存储器的可靠性测试方法技术

技术编号:8241822 阅读:202 留言:0更新日期:2013-01-24 22:46
本发明专利技术提供一种存储器的可靠性测试方法,包括对存储器进行第一测试,第一测试包括:在存储器内写入数据;对存储器进行第一擦除操作,第一擦除操作持续第一时间;对存储器完成第一擦除操作后,判断存储器中的信息是否实现有效擦除;如果存储器中的信息实现了有效擦除,则存储器为良品;如果存储器中的信息未实现有效擦除,对存储器继续进行第二擦除操作,第二擦除操作持续第二时间;对存储器完成第二擦除操作后,判断存储器中的信息是否实现有效擦除;如果存储器中的信息实现了有效擦除,则存储器为弱擦除产品;如果存储器中的信息未实现有效擦除,则存储器为差品。本发明专利技术可靠性测试方法具有较高的测试准确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体
,尤其涉及一种。
技术介绍
存储器为计算机系统的记忆设备,用来存放程序和数据。存储器大致可分为两大类易失存储器和非易失存储器。易失存储器在系统关闭时立即失去存储在内的数据;它需要持续的电源供应以维持数据。非易失存储器在系统关闭或无电源供应时仍能保持数据。 对于存储器而言,数据保持能力(Data Retention)、耐久力(Endurance)等是评价存储器性能的参数。在存储器制作完成之后准备出厂之前,通常会通过可靠性测试对存储器的性能进行评价。在公开号为CN102420017A的中国专利申请中公开了一种闪存的可靠性测试方法,包括对闪存进行烘焙,使闪存经受高温,并将烘焙之前只读区域中只读数据经校验算法计算后的第一校验值和烘焙后只读区域中只读数据经校验算法计算后的第二校验值进行比较,用于判断闪存的各参数是否符合设计规格。在所述中国专利申请中,通常在烘培之前的测试中对存储器的擦除操作进行可靠性测试。现有技术在对擦除操作进行可靠性测试时通常难以分辨弱擦除(Weak EraseFailure)的问题,而所述弱擦除是与存储器的耐久力相关的一项参数,如果弱擦除产品未本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种存储器的可靠性测试方法,其特征在于,包括:对存储器进行第一测试,所述第一测试的步骤包括:在存储器内写入数据;对存储器进行第一擦除操作,所述第一擦除操作持续第一时间;对存储器完成第一擦除操作后,判断所述存储器中的信息是否实现有效擦除;如果所述存储器中的信息实现了有效擦除,则所述存储器为良品;如果所述存储器中的信息未实现有效擦除,对所述存储器继续进行第二擦除操作,所述第二擦除操作持续第二时间;对存储器完成第二擦除操作后,判断所述存储器中的信息是否实现有效擦除;如果所述存储器中的信息实现了有效擦除,则所述存储器为弱擦除产品;如果所述存储器中的信息未实现有效擦除,则所述存储器为差品。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:钱亮
申请(专利权)人:上海宏力半导体制造有限公司
类型:发明
国别省市:

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