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本发明提供一种存储器的可靠性测试方法，包括对存储器进行第一测试，第一测试包括：在存储器内写入数据；对存储器进行第一擦除操作，第一擦除操作持续第一时间；对存储器完成第一擦除操作后，判断存储器中的信息是否实现有效擦除；如果存储器中的信息实现了有...
该专利属于上海宏力半导体制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海宏力半导体制造有限公司授权不得商用。

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