装件包括:引线框架,引线框架的一个表面上安装有电子组件;散热基底,设置在引线框架下方;绝缘构件,设置在电子组件上方,以使得电子组件彼此电连接;导电构件,设置在绝缘构件和引线框架之间并且将电子组件电连接到引线框架;成型部分,封闭地密封绝缘构件和散热基底。引线框架的一个表面上可以形成有突起,电子组件可以设置在所述突起上。引线框架的一个表面中可以形成有凹进,电子组件可以设置在所述凹进中。多个电子组件可以设置在引线框架的一个表面上,电子组件的上表面可以线性地设置。绝缘构件和电子组件可以通过使用导电材料而接合。所述半导体封装件还可以包括第一热沉,所述第一热沉附着到散热基底的下侧。所述半导体封装件还可以包括第二热沉,所述第二热沉附着到绝缘构件的上侧。成型部分可以由从硅凝胶、环氧树脂塑封料化合物(EMC)和聚酰亚胺中选择的任意一种形成。根据本专利技术的另一方面,提供了一种半导体封装件,该半导体封装件包括:引线框架,引线框架的一个表面上安装有多个电子组件;散热基底,设置在引线框架下方;散热构件,电接合到多个电子组件,散热构件的一个表面上形成有导电层;导电构件,设置在散热构件和引线框架之间并且将电子组件和引线框架电连接;成型部分,封闭地密封散热构件和散热基底,其中,多个电子组件的上表面线性地设置。引线框架可以包括设置在引线框架的一个表面上的突起和凹进。附图说明通过下面结合附图进行的详细描述,本专利技术的上述和其它方面、特点及其它优点将会被更加清楚地理解,在附图中:图1是示出了根据本专利技术实施例的突起和凹进形成在引线框架上及引线框架中的半导体封装件的剖视图;图2是示出了根据本专利技术实施例的电子组件安装在引线框架上的半导体封装件的剖视图;图3是示出了根据本专利技术实施例的绝缘构件设置在电子组件上部的半导体封装件的剖视图;图4是示出了根据本专利技术实施例的半导体封装件的示意性剖视图;图5是示出了根据本专利技术实施例的连接到外部基底的半导体封装件的剖视图;图6是示出了根据本专利技术另一实施例的连接到外部基底的半导体封装件的剖视图。具体实施方式下文中,将参照附图详细描述本专利技术的实施例。然而,本专利技术可以以许多不同的形式体现,并且不应该被解释为限于在此阐述的实施例。相反,提供这些实施例使得该公开将是彻底和完整的,并且将把本专利技术的范围充分传达给本领域技术人员。在附图中,为了清楚起见,可能会夸大元件的形状和尺寸,并且将始终使用相同的标号指示相同或相似的元件。开始,将限定关于方向的术语。外径方向或内径方向可以是从成型部分160的中央朝向成型部分160的外边缘的方向,反之亦然,术语向上和向下可以是从散热基底130朝向绝缘构件140的方向,反之亦然。图1是示出了根据本专利技术实施例的突起和凹进形成在引线框架上及引线框架中的半导体封装件的剖视图,图2是示出了根据本专利技术实施例的电子组件安装在引线框架上的半导体封装件的剖视图。另外,图3是示出了根据本专利技术实施例的绝缘构件设置在电子组件上部的半导体封装件的剖视图,图4是示出了根据本专利技术实施例的半导体封装件的示意性剖视图。另外,图5是示出了根据本专利技术实施例的连接到外部基底的半导体封装件的剖视图。参照图1到图5,根据本专利技术实施例的半导体封装件100可以包括电子组件110、引线框架120、散热基底130、绝缘构件140、导电构件150和成型部分160。电子组件110可以包括诸如无源元件或者有源元件的各种电子元件。任意的电子元件可以用作电子组件110,只要它们可以安装在引线框架120上或者安装在引线框架120内即可。即,根据本专利技术实施例的电子组件110可以包括诸如半导体芯片的至少一种有源元件以及各种无源元件。同时,如图4所示,在根据本专利技术实施例的半导体封装件100中,电子组件110和引线框架120通过利用绝缘构件140彼此电连接,即,通过形成在绝缘构件140的一个表面上的导电层142彼此电连接,而不是通过结合引线彼此电连接。稍后将对此进行详细描述。引线框架120包括多个引线,并且在这种情况下,相应的引线可以包括连接到外部基底190的外引线124和连接到电子组件110的内引线122。即,外引线124可以指的是暴露到成型部分160外部的部分,内引线122可以指的是暴露在成型部分160内的部分。这里,外引线124沿径向方向突出到成型部分160的外部,并且可以在其一端处弯曲为向上延伸。电子组件110可以安装在内引线122的一个表面上,电子组件110可以通过利用绝缘构件140电连接到引线框架120,即,通过设置在绝缘构件和引线框架之间的导电构件电连接到引线框架120。允许电子组件110被安装在其上的安装电极或者电连接安装电极的电路图案(未示出)可以形成在引线框架120的上表面上。另本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体封装件,所述半导体封装件包括:引线框架,引线框架的一个表面上安装有电子组件;散热基底,设置在引线框架下方;绝缘构件,设置在电子组件上方,以使得电子组件彼此电连接;导电构件,设置在绝缘构件和引线框架之间并且将电子组件电连接到引线框架;成型部分,封闭地密封绝缘构件和散热基底。

【技术特征摘要】
2012.10.30 KR 10-2012-01213151.一种半导体封装件,所述半导体封装件包括:
引线框架,引线框架的一个表面上安装有电子组件;
散热基底,设置在引线框架下方;
绝缘构件,设置在电子组件上方,以使得电子组件彼此电连接;
导电构件,设置在绝缘构件和引线框架之间并且将电子组件电连接到引
线框架;
成型部分,封闭地密封绝缘构件和散热基底。
2.如权利要求1所述的半导体封装件,其中,引线框架的一个表面上形
成有突起,电子组件设置在所述突起上。
3.如权利要求1所述的半导体封装件,其中,引线框架的一个表面中形
成有凹进,电子组件设置在所述凹进中。
4.如权利要求2所述的半导体封装件,其中,多个电子组件设置在引线
框架的一个表面上,电子组件的上表面线性地设置。
5.如权利要求3所述的半导体封装件,其中,多个电子组件设置在引线
框架的一个表面上,电子组件的上表面线性地设置。
6.如权利要求1所述的半导...

【专利技术属性】
技术研发人员:林栽贤洪昌燮郭煐熏孙莹豪
申请(专利权)人:三星电机株式会社
类型:发明
国别省市:韩国;KR

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