高低温、高低电压内存模拟测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了高低温、高低电压内存模拟测试系统，其包括：多个测试板，其分别连接被测内存，用于测试被测内存；控制显示器，分别与所述多个测试板相连，用于显示所述多个测试板的测试结果。本实用新型专利技术能够实现批量化生产需要，在有限的空间内最大化安装测试板数量；一台控制显示器，能够实现对所有测试板控制，实现同一程序、同一标准；测试温度实时查看，测试电压实时查看；测试板可根据产品的不同更换或者更新，实用性强，能够保证内存使用的稳定性。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及半导体模组技术，特别是涉及ー种高低温、高低电压内存模拟测试系统。
技术介绍
电脑用内存在很多领域已经是必不可少的ー个配件，但是市场上同类产品的性能与稳定性无法得到保障，电脑使用过程中经常出现蓝屏、报错等死机现象，原因在于内存没有进行全面的测试。随着内存容量与频率的提高，其发热量也随之大大提高，因此，在长时间使用或者高温环境使用中，内存芯片容易出现数据存储错误的情况，甚至有的不合格产品出现芯片烧毁的情況。内存正常工作电压为I. 5V，如果电源输出电压不能保持稳定，很容易造成电脑数据交换错误，造成非常大的损失。电脑内存DRAM(Dynamic Random Access Memory,动态随机存取存储器)芯片内部存在几亿个晶体管，内存没有经过严格的全面的测试，不能讲不良的产品选别出来，那消费者使用过程中报错，死机现象等数据存储错误的现象就会经常发生。
技术实现思路
(一 )要解决的技术问题本技术要解决的技术问题是如何确保电脑用内存芯片在高低温、高低电压变化情形下能够正常工作。( ニ )技术方案为了解决上述技术问题，本技术提供ー种高低温、高低电压内存模拟测试系统，其包括多个测试板，其分别连接被测内存，用于测试被测内存；控制显示器，分别与所述多个测试板相连，用于显示所述多个测试板的测试結果。其中，每个所述测试板上连接有温度控制模块，用于调整每个所述测试板的测试温度。其中，每个所述测试板上连接有电压控制模块，用于调整每个所述测试板的测试电压。其中，还包括多个电压及温度显示模块，分别与每个所述测试板的温度控制模块和电压控制模块相连，以显示每个测试板的测试温度和测试电压。其中，还包括电源，与所述多个测试板和控制显示器相连，进行供电。其中，还包括电源主开关，与所述电源相连，用于控制电源的开或关；多个电源分开关，分别与每个测试板相连，控制每个测试板供电的通或断。(三)有益效果上述技术方案所提供的高低温、高低电压内存模拟测试系统，该系统能够实现批量化生产需要，在有限的空间内最大化安装测试板数量；一台控制显示器，能够实现对所有测试板控制，实现同一程序、同一标准；测试温度实时查看，测试电压实时查看；测试板可根据产品的不同更换或者更新，实用性强，能够保证内存使用的稳定性。附图说明图I是本技术实施例的高低温、高低电压内存模拟测试系统的结构示意图。具体实施方式以下结合附图和实施例，对本技术的具体实施方式作进ー步详细描述。以下实施例用于说明本技术，但不用来限制本技术的范围。图I示出了本实施例的高低温、高低电压内存模拟测试系统的结构示意图，參照图示，其包括多个测试板，其分别连接被测内存，用于测试被测内存；控制显示器，分别与所述多个测试板相连，用于显示所述多个测试板的测试結果。为了测试内存在不同温度和电压条件下的稳定性，每个所述测试板上连接有温度 控制模块，用于调整每个所述测试板的测试温度；每个所述测试板上还连接有电压控制模块，用于调整每个所述测试板的测试电压。并且，为了测试方便，还设置有多个电压及温度显示模块，分别与每个所述测试板的温度控制模块和电压控制模块相连，以显示每个测试板的测试温度和测试电压。本实施例测试系统还包括电源，与所述多个测试板和控制显示器相连，进行供电。为了能够实现整体控制和独立控制，本实施例测试系统设置有电源主开关，与所述电源相连，用于控制电源的开或关；还设置有多个电源分开关，分别与每个测试板相连，控制每个测试板供电的通或断。本实施例测试系统通过各种编码，对内存每ー个单元进行数据读写，内存芯片不良类型检出率达到99. 7%以上；本系统实现内存在高低温(10°C 65°C )环境下高速数据存储，确保内训产品在极端环境下的工作稳定性；本系统对内存电压进行自动阶梯式变化(I. 42V I. 58V)，确保测试过的产品在电压变换的情况下也能正常工作；本系统能够根据产品种类，自动匹配下载测试程序，自动设置测试条件，且将测试详细结果写入内存Sro(SH)是SERIAL PRESENCE DETECT的缩写，中文意思是模组存在的串行检测，也即是通过IIC 串行接 ロ 的 EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory,电可擦可编程只读存储器)对内存插槽中的模组存在的信息检查)中，使得产品信息可追溯性。由以上实施例可以看出，本技术实施例能够实现批量化生产需要，在有限的空间内最大化安装测试板数量；一台控制显示器，能够实现对所有测试板控制，实现同一程序、同一标准；测试温度实时查看，测试电压实时查看；测试板可根据产品的不同更换或者更新，实用性強，能够保证内存使用的稳定性。以上所述仅是本技术的优选实施方式，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本技术技术原理的前提下，还可以做出若干改进和替换，这些改进和替换也应视为本技术的保护范围。权利要求1.一种高低温、高低电压内存模拟测试系统，其特征在于，包括多个测试板，其分别连接被测内存，用于测试被测内存；控制显示器，分别与所述多个测试板相连，用于显示所述多个测试板的测试结果。2.如权利要求I所述的高低温、高低电压内存模拟测试系统，其特征在于，每个所述测试板上连接有温度控制模块，用于调整每个所述测试板的测试温度。3.如权利要求2所述的高低温、高低电压内存模拟测试系统，其特征在于，每个所述测试板上连接有电压控制模块，用于调整每个所述测试板的测试电压。4.如权利要求3所述的高低温、高低电压内存模拟测试系统，其特征在于，还包括多个电压及温度显示模块，分别与每个所述测试板的温度控制模块和电压控制模块相连，以显示每个测试板的测试温度和测试电压。5.如权利要求I所述的高低温、高低电压内存模拟测试系统，其特征在于，还包括电源，与所述多个测试板和控制显示器相连，进行供电。6.如权利要求5所述的高低温、高低电压内存模拟测试系统，其特征在于，还包括电源主开关，与所述电源相连，用于控制电源的开或关；多个电源分开关，分别与每个测试板相连，控制每个测试板供电的通或断。专利摘要本技术公开了高低温、高低电压内存模拟测试系统，其包括多个测试板，其分别连接被测内存，用于测试被测内存；控制显示器，分别与所述多个测试板相连，用于显示所述多个测试板的测试结果。本技术能够实现批量化生产需要，在有限的空间内最大化安装测试板数量；一台控制显示器，能够实现对所有测试板控制，实现同一程序、同一标准；测试温度实时查看，测试电压实时查看；测试板可根据产品的不同更换或者更新，实用性强，能够保证内存使用的稳定性。文档编号G11C29/56GK202650549SQ20122018313公开日2013年1月2日 申请日期2012年4月27日 优先权日2012年4月27日专利技术者沈泽斌, 陶宗明, 王一, 刘欣, 蔡燕, 唐奇胜 申请人:海太半导体(无锡)有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高低温、高低电压内存模拟测试系统，其特征在于，包括：多个测试板，其分别连接被测内存，用于测试被测内存；控制显示器，分别与所述多个测试板相连，用于显示所述多个测试板的测试结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：沈泽斌，陶宗明，王一，刘欣，蔡燕，唐奇胜，
申请(专利权)人：海太半导体无锡有限公司，
类型：实用新型
国别省市：