【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种半导体封装基板,包含:一可挠性基材,用以承载一芯片;多个测试垫,设置于该可挠性基材上,所述多个测试垫是用以供一测试探针接触;多个引脚,设置于该可挠性基材上,各所述多个引脚的一端电性连接该芯片,另一端连接所述多个测试垫的其中之一;以及一阻挡层,设置于该可挠性基材上并位于所述多个测试垫中的至少一者的周围,该阻挡层与所述多个测试垫的该至少一者间形成一凹陷部。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:赖奎佑,
申请(专利权)人:南茂科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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