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本实用新型公开了高低温、高低电压内存模拟测试系统，其包括：多个测试板，其分别连接被测内存，用于测试被测内存；控制显示器，分别与所述多个测试板相连，用于显示所述多个测试板的测试结果。本实用新型能够实现批量化生产需要，在有限的空间内最大化安装测...
该专利属于海太半导体(无锡)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海太半导体(无锡)有限公司授权不得商用。

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