一种内存可靠性测试方法技术

本发明专利技术提供一种内存可靠性测试方法，其具体测试步骤为：准备测试硬件平台：准备测试主机平台、预测试的内存条以及在测试主机上安装操作系统和测试软件，并将VID拨码开关电路接入主板上内存VR控制器；将测试平台置于高温环境中，通过拨码开关设置至少两组内存的供电电压，开始测试；不同电压环境下分别测试至少24小时，该不同电压环境下的测试时间相同，全部运行完成后，检查内部文件中记录的内存报错提示并记录，结束测试。该内存可靠性测试方法和现有技术相比，具有设计合理、结构简单、使用方便等特点，将拨码开关电路引入到内存可靠性测试中,改变原来无法直接对内存电压按照需求直接进行调整的不足，适用性强。?

【技术实现步骤摘要】
一种内存可靠性测试方法
本专利技术涉及计算机配件测试方法，具体的说是一种测试全面、电压可调的内存可靠性测试方法。
技术介绍
目前业界在内存可靠性测试中，多在高温环境中采用针对主机输入端电压进行拉偏，同时整个主机持续运行针对内存的读、写压力程序，来评测主机搭配内存的可靠性。而所有主板在设计时内存都有各自的VR电路，无论板子的输入电压在允许的范围内出现负压或高压的情况，VR电路都会调整已保证以一个相对稳定电压值给内存供电，因此目前的业界针对内存可靠性的测试方法存在局限性。
技术实现思路
本专利技术的技术任务是解决现有技术的不足，提供一种过程简单、通过调整电压完成内存内存可靠性测试的方法。本专利技术的技术方案是按以下方式实现的，该一种内存可靠性测试方法，其具体步骤为：1）准备测试硬件平台：准备测试主机平台、预测试的内存条以及在测试主机上安装操作系统和测试软件，并将VID拨码开关电路接入主板上内存VR控制器；2）将测试平台置于高温环境中，通过拨码开关调整至少两组内存的供电电压，开始测试；3）不同电压环境下分别测试至少24小时，该不同电压环境下的测试时间相同，全部运行完成后，检查内部文件中记录的内本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种内存可靠性测试方法，其特征在于其具体测试步骤为：1）准备测试硬件平台：准备测试主机平台、预测试的内存条以及在测试主机上安装操作系统和测试软件，并将VID拨码开关电路接入主板上内存VR控制器；2）将测试平台置于高温环境中，通过拨码开关设置至少两组内存的供电电压，开始测试；3）不同电压环境下分别测试至少24小时，该不同电压环境下的测试时间相同，全部运行完成后，检查内部文件中记录的内存报错提示并记录，结束测试。

【技术特征摘要】
1.一种内存可靠性测试方法，其特征在于其具体测试步骤为：1）准备测试硬件平台：准备测试主机平台、预测试的内存条以及在测试主机上安装操作系统和测试软件，并将VID拨码开关电路接入主板上内存VR控制器；该VID拨码开关电路与VR控制器之间的连接电路包括拨码开关、VR控制器、两个P沟道MOS、保护电阻L和电容C，其具体连接方式为：在电压输入端与VR控制器之间接入一MOS管，该MOS管的栅极连接VR控制器、漏极连接电压输入端、源极连接第二MOS管的漏极和电阻L的输入端，所述第二MOS管的栅极连接VR控制器、源极连接地和电容C的输入端，所述电阻的输出端、电容输出端均连接电压输出端；上述VR控制器还连接有拨码开关；2）将测试平台置于高温环境中，通过拨码开关设置至少两组内存的供电电压，开始测试，该高温环境是指40℃以上的环境；3）不同电压环境下分别测试至少24小时，该不同电压环境下的测试时间相同，全部运行完成后，检查内部文件中记录的内存报错提示并记录，结束测试。2.根据权利要求1所述的一种内存可靠性测试方法，其特征在于：所述步骤2）中拨码开关设置并调整的内存供电电...

【专利技术属性】
技术研发人员：王磊，王守昊，
申请(专利权)人：浪潮电子信息产业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：