本技术提供一种有效改善注塑空洞的揉捏合设备，包括水平设置的搅拌桶；预搅拌区域安装在搅拌桶的入料区域上；细搅拌区域设置在搅拌桶位于预搅拌区域的出料方向上，沿着出料的方向轴向设置；细搅拌区域的中间段周向环形设置有加热区域；预冷却区域设置在搅...

本发明提供一种有效改善注塑空洞的材料开发系统，包括以下步骤：对新产品信息进行邀请，并对各个参与新产品开发的部门所需要树立的研发进行安排；建立新产品研发的系统；对新产品风险进行管理，工程校准测试，并针对风险进行预防改善，以进行品质确保；对...

本发明提供一种生产车间管理看板系统，包括监控中心对车间信息进行集中控制，并即时收集车间的反馈信息；管理软件安装在监控中心中，实时监控各工位的生产信息，包括现场控制电脑、交换机、服务器、控制软件；数据采集装置将各个工位上的信息采集到系统中...

本发明提供一种PCB回流焊排气监控系统，包括风速测试仪，风速测试仪安装在抽风管道的多个监控点上，监控各个管道风速并获得数据；主板线路控制器上电连接有风速测试仪并接收来自风速测试仪提供的数据并对数据进行处理；主板线路控制器通过232通讯模...

本发明提供一种减少线宽间隙的新型基板制作流程，包括以下工序：获取原材料，原材料的上下表面带有一层铜层；在带有铜层的原材料板材上进行钻孔的操作并削弱铜层，用于打穿原材料，在原材料上形成需要的孔位结构，并对通孔四周的毛边进行有效去除；在对经...

本技术提供一种倒装贴片机芯片脱膜基座一体化装置，包括：基准座顶部开设有定向槽，基准座正中穿设有顶杆，顶杆顶部进入定向槽内与脱模顶套接触；脱模顶套底部设置有连接卡台，连接卡台沿中轴线穿设有连接孔，脱模顶套顶部开设有方槽，方槽与连接孔相通，...

本技术提供一种异形泡棉运输结构，包括定位板上开设有导料槽，导料槽一侧设置有基准装置；X轴移动装置设置在定位板上，位于导料槽后方；Z轴移动装置架设在X轴移动装置上；抓取装置底部位于导料槽上方，顶部与Z轴移动装置相连，抓取装置由Z轴移动装置...

本技术公开了一种半导体晶圆检测装置，包括:承载台；螺纹移动组件，所述螺纹移动组件固定安装在承载台上侧，且用于驱动移动；旋转夹持组件，所述旋转夹持组件包括移动柱、转动组件、夹持部，所述移动柱活动套接在螺纹移动组件上，所述转动组件固定安装在...

本技术提供一种贴片机安全报警装置，包括传感器组，绿灯与传感器组的触点开关串联，绿灯和触点开关的两端并联在电源端子上；黄灯依次与延时继电器触点KT‑1和传感器组的触点开关串联，两端再并联在电源端子上；延时继电器KT1的一端连接在电源端子上...

本技术公开了一种电路板定位装置，包括，工作台；转动夹持组件，所述转动夹持组件包括固定台、第一转轴、第一锥齿轮、第二锥齿轮、第二转轴、把手，所述固定台设置在工作台的顶部，所述第一转轴套接在工作台顶部所开设的槽中，且顶端固连接在固定台的底部...

本技术公开了一种用于测试半导体的调节装置，包括底座；伸缩杆，伸缩杆的底部与底座的顶部固定连接；固定板，固定板的底部与底座的顶部固定连接；工作台，工作台的底部与伸缩杆的顶部固定连接，用于对半导体进行加工作业；固定台，固定台的底部与工作台的...

本技术公开了一种晶圆半导体加工用清洗装置，包括贮液罐，贮液罐用于放置清水或清洗溶液；支撑架，支撑架设置在贮液罐的两侧；第一电机，第一电机的两侧与支撑架远离贮液罐的一端固定连接；电动伸缩杆，电动伸缩杆的顶端与第一电机的驱动轴固定连接，第一...

本技术提供一种DRAM芯片DDR5大容量内存条，包括：基板；运行芯片模块设置在基板的A面上；DRAM动态随机存取存储器设置在基板与运行芯片模块相反的B面上；控制芯片穿设在基板A面上位于运行芯片模块正中与运行芯片模块相连；所述连接读取装置...

本技术提供一种在封装产品表面进行印字工程的机构及封装产品，包括激光光源；X轴反射镜和Y轴反射镜，所述X轴反射镜和Y轴反射镜位于激光光源的下方高低且相对设置，对应光路设置；所述平场透镜设置在Y轴反射镜折射后光路的下方，基板的上方；所述X轴...

本技术提供一种低成本可改善弯曲的基板结构，包括从上到下依次设置的贴芯片面端、芯板和贴锡球端；贴芯片面端包括沿着远离芯板方向设置的一号铜层和一号掩膜层；贴锡球端包括沿着远离芯板方向设置的二号铜层和二号掩膜层；贴芯片面端顶部上安装的芯片面积...

本技术提供一种新型的物料盒平推装置，包括平推杆平行且靠近被推物料盒的侧面上；导向条平行于平推杆设置，且安装在平推杆上，位于平推杆远离被推物料盒的一侧上；缓冲导向单元安装在平推杆和导向条上，当平推杆和导向条之间形成相对运动时形成两者之间的...

本技术提供一种自动化学分析设备，包括：分析箱由四周侧壁组成中空的腔体，所述腔体正中设置有样品放置板，样品放置板把腔体顶部和底部隔开分为反应仓与废酸收集仓；喷淋系统一侧设置在反应仓内，喷淋系统另一侧设置在分析箱一侧；强酸箱设置在分析箱的一...

本发明提供一种半导体测试芯片测试结果分布时序图，包括源数据捕获系统捕捉加工区内设备的加工数据，将源数据传输至IT内；IT接收源数据捕获系统传输的源数据，通过IT内的数据整合系统将芯片的检测数据进行有序排列，经过压缩后传输至服务器端；服务...

本发明提供一种杜绝人为失误的电算系统和方法，包括EQP设备、设备自动化系统、数据库终端、RMS系统和制造执行系统，在EQP设备上对参数进行调试，并由EQP设备将数据信息上传到设备自动化系统上；打开RMS系统，选择需要调试参数的模块界面；...

本发明提供一种半导体制造智能系统轻量高效开发方法，包括企业级管理系统；部门级Web系统，部门级Web系统根据每个部门不同的需求在企业级管理系统下，使用统一框架进行开发；部门程序，部门程序由流程化自动机器自动生成。本发明开发流程灵活，面对...