【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体领域,特别涉及一种基于设备自动化系统的多批次连续运行的方法。
技术介绍
目前对于半导体器件的制作,一般使用设备自动化系统(以下简称EAP系统)对机台进行控制。例如,在光刻制程中,对联机(inline)设置的涂胶显影机(track)和曝光机(stepper或scanner)进行控制。S卩,当一个片匣(cassette)被置于涂胶显影机后,EAP系统会与制造执行系统(以下简称MES系统)来核查相关的制程要求,之后则会自动地依顺序进行下列的流程: 1、EAP系统发送开始命令start到涂胶显影机; 2、涂胶显影机开始其加工工作; 3、当片匣中的第一片晶圆(wafer)被传送到涂胶显影机与曝光机之间设置的缓冲站(buffer station)暂存时,曝光机会收到菜单下载命令PPSelect。对于置于涂胶显影机的每一个片匣,系统都会重复上述第f 3项的流程。当收到所述菜单下载命令PPSelect后,曝光机就会检测对该片匣中晶圆的具体制程要求,选择相匹配的光罩(reticle)并对这一批(即一个lot的)晶圆进行加工处理。然而,如果先后进入 ...
【技术保护点】
一种多批次连续运行的方法,其特征在于:所述方法通过设备自动化系统,控制联机设置的涂胶显影机和曝光机,对接连输送到涂胶显影机的多批晶圆进行加工处理;所述涂胶显影机与曝光机之间设置有暂存晶圆的缓冲站;称连续的多批晶圆中的任意一批为前一批晶圆,这一批之后紧接着输送的一批为后一批晶圆;?所述方法包含通过所述设备自动化系统对每一批晶圆的批次结束信号的发送进行控制;即,在前一批晶圆中的所有晶圆都从所述涂胶显影机传送到缓冲站时,控制所述涂胶显影机不向曝光机发送所述前一批晶圆的批次结束信号,从而使所述曝光机将对所述前一批晶圆使用的制程,直接应用到对后一批晶圆的加工,实现这两批晶圆的连续运行 ...
【技术特征摘要】
1.一种多批次连续运行的方法,其特征在于: 所述方法通过设备自动化系统,控制联机设置的涂胶显影机和曝光机,对接连输送到涂胶显影机的多批晶圆进行加工处理;所述涂胶显影机与曝光机之间设置有暂存晶圆的缓冲站;称连续的多批晶圆中的任意一批为前一批晶圆,这一批之后紧接着输送的一批为后一批晶圆; 所述方法包含通过所述设备自动化系统对每一批晶圆的批次结束信号的发送进行控制; 即,在前一批晶圆中的所有晶圆都从所述涂胶显影机传送到缓冲站时,控制所述涂胶显影机不向曝光机发送所述前一批晶圆的批次结束信号,从而使所述曝光机将对所述前一批晶圆使用的制程,直接应用到对后一批晶圆的加工,实现这两批晶圆的连续运行; 并且,只有当前后两批晶圆不能连续运行时,才由所述设备自动化系统发送前一批晶圆的批次结束信号,控制曝光机对这两批晶圆使用各自匹配的制程来分别处理。2.如权利要求1所述多批次连续运行的方法,其特征在于, 所述方法包含以下步骤: 步骤1、当装有后一批晶圆的片匣被放置到涂胶显影机上时,所述设备自动化系统向涂胶显影机发送菜单下载命令,而该信号中并不包括所述后一批晶圆的批次结束信号; 步骤2、当后一...
【专利技术属性】
技术研发人员:周卫峰,成汉华,
申请(专利权)人:上海宏力半导体制造有限公司,
类型:发明
国别省市:
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