【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体模组技术，特别是涉及ー种高低温、高低电压内存模拟测试系统。
技术介绍
电脑用内存在很多领域已经是必不可少的ー个配件，但是市场上同类产品的性能与稳定性无法得到保障，电脑使用过程中经常出现蓝屏、报错等死机现象，原因在于内存没有进行全面的测试。随着内存容量与频率的提高，其发热量也随之大大提高，因此，在长时间使用或者高温环境使用中，内存芯片容易出现数据存储错误的情况，甚至有的不合格产品出现芯片烧毁的情況。内存正常工作电压为I. 5V，如果电源输出电压不能保持稳定，很容易造成电脑数据交换错误，造成非常大的损失。电脑内存DRAM(Dynamic Random Access Memory,动态随机存取存储器)芯片内部存在几亿个晶体管，内存没有经过严格的全面的测试，不能讲不良的产品选别出来，那消费者使用过程中报错，死机现象等数据存储错误的现象就会经常发生。
技术实现思路
(一 )要解决的技术问题本技术要解决的技术问题是如何确保电脑用内存芯片在高低温、高低电压变化情形下能够正常工作。( ニ )技术方案为了解决上述技术问题，本技术提供ー种高低温、高低电压内存模拟测试系统，...
【技术保护点】
一种高低温、高低电压内存模拟测试系统，其特征在于，包括：多个测试板，其分别连接被测内存，用于测试被测内存；控制显示器，分别与所述多个测试板相连，用于显示所述多个测试板的测试结果。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：沈泽斌，陶宗明，王一，刘欣，蔡燕，唐奇胜，
申请(专利权)人：海太半导体无锡有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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