自动化内存电特性测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种自动化内存电特性测试系统，包括：测试器，其上设置有多个被测内存插座，用于插接被测内存并进行测试；电源及数据转换器，与所述测试器相连，为所述测试器供电，并接收所述测试器的测量结果进行转换；处理器，与所述电源及数据转换器相连，由所述电源及数据转换器供电，并接收所述电源及数据转换器转换的测量结果。本实用新型专利技术能够对不同种类内存进行全面电特性测试与SPD信息烧录；通过自动识别内存种类，对内存SPD自动烧录内存基本信息与测试结果；能够全自动对产品进行测试，完成良品、不良品区分放置，避免产品发生混合；效率化生产，可以同时测试多达12个产品，提高生产效率，从而适应现代化生产需求。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及半导体器件，特别是涉及ー种自动化内存电特性测试系统。
技术介绍
电脑内存通过表面贴装技术进行组装，将几十个原辅材料组合在一起，如何检验其组装以后的性能相当重要。市场上内存在安装中会有很大一部分无法开机运行，更严重的内部短路点情况会将电脑主板烧毁等现象也有发生。另ー方面，由于大量的焊接点可能存在虚焊、脱焊等情况，经过一段时间的使用后必然出现不良，给客户造成极大的损失。内存需要将基本信息烧录至SPD(SH)是SERIAL PRESENCE DETECT的缩写，中文意思是模组存在的串行检测，也即是通过IIC串行接ロ的EEPROM(Electrically ErasableProgrammable Read-Only Memory,电可擦可编程只读存储器)对内存插槽中的模组存在的信息检查)，不同种类、不同频率、不同容量内存的基本信息不同，因此，烧录错误将会造成不可弥补的损失，SPD信息烧录的准确性、高效性是很多内存生产厂商的顽疾。
技术实现思路
(一 )要解决的技术问题本技术要解决的技术问题是如何实现对内存电特性的测试，以提高内存在后续使用中的稳定性。( ニ )技术方案为了解决上述技术问题，本技术提供一种自动化内存电特性测试系统，其包括测试器，其上设置有多个被测内存插座，用于插接被测内存并进行测试；电源及数据转换器，与所述测试器相连，为所述测试器供电，并接收所述测试器的測量结果进行转换；处理器，与所述电源及数据转换器相连，由所述电源及数据转换器供电，并接收所述电源及数据转换器转换的測量結果。其中，还包括控制器，分别与所述电源及数据转换器和测试器相连，用于控制所述测试器对内存进行测试以及控制电源及数据转换器的结果转换。其中，所述电源及数据转换器与所述测试器之间通过系统总线相连。其中，所述处理器与所述电源及数据转换器之间通过通用接ロ总线相连。其中，所述控制器分别通过监控器电缆与所述电源及数据转换器和测试器相连。(三)有益效果上述技术方案所提供的自动化内存电特性测试系统，能够对不同种类内存进行全面电特性测试与sro信息烧录；控制器能够自动下载测试程序，对内存每个引脚进行电特性测试与读写操作，组立性不良检出率100% ;通过自动识别内存种类，对内存SPD自动烧录内存基本信息与测试結果；能够全自动对产品进行测试，完成良品、不良品区分放置，避免产品发生混合；效率化生产，可以同时测试多达12个产品，提高生产效率，从而适应现代化生产需求。附图说明图I是本技术实施例的自动化内存电特性测试系统的结构示意图。具体实施方式以下结合附图和实施例，对本技术的具体实施方式作进ー步详细描述。以下实施例用于说明本技术，但不用来限制本技术的范围。图I示出了本实施例的自动化内存电特性测试系统的结构示意图，參照图示,其包括测试器，其上设置有多个被测内存插座，用于插接被测内存并进行测试；电源及数据转换器，与所述测试器相连，为所述测试器供电，并接收所述测试器的測量结果进行转换；处理器，与所述电源及数据转换器相连，由所述电源及数据转换器供电，并接收所述电源及数据转换器转换的測量結果。还包括控制器，分别与所述电源及数据转换器和测试器相连，用于控制所述测试器对内存进行测试以及控制电源及数据转换器的结果转换。具体地，所述电源及数据转换器与所述测试器之间通过系统总线相连；所述处理器与所述电源及数据转换器之间通过通用接ロ总线相连；所述控制器分别通过监控器电缆与所述电源及数据转换器和测试器相连。使用本实施例的自动化内存电特性测试系统进行电特性测试时，通过控制器来控制测试程序的下载，显示测试结果，保存详细测试结果信息；电源及数据转换器部分用于提供各个设备的电源，并且完成与处理器之间的数据交换，实现处理器自动抓取与区分内存；测试器部分用于测试内存，并且具有对sro进行烧录的功能。该系统能够实现批量化生产需要，自动化实现产品的测试与区分，一台控制器，能够实现对多个测试头进行控制，即安装在测试器上的多个内存在同一程序、同一标准下进行测试。测试器部分可以根据不同类型产品进行更换测试头，提高其通用性，该系统最多一次可以对12个测试头进行同时测试，并且可以任意开启关闭其中的测试头。由以上实施例可以看出，本技术实施例能够对不同种类内存进行全面电特性测试与sro信息烧录；控制器能够自动下载测试程序，对内存每个引脚进行电特性测试与读写操作，组立性不良检出率100% ;通过自动识别内存种类，对内存SPD自动烧录内存基本信息与测试结果；能够全自动对产品进行测试，完成良品、不良品区分放置，避免产品发生混合；效率化生产，可以同时测试多达12个产品，提高生产效率，从而适应现代化生产需求。以上所述仅是本技术的优选实施方式，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本技术技术原理的前提下，还可以做出若干改进和替换，这些改进和替换也应视为本技术的保护范围。权利要求1.一种自动化内存电特性测试系统，其特征在于，包括测试器，其上设置有多个被测内存插座，用于插接被测内存并进行测试；电源及数据转换器，与所述测试器相连，为所述测试器供电，并接收所述测试器的测量结果进行转换；处理器，与所述电源及数据转换器相连，由所述电源及数据转换器供电，并接收所述电源及数据转换器转换的测量结果。2.如权利要求I所述的自动化内存电特性测试系统，其特征在于，还包括控制器，分别与所述电源及数据转换器和测试器相连，用于控制所述测试器对内存进行测试以及控制电源及数据转换器的结果转换。3.如权利要求2所述的自动化内存电特性测试系统，其特征在于，所述电源及数据转换器与所述测试器之间通过系统总线相连。4.如权利要求2所述的自动化内存电特性测试系统，其特征在于，所述处理器与所述电源及数据转换器之间通过通用接口总线相连。5.如权利要求2所述的自动化内存电特性测试系统，其特征在于，所述控制器分别通过监控器电缆与所述电源及数据转换器和测试器相连。专利摘要本技术公开了一种自动化内存电特性测试系统，包括测试器，其上设置有多个被测内存插座，用于插接被测内存并进行测试；电源及数据转换器，与所述测试器相连，为所述测试器供电，并接收所述测试器的测量结果进行转换；处理器，与所述电源及数据转换器相连，由所述电源及数据转换器供电，并接收所述电源及数据转换器转换的测量结果。本技术能够对不同种类内存进行全面电特性测试与SPD信息烧录；通过自动识别内存种类，对内存SPD自动烧录内存基本信息与测试结果；能够全自动对产品进行测试，完成良品、不良品区分放置，避免产品发生混合；效率化生产，可以同时测试多达12个产品，提高生产效率，从而适应现代化生产需求。文档编号G11C29/56GK202650548SQ201220183118公开日2013年1月2日 申请日期2012年4月27日 优先权日2012年4月27日专利技术者沈泽斌, 陶宗明, 王一, 刘欣, 蔡燕, 唐奇胜 申请人:海太半导体(无锡)有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自动化内存电特性测试系统，其特征在于，包括：测试器，其上设置有多个被测内存插座，用于插接被测内存并进行测试；电源及数据转换器，与所述测试器相连，为所述测试器供电，并接收所述测试器的测量结果进行转换；处理器，与所述电源及数据转换器相连，由所述电源及数据转换器供电，并接收所述电源及数据转换器转换的测量结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：沈泽斌，陶宗明，王一，刘欣，蔡燕，唐奇胜，
申请(专利权)人：海太半导体无锡有限公司，
类型：实用新型
国别省市：